This HTML5 document contains 45 embedded RDF statements represented using HTML+Microdata notation.

The embedded RDF content will be recognized by any processor of HTML5 Microdata.

Namespace Prefixes

PrefixIRI
n18http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/cep/typPojektu/
n22http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/cep/druhSouteze/
n14http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/cep/zivotniCyklusProjektu/
n12http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/cep/hodnoceniProjektu/
dctermshttp://purl.org/dc/terms/
n2http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/projekt/
n6http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/subjekt/
n5http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/cep/prideleniPodpory/
n11http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/
n10http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/cep/kategorie/
n19http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/cep/duvernostUdaju/
rdfshttp://www.w3.org/2000/01/rdf-schema#
skoshttp://www.w3.org/2004/02/skos/core#
n8http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/cep/obor/
n7http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/cep/fazeProjektu/
n21http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/soutez/
n9http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/cep/statusZobrazovaneFaze/
rdfhttp://www.w3.org/1999/02/22-rdf-syntax-ns#
xsdhhttp://www.w3.org/2001/XMLSchema#
n3http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/cep/
n16http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/projekt/FT-TA3%2F013/
n17http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/aktivita/
n13http://reference.data.gov.uk/id/gregorian-year/

Statements

Subject Item
n2:FT-TA3%2F013
rdf:type
n11:Projekt
rdfs:seeAlso
http://www.isvav.cz/projectDetail.do?rowId=FT-TA3/013
dcterms:description
*Vývoj a výroba prototypu testovacího systému využitelného pro výzkum spolehlivosti v integrovaných obvodech a plošných spojích. Zvláštní důraz je kladen na spolehlivost propojení ve vysokém proudu až do 10 A nebo více. Testovací systém se skládá ze specializovaného hardwaru a softwaru pro údržbu databází a analýzu dat. *In this project a test system to be used in investigation and research on reliability of interconnections in integrated circuits and printed circuit boards will be developed and realised. Especially the reliability of interconnections of semmiconductor chips under high current regime until 10 A or more, is emphasised. The test system consists of dedicated hardware, software for database management and for data analysis.
dcterms:title
*MERIT - Výzkum nových technologií pro kontaktování čipů integrovaných obvodů a vývoj měřicího systému pro analýzu spolehlivosti. *MERIT - Measurement environment for the reliability study of interconnection technologies.
skos:notation
FT-TA3/013
n3:aktivita
n17:FT
n3:celkovaStatniPodpora
n16:celkovaStatniPodpora
n3:celkoveNaklady
n16:celkoveNaklady
n3:datumDodatniDoRIV
2010-06-21+02:00
n3:druhSouteze
n22:VS
n3:duvernostUdaju
n19:C
n3:fazeProjektu
n7:66047746
n3:hlavniObor
n8:JA
n3:hodnoceniProjektu
n12:U
n3:kategorie
n10:AP
n3:klicovaSlova
reliability and ageing of eletrical joints; high current; test system; test equipment; test chip; hardware; software; database of functional blocks; packing and interconnections
n3:partnetrHlavni
n6:ico%3A49454242
n3:pocetKoordinujicichPrijemcu
0
n3:pocetPrijemcu
1
n3:pocetSpoluPrijemcu
1
n3:pocetVysledkuRIV
11
n3:pocetZverejnenychVysledkuVRIV
11
n3:posledniUvolneniVMinulemRoce
2009-04-22+02:00
n3:prideleniPodpory
n5:FT-TA3%2F013
n3:sberDatUcastniciPoslednihoRoku
n13:2009
n3:sberDatUdajeProjZameru
n13:2010
n3:soutez
n21:SMPO200600002
n3:statusZobrazovaneFaze
n9:DUU
n3:typPojektu
n18:P
n3:ukonceniReseni
2009-07-31+02:00
n3:vedlejsiObor
n8:JB
n3:zahajeniReseni
2006-03-01+01:00
n3:zhodnoceni+vysledku+projektu+dodavatelem
Plánovaný cíl a všechny výstupy (elektronická prezentace, článek ve sborníku, prototyp, workshop, článek v odborném časopisu) a technické parametry prototypu testovacího zařízení byly splněny. The aim and all the results (electronic presentation, article in proceedings, prototype, workshop, article in technical journal) and the technical parameters of the test system prototype have been fulfilled.
n3:zivotniCyklusProjektu
n14:ZBBKU
n3:klicoveSlovo
reliability and ageing of eletrical joints hardware database of functional blocks high current test system test chip software test equipment