This HTML5 document contains 25 embedded RDF statements represented using HTML+Microdata notation.

The embedded RDF content will be recognized by any processor of HTML5 Microdata.

Namespace Prefixes

PrefixIRI
n8http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/cep/soutez/
n5http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/cep/kategorie/
dctermshttp://purl.org/dc/terms/
n2http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/cep/projekt/MSM/
n13http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/cep/smlouva/2279/
n10http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/cep/aktivita/
n3http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/
n7http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/cep/obor/
n4http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/cep/druh-souteze/
n11http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/cep/faze/
rdfhttp://www.w3.org/1999/02/22-rdf-syntax-ns#
n9http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/cep/typ/
n6http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/cep/poskytovatel/
xsdhhttp://www.w3.org/2001/XMLSchema#

Statements

Subject Item
n2:ME10076
rdf:type
n3:Projekt
dcterms:description
V rámci projektu bude provedeno cílené uspořádání atomů do nanoklastrů na polovodičových površích. Bude provedena analýza vztahu mezi tunelovacím proudem a lokálními silami při formování chemické vazby ve spojení dalším rozvojem experimentálních a teoret Aim of this project is to design new approaches to assemble and characterize complex nanostructures on semiconductor surfaces by scanning probe microscopies. Heterogeneous atomic clusters will be created with the controlled atomic manipulation. The relation between the tunneling current and the chemical bond will be studied on the atomic scale. In this project, we plan to develop new experimental and theoretical techniques of the scanning probe microscopy. The combination both experimental and theoretical tools will open the full understanding of underlaying physical and chemical processes.
dcterms:title
Vytváření a charakterizace na atomární úrovni pomocí mikroskopu atomárních sil. Assembling and characterization at atomic scale using atomic force microscopy
n3:cislo-smlouvy
n13:2010-32
n3:druh-souteze
n4:VS
n3:faze
n11:54021800
n3:hlavni-obor
n7:BM
n3:vedlejsi-obor
n7:CF
n3:id-aktivity
n10:ME
n3:id-souteze
n8:SMSM2010ME5
n3:kategorie
n5:1
n3:klicova-slova
Atomic Force Microscope; atomic manipulations; tunneling current; Nanotechnology; DFT simulations
n3:konec-reseni
2011-12-31+01:00
n3:pocet-koordinujicich-prijemcu
0
n3:poskytovatel
n6:MSM
n3:start-reseni
2010-05-01+01:00
n3:statni-podpora
1000
n3:typProjektu
n9:P
n3:uznane-naklady
1000
n3:pocet-prijemcu
1
n3:pocet-spoluprijemcu
0
n3:pocet-vysledku
3
n3:pocet-vysledku-zverejnovanych
3