This HTML5 document contains 25 embedded RDF statements represented using HTML+Microdata notation.

The embedded RDF content will be recognized by any processor of HTML5 Microdata.

Namespace Prefixes

PrefixIRI
n15http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/cep/typPojektu/
n13http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/cep/zivotniCyklusProjektu/
dctermshttp://purl.org/dc/terms/
n2http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/projekt/
n11http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/subjekt/
n10http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/
n12http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/cep/duvernostUdaju/
skoshttp://www.w3.org/2004/02/skos/core#
rdfshttp://www.w3.org/2000/01/rdf-schema#
n8http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/cep/obor/
n7http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/cep/fazeProjektu/
n17http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/cep/statusZobrazovaneFaze/
rdfhttp://www.w3.org/1999/02/22-rdf-syntax-ns#
n9http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/projekt/IAA2065502/
xsdhhttp://www.w3.org/2001/XMLSchema#
n3http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/cep/
n14http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/aktivita/
n4http://reference.data.gov.uk/id/gregorian-year/

Statements

Subject Item
n2:IAA2065502
rdf:type
n10:Projekt
rdfs:seeAlso
http://www.isvav.cz/projectDetail.do?rowId=IAA2065502
dcterms:description
V rámci grantu 16507 byla vyvinuta metodika studia povrchů rastrovací elektronovou mikroskopií s velmi pomalými elektrony s vysokým rozlišením (SVLEEM). Projekt by měl pokračovat dalším vývojem zařízení s cílem dosáhnout toho nejzajímavějšího, což je nová oblast aplikací a srovnání obrazových kontrastů s již zavedenými komplementárními metodami pracujícími na podobné velmi nízké energii (10 eV). Jsou to zejména přímo zobrazující nizkonapěťová elektronová mikroskopie (LEEM), fotoemisní elektronová mikroskopie (PEEM) a rastrovací tunelová mikroskopie (STM). Experimentálními metodami s aplikací SVLEEM, které dosud nebyly realizovány, jsou mikroskopie nepokovených nevodivých vzorků s nulovým nabíjením na optimální velmi nízké energii s vysokým rozlišením, což je zajímavé zejména v biologii, geologii, zobrazení skel, keramik atd., a získání obrazu v temném a světlém poli krystalických vzorků, což umožňuje dynamické studium povrchové struktury. Srovnání obrazových kontrastů získaných SVLEEM s
dcterms:title
Další rozvoj mikroskopie a difrakce s velmi pomalými elektrony v rastrovacím elektronovém mikroskopu Further development of microscopy and diffraction by using very loš electrons in the scanning electron microscope
skos:notation
IAA2065502
n3:aktivita
n14:IA
n3:celkovaStatniPodpora
n9:celkovaStatniPodpora
n3:celkoveNaklady
n9:celkoveNaklady
n3:duvernostUdaju
n12:S
n3:fazeProjektu
n7:249520
n3:hlavniObor
n8:BH
n3:partnetrHlavni
n11:ico%3A68081731
n3:pocetKoordinujicichPrijemcu
0
n3:pocetPrijemcu
1
n3:pocetSpoluPrijemcu
0
n3:pocetVysledkuRIV
5
n3:pocetZverejnenychVysledkuVRIV
5
n3:sberDatUcastniciPoslednihoRoku
n4:1997
n3:sberDatUdajeProjZameru
n4:1997
n3:statusZobrazovaneFaze
n17:DRRVK
n3:typPojektu
n15:P
n3:vedlejsiObor
n8:BG n8:JH
n3:zivotniCyklusProjektu
n13:ZBK