This HTML5 document contains 39 embedded RDF statements represented using HTML+Microdata notation.

The embedded RDF content will be recognized by any processor of HTML5 Microdata.

Namespace Prefixes

PrefixIRI
n11http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/cep/typPojektu/
n17http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/cep/druhSouteze/
n9http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/cep/zivotniCyklusProjektu/
dctermshttp://purl.org/dc/terms/
n2http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/projekt/
n16http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/cep/prideleniPodpory/
n19http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/projekt/TA02010784/
n10http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/subjekt/
n14http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/
n6http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/cep/kategorie/
n12http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/cep/duvernostUdaju/
rdfshttp://www.w3.org/2000/01/rdf-schema#
skoshttp://www.w3.org/2004/02/skos/core#
n8http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/cep/obor/
n5http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/cep/fazeProjektu/
n20http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/soutez/
n7http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/cep/statusZobrazovaneFaze/
rdfhttp://www.w3.org/1999/02/22-rdf-syntax-ns#
xsdhhttp://www.w3.org/2001/XMLSchema#
n4http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/cep/
n21http://reference.data.gov.uk/id/gregorian-year/
n18http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/aktivita/

Statements

Subject Item
n2:TA02010784
rdf:type
n14:Projekt
rdfs:seeAlso
http://www.isvav.cz/projectDetail.do?rowId=TA02010784
dcterms:description
Development of new methods of design of thin film systems produced in the optics industry including film defects and original methods of characterization of these systems that will allow improving their quality. Technological changes of deposition of multilayer systems such as mirrors with high reflectance, anti-reflective coatings, beam splitters and polarizers, minimizing their imperfections namely in the ultraviolet part of the spectrum and enabling new progressive applications. Vyvinutí nových metod návrhu systémů tenkých vrstev vyráběných v optickém průmyslu zahrnujících defekty vrstev a originálních metod charakterizace těchto systémů umožňujících zdokonalení kontroly kvality. Technologické změny depozice vrstevnatých systémů vyráběných v optickém průmyslu, jako jsou zrcadla s vysokou odrazivostí, antireflexní pokrytí, děliče světla a polarizátory, minimalizující jejich nedokonalosti především v ultrafialové oblasti spektra a umožňující nové progresivní aplikace.
dcterms:title
Optimalizace vrstevnatých systémů používaných v optickém průmyslu Optimization of thin film systems used in the optics industry
skos:notation
TA02010784
n4:aktivita
n18:TA
n4:celkovaStatniPodpora
n19:celkovaStatniPodpora
n4:celkoveNaklady
n19:celkoveNaklady
n4:datumDodatniDoRIV
2015-05-05+02:00
n4:druhSouteze
n17:VS
n4:duvernostUdaju
n12:S
n4:fazeProjektu
n5:100761268
n4:hlavniObor
n8:BH
n4:kategorie
n6:AP
n4:klicovaSlova
characterization of single SiO2, HfO2, Al2O3, TiO2, MgF2 layers- including thin film defects in characterization- design of thin film systems- vacuum evaporation from thermal and electron sources- cathodic sputtering
n4:partnetrHlavni
n10:orjk%3A14310
n4:pocetKoordinujicichPrijemcu
0
n4:pocetPrijemcu
1
n4:pocetSpoluPrijemcu
3
n4:pocetVysledkuRIV
17
n4:pocetZverejnenychVysledkuVRIV
17
n4:posledniUvolneniVMinulemRoce
2014-03-07+01:00
n4:prideleniPodpory
n16:2012TA02010784
n4:sberDatUcastniciPoslednihoRoku
n21:2015
n4:sberDatUdajeProjZameru
n21:2015
n4:soutez
n20:STA02012TA02
n4:statusZobrazovaneFaze
n7:DRRVK
n4:typPojektu
n11:P
n4:ukonceniReseni
2015-12-31+01:00
n4:vedlejsiObor
n8:JJ n8:JP
n4:zahajeniReseni
2012-01-01+01:00
n4:zivotniCyklusProjektu
n9:ZBBK
n4:klicoveSlovo
Al2O3 HfO2 TiO2 characterization of single SiO2