This HTML5 document contains 36 embedded RDF statements represented using HTML+Microdata notation.

The embedded RDF content will be recognized by any processor of HTML5 Microdata.

Namespace Prefixes

PrefixIRI
n14http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/cep/druhSouteze/
n17http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/cep/typPojektu/
n13http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/cep/zivotniCyklusProjektu/
n19http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/cep/hodnoceniProjektu/
dctermshttp://purl.org/dc/terms/
n2http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/projekt/
n4http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/subjekt/
n21http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/
n15http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/cep/kategorie/
n12http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/cep/duvernostUdaju/
rdfshttp://www.w3.org/2000/01/rdf-schema#
skoshttp://www.w3.org/2004/02/skos/core#
n16http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/cep/fazeProjektu/
n8http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/cep/obor/
n11http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/soutez/
n6http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/cep/statusZobrazovaneFaze/
rdfhttp://www.w3.org/1999/02/22-rdf-syntax-ns#
xsdhhttp://www.w3.org/2001/XMLSchema#
n3http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/cep/
n10http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/projekt/GA106%2F03%2F0819/
n20http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/aktivita/
n5http://reference.data.gov.uk/id/gregorian-year/

Statements

Subject Item
n2:GA106%2F03%2F0819
rdf:type
n21:Projekt
rdfs:seeAlso
http://www.isvav.cz/projectDetail.do?rowId=GA106/03/0819
dcterms:description
Hlavním cílem předkládaného projektu je studium mikrostruktury nanokrystalických tenkých vrstev jako dominantního faktoru, který ovlivňuje jejich vlastnosti. Tohoto cíle bude dosaženo pomocí komplexní charakterizace reálné struktury nanokrystalickýchmateriálů s využitím rtg. difrakce, která bude zahrnovat fázovou analýzu, stanovení mikronapětí a zbytkových napětí, a určení velikosti a přednostní orientace krystalitů. Současně s tím bude vyšetřována krystalografická anizotropie výše uvedenýchparametrů a korelována s morfologií tenkých vrstev a s anizotropií materiálových charakteristik. Rtg. difrakční měření budou doplněna výsledky XPS, GDOES, RBS, TEM a HRTEM. V rámci navrhového projektu budou vyšetřovány především nanokrystalické tenkévrstvy UN a TiBN. Nitridy uranu jsou studovány kvůli zajímavým magnetickým vlastnostem; nanokrystalické TiBN vrstvy kvůli vynikajícím mechanickým vlastnostem a dobré chemické stabilitě. Pro ověření spolehlivosti výsledků difrakčních měření budou The main goal of the research project is the investigation of the microstructure of nanocrystalline thin films as a factor, which dominantly influences the material properties. This will be performed via complex characterisation of the real structure ofnanocrystalline thin films using X-ray diffraction, which will include phase analysis, microstrain and residual stress analysis, and the analysis of the size and preferred orientation of crystallites. Additionally, the crystallographic anisotropy of theabove parameters will be investigated and related to the morphology of thin films and to the anisotropy of materials characteristics. XRD measurements will be complemented by results of XPS, GDOES, RBS, TEM and HRTEM. Within the proposed project, mainlyUN and TiBN nanocrystalline thin films will be investigated. Uranium nitrides are studied because of their interesting magnetic properties, nanocrystalline TiBN thin films due to their outstanding mechanical properties and good chemical stability. To
dcterms:title
Real structure of nanocrystalline thin films studied using X-ray diffraction Studium reálné struktury nanokrystalických tenkých vrstev pomocí rtg. difrakce
skos:notation
GA106/03/0819
n3:aktivita
n20:GA
n3:celkovaStatniPodpora
n10:celkovaStatniPodpora
n3:celkoveNaklady
n10:celkoveNaklady
n3:datumDodatniDoRIV
2009-01-15+01:00
n3:druhSouteze
n14:VS
n3:duvernostUdaju
n12:S
n3:fazeProjektu
n16:33432662
n3:hlavniObor
n8:JJ
n3:hodnoceniProjektu
n19:U
n3:kategorie
n15:ZV
n3:klicovaSlova
Neuvedeno.
n3:partnetrHlavni
n4:orjk%3A11320
n3:pocetKoordinujicichPrijemcu
0
n3:pocetPrijemcu
1
n3:pocetSpoluPrijemcu
1
n3:pocetVysledkuRIV
5
n3:pocetZverejnenychVysledkuVRIV
5
n3:rokUkonceniPodpory
n5:2005
n3:rokZahajeniPodpory
n5:2003
n3:sberDatUcastniciPoslednihoRoku
n5:2006
n3:sberDatUdajeProjZameru
n5:2006
n3:soutez
n11:SGA02003GA-ST
n3:statusZobrazovaneFaze
n6:DUU
n3:typPojektu
n17:P
n3:vedlejsiObor
n8:JK n8:BM
n3:zhodnoceni+vysledku+projektu+dodavatelem
The main goal of the proposed project, i.e. the explanation of the relationship between the real structure and microstructure of the thin film nanocomposites, the deposition technology and the material properties, through the detailed investigation of th Hlavní cíle řešeného projektu, tj. vysvětlení souvislosti mezi reálnou strukturou a mikrostrukturou tenkovrstevných nanokompozitů, depozičními podmínkami a materiálovými vlastnostmi pomocí popisu reálné struktury a mikrostruktury tenkých vrstev pomocí rt
n3:zivotniCyklusProjektu
n13:ZBKU