This HTML5 document contains 26 embedded RDF statements represented using HTML+Microdata notation.

The embedded RDF content will be recognized by any processor of HTML5 Microdata.

Namespace Prefixes

PrefixIRI
n13http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/cep/soutez/
n8http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/cep/kategorie/
dctermshttp://purl.org/dc/terms/
n10http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/cep/aktivita/
n3http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/
n4http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/cep/obor/
n12http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/cep/druh-souteze/
n6http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/cep/faze/
rdfhttp://www.w3.org/1999/02/22-rdf-syntax-ns#
n11http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/cep/typ/
n5http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/cep/poskytovatel/
xsdhhttp://www.w3.org/2001/XMLSchema#
n2http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/cep/projekt/AV0/
n9http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/cep/smlouva/

Statements

Subject Item
n2:IAA100650902
rdf:type
n3:Projekt
dcterms:description
Scanning transmission electron microscope, usually operating at primary beam energies above tens of keV, is widely used for studiing of thin samples. Mean free paths of elastic (EMFP) and inelastic (IMFP) scattering of electrons increase as the primary beam energy is increased, therefore penetration of electrons through a sample of a given thickness is question of using suitably high primary energy, which leads to radiation damage. If the primary energy is lowered below 100 eV, however, IMFP grows again but the same does not hold for EMFP. The aim of this project is to study possibilities of the scanning transmission electron microscopy with very low energy, where the cathode lens decelerates the electron beam just in front of the specimen surface, securing resolution of a few nm even at the landing energy below a few eV. Influence of the thin film sample on transmission of the primary beam and spectroscopy of transmitted electrons will be examined. Rastrovací prozařovací elektronový mikroskop, pracující obvykle s energií primárního svazku elektronů nad desítkami keV, je široce užívané zařízení pro studium tenkých vzorků. Střední volné dráhy pružného (EMFP) a nepružného (EMFP) rozptylu elektronů rostou se vzrůstající energií. Průchod elektronů vzorkem určité tloušťky je tak otázkou použití dostatečně vysoké energie primárních elektronů, což může vést k radiačnímu poškození vzorku. Je-li energie primárních elektronů snižována pod 100 eV, IMFP začíná opět narůstat, avšak totéž neplatí pro EMFP. Cílem tohoto projektu je studium možností rastrovací prozařovací elektronové mikroskopie s velmi nízkou energií, kde k brždění elektronového svazku těsně nad vzorkem je použita katodová čočka. Je tak možné dosáhnout rozlišení několika nm i při energii několika eV. Studován bude hlavně vliv vzorku na průchod primárního svazku elektronů a úhlově-energiová spektroskopie prošlých elektronů.
dcterms:title
Scanning transmission electron microscopy with very slow electrons Rastrovací prozařovací elektronová mikroskopie s velmi pomalými elektrony
n3:cislo-smlouvy
n9:IAA100650902
n3:dalsi-vedlejsi-obor
n4:BH
n3:druh-souteze
n12:VS
n3:faze
n6:54082158
n3:hlavni-obor
n4:BM
n3:vedlejsi-obor
n4:BE
n3:id-aktivity
n10:IA
n3:id-souteze
n13:SAV02009-A
n3:kategorie
n8:1
n3:klicova-slova
scanning transmitted electron microscopy; very slow electrons; scanning electron microscopy; low energy electrons
n3:konec-reseni
2011-12-31+01:00
n3:pocet-koordinujicich-prijemcu
0
n3:poskytovatel
n5:AV0
n3:start-reseni
2009-01-01+01:00
n3:statni-podpora
2467
n3:typProjektu
n11:P
n3:uznane-naklady
2467
n3:pocet-prijemcu
1
n3:pocet-spoluprijemcu
0
n3:pocet-vysledku
18
n3:pocet-vysledku-zverejnovanych
18