This HTML5 document contains 42 embedded RDF statements represented using HTML+Microdata notation.

The embedded RDF content will be recognized by any processor of HTML5 Microdata.

Namespace Prefixes

PrefixIRI
n7http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/cep/zivotniCyklusProjektu/
n21http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/cep/typPojektu/
n5http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/cep/druhSouteze/
n10http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/cep/hodnoceniProjektu/
dctermshttp://purl.org/dc/terms/
n2http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/projekt/
n15http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/subjekt/
n12http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/cep/prideleniPodpory/
n8http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/cep/kategorie/
n6http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/
n20http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/cep/duvernostUdaju/
skoshttp://www.w3.org/2004/02/skos/core#
rdfshttp://www.w3.org/2000/01/rdf-schema#
n22http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/cep/fazeProjektu/
n11http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/cep/obor/
n13http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/soutez/
n14http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/cep/statusZobrazovaneFaze/
rdfhttp://www.w3.org/1999/02/22-rdf-syntax-ns#
n9http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/projekt/IAA100650902/
xsdhhttp://www.w3.org/2001/XMLSchema#
n3http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/cep/
n19http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/aktivita/
n17http://reference.data.gov.uk/id/gregorian-year/

Statements

Subject Item
n2:IAA100650902
rdf:type
n6:Projekt
rdfs:seeAlso
http://www.isvav.cz/projectDetail.do?rowId=IAA100650902 http://www.isibrno.cz
dcterms:description
Rastrovací prozařovací elektronový mikroskop, pracující obvykle s energií primárního svazku elektronů nad desítkami keV, je široce užívané zařízení pro studium tenkých vzorků. Střední volné dráhy pružného (EMFP) a nepružného (EMFP) rozptylu elektronů rostou se vzrůstající energií. Průchod elektronů vzorkem určité tloušťky je tak otázkou použití dostatečně vysoké energie primárních elektronů, což může vést k radiačnímu poškození vzorku. Je-li energie primárních elektronů snižována pod 100 eV, IMFP začíná opět narůstat, avšak totéž neplatí pro EMFP. Cílem tohoto projektu je studium možností rastrovací prozařovací elektronové mikroskopie s velmi nízkou energií, kde k brždění elektronového svazku těsně nad vzorkem je použita katodová čočka. Je tak možné dosáhnout rozlišení několika nm i při energii několika eV. Studován bude hlavně vliv vzorku na průchod primárního svazku elektronů a úhlově-energiová spektroskopie prošlých elektronů. Scanning transmission electron microscope, usually operating at primary beam energies above tens of keV, is widely used for studiing of thin samples. Mean free paths of elastic (EMFP) and inelastic (IMFP) scattering of electrons increase as the primary beam energy is increased, therefore penetration of electrons through a sample of a given thickness is question of using suitably high primary energy, which leads to radiation damage. If the primary energy is lowered below 100 eV, however, IMFP grows again but the same does not hold for EMFP. The aim of this project is to study possibilities of the scanning transmission electron microscopy with very low energy, where the cathode lens decelerates the electron beam just in front of the specimen surface, securing resolution of a few nm even at the landing energy below a few eV. Influence of the thin film sample on transmission of the primary beam and spectroscopy of transmitted electrons will be examined.
dcterms:title
Scanning transmission electron microscopy with very slow electrons Rastrovací prozařovací elektronová mikroskopie s velmi pomalými elektrony
skos:notation
IAA100650902
n3:aktivita
n19:IA
n3:celkovaStatniPodpora
n9:celkovaStatniPodpora
n3:celkoveNaklady
n9:celkoveNaklady
n3:datumDodatniDoRIV
2013-06-28+02:00
n3:druhSouteze
n5:VS
n3:duvernostUdaju
n20:S
n3:fazeProjektu
n22:91835518
n3:hlavniObor
n11:BM
n3:hodnoceniProjektu
n10:U
n3:kategorie
n8:ZV
n3:klicovaSlova
scanning transmitted electron microscopy; very slow electrons; scanning electron microscopy; low energy electrons
n3:partnetrHlavni
n15:ico%3A68081731
n3:pocetKoordinujicichPrijemcu
0
n3:pocetPrijemcu
1
n3:pocetSpoluPrijemcu
0
n3:pocetVysledkuRIV
18
n3:pocetZverejnenychVysledkuVRIV
18
n3:posledniUvolneniVMinulemRoce
2011-03-18+01:00
n3:prideleniPodpory
n12:IAA100650902
n3:sberDatUcastniciPoslednihoRoku
n17:2011
n3:sberDatUdajeProjZameru
n17:2012
n3:soutez
n13:SAV02009-A
n3:statusZobrazovaneFaze
n14:DUU
n3:typPojektu
n21:P
n3:ukonceniReseni
2011-12-31+01:00
n3:vedlejsiObor
n11:BE n11:BH
n3:zahajeniReseni
2009-01-01+01:00
n3:zhodnoceni+vysledku+projektu+dodavatelem
Byla zobrazena struktura grafénu pomocí prošlých elektronů v rastrovacím elektronovém mikroskopu s velmi pomalými elektrony a vysokým prostorovým rozlišením. Byla naměřena maximální propustnost grafénu pro energii 5 eV. The graphene was imaged by transmitted electrons in the very low energy scanning electron microscope at a high lateral resolution. The maximum transmissivity was obtained at the energy 5 eV.
n3:zivotniCyklusProjektu
n7:ZBKU
n3:klicoveSlovo
very slow electrons scanning electron microscopy scanning transmitted electron microscopy