This HTML5 document contains 40 embedded RDF statements represented using HTML+Microdata notation.

The embedded RDF content will be recognized by any processor of HTML5 Microdata.

Namespace Prefixes

PrefixIRI
n14http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/cep/druhSouteze/
n16http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/cep/zivotniCyklusProjektu/
n11http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/cep/typPojektu/
dctermshttp://purl.org/dc/terms/
n4http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/cep/hodnoceniProjektu/
n2http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/projekt/
n19http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/subjekt/
n9http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/cep/prideleniPodpory/
n22http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/cep/kategorie/
n20http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/
n21http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/cep/duvernostUdaju/
skoshttp://www.w3.org/2004/02/skos/core#
rdfshttp://www.w3.org/2000/01/rdf-schema#
n18http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/cep/fazeProjektu/
n7http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/cep/obor/
n6http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/soutez/
n12http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/cep/statusZobrazovaneFaze/
rdfhttp://www.w3.org/1999/02/22-rdf-syntax-ns#
n10http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/projekt/GA102%2F05%2F0886/
xsdhhttp://www.w3.org/2001/XMLSchema#
n3http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/cep/
n17http://reference.data.gov.uk/id/gregorian-year/
n15http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/aktivita/

Statements

Subject Item
n2:GA102%2F05%2F0886
rdf:type
n20:Projekt
rdfs:seeAlso
http://www.isvav.cz/projectDetail.do?rowId=GA102/05/0886
dcterms:description
Environmentální rastrovací elektronová mikroskopie (EREM) se řadí k posledním trendům mikroskopických metod. Umožňuje pracovat v komoře vzorku s tlaky vyššími než ve standardním REM (cca. 103Pa oproti 10-3Pa) a pozorovat vzorky v jejich přirozeném vlhkémstavu bez předchozí preparace a bez nežádoucích nabíjecích artefaktů na jejich povrchu. Byla vyřešena celá řada problémů spojených s touto metodikou, nicméně některé nedostatky zůstávají nedořešeny. Projekt se zabývá jedním z nich - detekcí pravých sekundárních elektronů způsobem, který zcela potlačuje vliv nežádoucích zpětně odražených elektronů. Princip detekce spočívá v odsávání sekundárních elektronů ze vzorku umístěného v prostředí vysokého tlaku plynu do prostředí vysokého vakua v němž je umístěn scintilátor s vysokým elektrodovým potenciálem. Sekundární elektrony jsou odsávány pomocí nízkého elektrostatického pole do dvou komor s diferenciálně čerpaným tlakem plynu. Tyto komory jsou odděleny aperturními clonami tvořícími současně Environmental scanning electron microscopy (ESEM) belongs to the last trends of microscopic methods. It enables working in the specimen chamber with pressures higher than in a standard SEM (approx. 103Pa in comparison with 10-3Pa) and observation of specimens in their natural wet state without previous preparation. A number of problems connected with this methodology has been solved, nevertheless, several imperfections are not finished yet. The project deals with one of them - detection of true secondary electrons using a way totally suppressing the influence of undesirable backscattered electrons. The principle of the detection is the exhaust of secondary electrons from the specimen placed in the environment of high pressure of gas to the environment of high vacuum, in which the scintillator with high electrode potential is placed. The secondary electrons are exhausted using the low electrostatic field to the space of two chambers with differentially pumped pressure of gas. These chambers
dcterms:title
Investigation of the true secondary electrons detection systems in the newly conceived environmental scanning electron microscope Výzkum detekčních systémů pravých sekundárních elektronů v nově koncipovaném environmentálním rastrovacím elektronovém mikroskopu
skos:notation
GA102/05/0886
n3:aktivita
n15:GA
n3:celkovaStatniPodpora
n10:celkovaStatniPodpora
n3:celkoveNaklady
n10:celkoveNaklady
n3:datumDodatniDoRIV
2008-12-16+01:00
n3:druhSouteze
n14:VS
n3:duvernostUdaju
n21:S
n3:fazeProjektu
n18:71262534
n3:hlavniObor
n7:JA
n3:hodnoceniProjektu
n4:U
n3:kategorie
n22:ZV
n3:klicovaSlova
environmental microscope; secondary electrons; scintillation detector
n3:partnetrHlavni
n19:ico%3A68081731
n3:pocetKoordinujicichPrijemcu
0
n3:pocetPrijemcu
1
n3:pocetSpoluPrijemcu
1
n3:pocetVysledkuRIV
39
n3:pocetZverejnenychVysledkuVRIV
39
n3:posledniUvolneniVMinulemRoce
2007-05-02+02:00
n3:prideleniPodpory
n9:102%2F05%2F0886
n3:sberDatUcastniciPoslednihoRoku
n17:2007
n3:sberDatUdajeProjZameru
n17:2008
n3:soutez
n6:SGA02005GA-ST
n3:statusZobrazovaneFaze
n12:DUU
n3:typPojektu
n11:P
n3:ukonceniReseni
2007-12-31+01:00
n3:vedlejsiObor
n7:BH n7:JI
n3:zahajeniReseni
2005-01-01+01:00
n3:zhodnoceni+vysledku+projektu+dodavatelem
Řešení projektu přineslo nové poznatky v oblasti detekce sekundárních elektronů v environmentální rastrovací elektronové mikroskopii (EREM), a to jak scintilačně fotonásobičovým detektorem sekundárních elektronů, tak ionizačním a segmentovým ionizačním d The solution of the grant project brought new knowledge about the detection of secondary electrons in environmental scanning electron microscopy (ESEM) both by the scintillation-photomultiplier detectors of secondary electrons and by ionization and segme
n3:zivotniCyklusProjektu
n16:ZBKU
n3:klicoveSlovo
secondary electrons environmental microscope