This HTML5 document contains 26 embedded RDF statements represented using HTML+Microdata notation.

The embedded RDF content will be recognized by any processor of HTML5 Microdata.

Namespace Prefixes

PrefixIRI
n11http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/cep/soutez/
n9http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/cep/kategorie/
dctermshttp://purl.org/dc/terms/
n13http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/cep/aktivita/
n3http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/
n8http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/cep/obor/
n2http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/cep/projekt/MPO/FI-IM4/
n7http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/cep/druh-souteze/
n10http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/cep/faze/
rdfhttp://www.w3.org/1999/02/22-rdf-syntax-ns#
n14http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/cep/typ/
n4http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/cep/smlouva/FI-IM4/
n6http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/cep/poskytovatel/
xsdhhttp://www.w3.org/2001/XMLSchema#
n5http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/cep/business-entity/

Statements

Subject Item
n2:162
rdf:type
n3:Projekt
dcterms:description
*The development of new type X-ray continuous strip thickness gauge. The production and verification of a prototype. *Vývoj nového typu rentgenového kontinuálního měřiče tloušťky kovového pásu. Výroba a ověření prototypu.
dcterms:title
*Rentgenový měřič tloušťky kovového pásu. *X-ray metal strip thickness gauge.
n3:cislo-smlouvy
n4:162
n3:druh-souteze
n7:VS
n3:faze
n10:37043938
n3:hlavni-obor
n8:JB
n3:vedlejsi-obor
n8:BG
n3:hlavni-ucastnik
n5:ico-25818180
n3:id-aktivity
n13:FI
n3:id-souteze
n11:SMPO200700003
n3:kategorie
n9:3
n3:klicova-slova
strip thickness; X-ray; continuous thickness gauge; metal strip rolling mill
n3:konec-reseni
2009-12-31+01:00
n3:pocet-koordinujicich-prijemcu
0
n3:poskytovatel
n6:MPO
n3:start-reseni
2007-03-01+01:00
n3:statni-podpora
4357
n3:typProjektu
n14:P
n3:uznane-naklady
10451
n3:pocet-prijemcu
1
n3:pocet-spoluprijemcu
0
n3:pocet-vysledku
1
n3:pocet-vysledku-zverejnovanych
1