This HTML5 document contains 46 embedded RDF statements represented using HTML+Microdata notation.

The embedded RDF content will be recognized by any processor of HTML5 Microdata.

Namespace Prefixes

Prefix	IRI
n13	http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/typAkce/
n12	http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/vysledek/RIV%2F00216208%3A11320%2F04%3A00003196%21RIV%2F2005%2FMSM%2F113205%2FN/
dcterms	http://purl.org/dc/terms/
n20	http://localhost/temp/predkladatel/
n17	http://purl.org/net/nknouf/ns/bibtex#
n16	http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/riv/tvurce/
n19	http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/
n11	http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/zamer/
s	http://schema.org/
n4	http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/
skos	http://www.w3.org/2004/02/skos/core#
n2	http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/vysledek/
rdf	http://www.w3.org/1999/02/22-rdf-syntax-ns#
n9	http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/klicoveSlovo/
n6	http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/duvernostUdaju/
xsdh	http://www.w3.org/2001/XMLSchema#
n18	http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/jazykVysledku/
n10	http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/aktivita/
n15	http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/druhVysledku/
n5	http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/riv/obor/
n8	http://reference.data.gov.uk/id/gregorian-year/

Statements

Subject Item

n2:RIV%2F00216208%3A11320%2F04%3A00003196%21RIV%2F2005%2FMSM%2F113205%2FN

rdf:type

skos:Concept n19:Vysledek

dcterms:description

High-Resolution X-Ray Diffraction on Implanted Silicon Single Crystals Rtg difrakce s vysokým rozlišením na implantovaných křemíkových krystalech High-Resolution X-Ray Diffraction on Implanted Silicon Single Crystals

dcterms:title

High-Resolution X-Ray Diffraction on Implanted Silicon Single Crystals High-Resolution X-Ray Diffraction on Implanted Silicon Single Crystals Rtg difrakce s vysokým rozlišením na implantovaných křemíkových krystalech

skos:prefLabel

Rtg difrakce s vysokým rozlišením na implantovaných křemíkových krystalech High-Resolution X-Ray Diffraction on Implanted Silicon Single Crystals High-Resolution X-Ray Diffraction on Implanted Silicon Single Crystals

skos:notation

RIV/00216208:11320/04:00003196!RIV/2005/MSM/113205/N

n4:strany

P76;P76

n4:aktivita

n10:Z

n4:aktivity

Z(MSM 113200002)

n4:dodaniDat

n8:2005

n4:domaciTvurceVysledku

n16:9122427

n4:druhVysledku

n15:D

n4:duvernostUdaju

n6:S

n4:entitaPredkladatele

n12:predkladatel

n4:idSjednocenehoVysledku

566181

n4:idVysledku

RIV/00216208:11320/04:00003196

n4:jazykVysledku

n18:eng

n4:klicovaSlova

High-Resolution;X-Ray;Diffraction;Implanted;Silicon;Single;Crystals

n4:klicoveSlovo

n9:Crystals n9:Silicon n9:High-Resolution n9:X-Ray n9:Diffraction n9:Single n9:Implanted

n4:kontrolniKodProRIV

[7CE50A0493B3]

n4:mistoKonaniAkce

Praha

n4:mistoVydani

Praha

n4:nazevZdroje

7th Biennial Conference on High Resolution X-Ray Diffraction and Imaging, Book of Abstracts, September 7-10, 2004,

n4:obor

n5:BM

n4:pocetDomacichTvurcuVysledku

1

n4:pocetTvurcuVysledku

4

n4:rokUplatneniVysledku

n8:2004

n4:tvurceVysledku

Daniš, Stanislav

n4:typAkce

n13:WRD

n4:zahajeniAkce

2004-01-01+01:00

n4:zamer

n11:MSM%20113200002

s:numberOfPages

1

n17:hasPublisher

Krystalografická společnost

n20:organizacniJednotka

11320