This HTML5 document contains 24 embedded RDF statements represented using HTML+Microdata notation.

The embedded RDF content will be recognized by any processor of HTML5 Microdata.

Namespace Prefixes

PrefixIRI
n12http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/cep/soutez/
n6http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/cep/kategorie/
dctermshttp://purl.org/dc/terms/
n10http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/cep/aktivita/
n3http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/
n9http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/cep/obor/
n2http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/cep/projekt/GA0/GA101/00/
n5http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/cep/druh-souteze/
n4http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/cep/faze/
rdfhttp://www.w3.org/1999/02/22-rdf-syntax-ns#
n13http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/cep/typ/
n11http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/cep/poskytovatel/
xsdhhttp://www.w3.org/2001/XMLSchema#
n8http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/cep/business-entity/

Statements

Subject Item
n2:0974
rdf:type
n3:Projekt
dcterms:description
Cílem projektu je realizovat experimentální zařízení a nalézt metody využívající opticky chycenou sondu k měření sil. Optické uchycení sondy je velmi šetrné ke studovanému povrchu a umožňuje zjišťování vlastností vnitřních ploch transparentních objektů. Navrhovaným systémem bude možné měřit síly až o dva řády menší (1 pN - 100 pN) než síly, které jsou detekovatelné mikroskopem využívajícím interakce meziatomových sil (ARM). Úspěšné zjištění takto malých sil vyžaduje třírozměrnou detekci polohy sondy s přesností 1-10 nm, které lze dosáhnout kvadrantovým detektorem a dvojicí detektorů umístěných v blízkosti obrazu sondy vytvořeného optickým mikroskopem. Jako alternativního způsobu bude využito sledování změny spektra vyzařovaného opticky chyceným mikrolaserem během jeho přibližování ke studovanému povrchu. Zařízení bude sloužit ke studiu topologie povrchů a jejich optických vlastností se submikrometrových rozlišením. Navrhovatelé již zvládli vytvoření několika optických pastí. Bude proto zkoumána The objective of the project is to build up an experimental system that will employ an optically trapped probe for the measurement of the surface forces acting on the probe and for the determination of the sample topology and optical properties with subwavelength resolution. The probe can be trapped gently enough to avoid damage of sensitive objects and can be trapped inside transparent objects. This system is able to determine forces that are 2 orders of magnitude smaller (1 pN-100 pN) than the forces measured by the atomic force microscope. The detection of the trapped probe position must be carried out with high resolution (1-10 nm) so that these tiny forces could be measured. This will be done by placing a quadrant detector and a pair of detectors with pinholes near the probe image produced by an optical microscope. Monitoring the change of the spectrum emitted by an optically trapped microlaser as a function of its distance from the sample will be used as an alternative way. The
dcterms:title
Mikroskopie s lokální sondou drženou optickými silami Local probe microscopy with an optically trapped probe
n3:dalsi-vedlejsi-obor
n9:JR
n3:druh-souteze
n5:VS
n3:faze
n4:20447322
n3:hlavni-obor
n9:BH
n3:vedlejsi-obor
n9:JB
n3:hlavni-ucastnik
n8:ico-68081731
n3:id-aktivity
n10:GA
n3:id-souteze
n12:SGA02002GA-ST
n3:kategorie
n6:0
n3:klicova-slova
Neuvedeno.
n3:pocet-koordinujicich-prijemcu
0
n3:poskytovatel
n11:GA0
n3:statni-podpora
3756
n3:typProjektu
n13:P
n3:uznane-naklady
5395
n3:pocet-prijemcu
1
n3:pocet-spoluprijemcu
1
n3:pocet-vysledku
18
n3:pocet-vysledku-zverejnovanych
18