This HTML5 document contains 33 embedded RDF statements represented using HTML+Microdata notation.

The embedded RDF content will be recognized by any processor of HTML5 Microdata.

Namespace Prefixes

PrefixIRI
n8http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/cep/druhSouteze/
n15http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/cep/zivotniCyklusProjektu/
n7http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/cep/typPojektu/
n18http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/cep/hodnoceniProjektu/
dctermshttp://purl.org/dc/terms/
n2http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/projekt/
n16http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/subjekt/
n5http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/
n4http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/projekt/IAA1065901/
n11http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/cep/duvernostUdaju/
skoshttp://www.w3.org/2004/02/skos/core#
rdfshttp://www.w3.org/2000/01/rdf-schema#
n13http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/cep/fazeProjektu/
n10http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/cep/obor/
n17http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/cep/statusZobrazovaneFaze/
rdfhttp://www.w3.org/1999/02/22-rdf-syntax-ns#
xsdhhttp://www.w3.org/2001/XMLSchema#
n3http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/cep/
n19http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/aktivita/
n12http://reference.data.gov.uk/id/gregorian-year/

Statements

Subject Item
n2:IAA1065901
rdf:type
n5:Projekt
rdfs:seeAlso
http://www.isvav.cz/projectDetail.do?rowId=IAA1065901
dcterms:description
The scanning electron microscope (SEM) is traditionally considered to be an incoherently imaging device producing topographical or material contrast in an image formed by pixels. The SEM with slow electrons equipped with the cathode lens, developed within the previous projects, enables one to use the electron energies in units or tens of eV, which corresponds to the appearance of the waveoptical contrasts in SEM. First of all, there is a question to utilize the individual diffracted beams of the LEED pattern to acquire information about the local crystallinic structure of the surface, and its development. Further wave-optical contrasts arise by the detection of the interference field of the waves reflected from terraces on both sides of surface atomic steps or from both surfaces of thin surface layers. They can be used for observation of initial phases of the film growth, for examination of multilayers (particularly in bevelled sections) by using equal-thickness fringes, etc. Rastrovací elektronový mikroskop (SEM) je tradičně považován za nekoherentně zobrazující zařízení produkující topografický resp. materiálový kontrast v obraze vytvářeném rastrováním po jednotlivých bodech. SEM s pomalými elektrony na bázi katodové čočky, vyvinutý v předchozích projektech, dovoluje použít energie elektronů v řádu jednotek až desítek eV, vhodné pro vznik vlnově optických kontrastů v SEM. Především jde o využití jednotlivých difraktovaných svazků LEED obrazce pro získání informace o lokální krystalické orientaci povrchu a jejím vývoji. Další vlnově optické kontrasty vznikají zachycením interferenčního pole vln odražených od teras po stranách povrchových atomových stupňů, resp. odražených od obou povrchů velmi tenkých povrchových vrstev. Tyto kontrasty lze využít ke studiu raných stádií růstu povrchových vrstev, ke studiu multivrstev (zejména v šikmých řezech) pomocí proužků stejné tloušťky, atd.
dcterms:title
Vlnově optické kontrasty v rastrovacím elektronovém mikroskopu Wave-optical contrasts in the scanning electron microscope
skos:notation
IAA1065901
n3:aktivita
n19:IA
n3:celkovaStatniPodpora
n4:celkovaStatniPodpora
n3:celkoveNaklady
n4:celkoveNaklady
n3:datumDodatniDoRIV
2004-10-27+02:00
n3:druhSouteze
n8:VS
n3:duvernostUdaju
n11:S
n3:fazeProjektu
n13:1067986
n3:hlavniObor
n10:BM
n3:hodnoceniProjektu
n18:U
n3:klicovaSlova
scanning electron microscope; low electron energie; wave optical contrast
n3:partnetrHlavni
n16:ico%3A68081731
n3:pocetKoordinujicichPrijemcu
0
n3:pocetPrijemcu
1
n3:pocetSpoluPrijemcu
0
n3:pocetVysledkuRIV
21
n3:pocetZverejnenychVysledkuVRIV
21
n3:sberDatUcastniciPoslednihoRoku
n12:2003
n3:sberDatUdajeProjZameru
n12:2003
n3:statusZobrazovaneFaze
n17:DUU
n3:typPojektu
n7:P
n3:vedlejsiObor
n10:JA n10:BH
n3:zhodnoceni+vysledku+projektu+dodavatelem
Byla navržena a realizována metoda zobrazení vlnově optických kontrastů v rastrovacím elektron.mikroskopu s pomalými a velmi pomalými elektrony s vysokým prostor.rozlišením. Byl studován difrakční kontrast a materiálová hloubková tomografie.
n3:zivotniCyklusProjektu
n15:ZBBKU
n3:klicoveSlovo
low electron energie scanning electron microscope