This HTML5 document contains 48 embedded RDF statements represented using HTML+Microdata notation.

The embedded RDF content will be recognized by any processor of HTML5 Microdata.

Namespace Prefixes

PrefixIRI
n15http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/typAkce/
dctermshttp://purl.org/dc/terms/
n20http://purl.org/net/nknouf/ns/bibtex#
n16http://localhost/temp/predkladatel/
n12http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/riv/tvurce/
n5http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/
n17http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/zamer/
shttp://schema.org/
skoshttp://www.w3.org/2004/02/skos/core#
n3http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/
n2http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/vysledek/
rdfhttp://www.w3.org/1999/02/22-rdf-syntax-ns#
n14http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/vysledek/RIV%2F00216224%3A14310%2F04%3A00010940%21RIV08-MSM-14310___/
n10http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/klicoveSlovo/
n18http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/duvernostUdaju/
xsdhhttp://www.w3.org/2001/XMLSchema#
n19http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/aktivita/
n11http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/jazykVysledku/
n9http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/druhVysledku/
n6http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/obor/
n7http://reference.data.gov.uk/id/gregorian-year/

Statements

Subject Item
n2:RIV%2F00216224%3A14310%2F04%3A00010940%21RIV08-MSM-14310___
rdf:type
n5:Vysledek skos:Concept
dcterms:description
Analyzovali jsme infračervená spektra propustnosti Czochralského křemíku. Díky měrení na teplotě kapalného dusíku jsme identifikovali příspěvek kyslíkových precipitátů různých tvarů. Pro určení tvaru, objemového podílu a stechiometrie precipitátů byl použit model efektivního prostředí. Byly měřeny standartní a dusíkem legované vzorky; pozorovali jsme příznivý vliv dusíku na precipitaci kyslíku. We have analysed infrared transmittance spectra of Czochralski silicon. Using measurements at liquid nitrogen temperature we have identified the contribution of oxygen precipitates of different shapes. An effective-medium model of average dielectric constant has been used to determine the shape, volume fraction and stoichiometry of the precipitates. Standard and nitrogen-doped samples have been measured; we have observed a favourable influence of nitrogen on oxygen precipitation. We have analysed infrared transmittance spectra of Czochralski silicon. Using measurements at liquid nitrogen temperature we have identified the contribution of oxygen precipitates of different shapes. An effective-medium model of average dielectric constant has been used to determine the shape, volume fraction and stoichiometry of the precipitates. Standard and nitrogen-doped samples have been measured; we have observed a favourable influence of nitrogen on oxygen precipitation.
dcterms:title
Infrared Absorption Spectroscopy of Oxygen Precipitates in Nitrogen-doped Czochralski Silicon Infrared Absorption Spectroscopy of Oxygen Precipitates in Nitrogen-doped Czochralski Silicon Infračervená absorpční spektroskopie kyslíkových precipitátů v dusíkem legovaném Czochralského křemíku
skos:prefLabel
Infračervená absorpční spektroskopie kyslíkových precipitátů v dusíkem legovaném Czochralského křemíku Infrared Absorption Spectroscopy of Oxygen Precipitates in Nitrogen-doped Czochralski Silicon Infrared Absorption Spectroscopy of Oxygen Precipitates in Nitrogen-doped Czochralski Silicon
skos:notation
RIV/00216224:14310/04:00010940!RIV08-MSM-14310___
n3:strany
146-150
n3:aktivita
n19:Z
n3:aktivity
Z(MSM 143100002)
n3:dodaniDat
n7:2008
n3:domaciTvurceVysledku
n12:1116029 n12:1834282 n12:9680497
n3:druhVysledku
n9:D
n3:duvernostUdaju
n18:S
n3:entitaPredkladatele
n14:predkladatel
n3:idSjednocenehoVysledku
568203
n3:idVysledku
RIV/00216224:14310/04:00010940
n3:jazykVysledku
n11:eng
n3:klicovaSlova
Infrared; Silicon; Oxygen; Precipitates; Nitrogen doping
n3:klicoveSlovo
n10:Oxygen n10:Precipitates n10:Silicon n10:Nitrogen%20doping n10:Infrared
n3:kontrolniKodProRIV
[4B2DC2A7A548]
n3:mistoKonaniAkce
Rožnov pod Radhoštěm, Česká republika
n3:mistoVydani
Rožnov pod Radhoštěm, Česká republika
n3:nazevZdroje
Proceedings of The Ninth Scientific and Business Conference SILICON 2004
n3:obor
n6:BM
n3:pocetDomacichTvurcuVysledku
3
n3:pocetTvurcuVysledku
3
n3:rokUplatneniVysledku
n7:2004
n3:tvurceVysledku
Štoudek, Richard Lorenc, Michal Humlíček, Josef
n3:typAkce
n15:WRD
n3:zahajeniAkce
2004-11-02+01:00
n3:zamer
n17:MSM%20143100002
s:numberOfPages
5
n20:hasPublisher
TECON Scientific, s.r.o.
n16:organizacniJednotka
14310