This HTML5 document contains 36 embedded RDF statements represented using HTML+Microdata notation.

The embedded RDF content will be recognized by any processor of HTML5 Microdata.

Namespace Prefixes

PrefixIRI
n10http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/cep/typPojektu/
n15http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/cep/druhSouteze/
n6http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/cep/zivotniCyklusProjektu/
n20http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/cep/hodnoceniProjektu/
dctermshttp://purl.org/dc/terms/
n2http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/projekt/
n16http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/subjekt/
n14http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/
n11http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/cep/duvernostUdaju/
rdfshttp://www.w3.org/2000/01/rdf-schema#
skoshttp://www.w3.org/2004/02/skos/core#
n19http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/cep/fazeProjektu/
n4http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/cep/obor/
n8http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/projekt/IBS2065017/
n12http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/soutez/
n18http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/cep/statusZobrazovaneFaze/
rdfhttp://www.w3.org/1999/02/22-rdf-syntax-ns#
xsdhhttp://www.w3.org/2001/XMLSchema#
n3http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/cep/
n17http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/aktivita/
n5http://reference.data.gov.uk/id/gregorian-year/

Statements

Subject Item
n2:IBS2065017
rdf:type
n14:Projekt
rdfs:seeAlso
http://www.isvav.cz/projectDetail.do?rowId=IBS2065017
dcterms:description
The proposers team has created an original method for a %22non-charging%22 scanning electron microscopy of non-conductive speciment, based on utilization of the critical energy at which the impacting and emitted currents equal. We also designed and verified a method of measurement of the critical energy by means of recording the videosignal vs. time dependence caused by charging. In the frame of a grant project, the mothod was verified on an experimental equipment, including principles of computer control enabling one to implement the above method into micriscopical practice. The aim of this project is to elaborate the method to a level corresponding to a modern electron microscope. This includes redesigning the electron optical assembly of the cathode lens and its experimental verification, and particularly develepment of algorithms for energy measurement, data processing and image acquisition, suitable for use in the environment of a fully computer-controlled microscope. Tým navrhovatele vytvořil původní metodu %22nenabíjející%22 rastrovací elektronové mikroskopie nevodivých preparátů, spočívající ve využití kritické energie, při níž je proud emitovaných elektronů roven proudu dopadajícímu. Dále byla navržena a odzkoušena metoda měření kritické energie pomocí sledování časového průběhu videosignálu během nabíjení preparátu. V rámci grantového projektu byla metoda ověřena na experimentálním zařízení, a to včetně možnosti počítačového řízení umožňujícího rutinní nasazení metody v mikroskopické praxi. Cílemm projektu je uvedenou metodu převést do podoby odpovídající moernímu elektronovému mikroskopu. To zahrnuje nový elektronově optický návrh sestavy katodové čočky a jeho experimentální ověření, a zejména vypracování algoritmů pro realizaci a řízení procesu měření kritické energie, zpracování dat a snímání obrazu při optimální energii elektronů. Podstatné je přizpůsobit algoritmy podmínkám elektronového mikroskopu plně řízeného počítačem.
dcterms:title
Scanning electron microscopy of non-conductive specimens Rastrovací elektronová mikroskopie nevodivých vzorků
skos:notation
IBS2065017
n3:aktivita
n17:IB
n3:celkovaStatniPodpora
n8:celkovaStatniPodpora
n3:celkoveNaklady
n8:celkoveNaklady
n3:datumDodatniDoRIV
2003-06-25+02:00
n3:druhSouteze
n15:VS
n3:duvernostUdaju
n11:S
n3:fazeProjektu
n19:1177059
n3:hlavniObor
n4:JA
n3:hodnoceniProjektu
n20:V
n3:klicovaSlova
scanning electron microscopy; non-conductive specimens; SEM imaging of insulators; charging; critical energy
n3:partnetrHlavni
n16:ico%3A68081731
n3:pocetKoordinujicichPrijemcu
0
n3:pocetPrijemcu
1
n3:pocetSpoluPrijemcu
0
n3:pocetVysledkuRIV
9
n3:pocetZverejnenychVysledkuVRIV
9
n3:sberDatUcastniciPoslednihoRoku
n5:2003
n3:sberDatUdajeProjZameru
n5:2003
n3:soutez
n12:SAV0-SS2000
n3:statusZobrazovaneFaze
n18:DUU
n3:typPojektu
n10:P
n3:vedlejsiObor
n4:BM n4:FS
n3:zhodnoceni+vysledku+projektu+dodavatelem
Řešením projektu byla dopracována originální metoda elektronově mikroskopického zobrazování nevodivých vzorků, založená na kritické energii elektronů, do podoby aplikace u moderního rastrovacího elektronového mikroskopu plně řízeného počítačem.
n3:zivotniCyklusProjektu
n6:ZBKU
n3:klicoveSlovo
scanning electron microscopy SEM imaging of insulators charging non-conductive specimens