Attributes | Values |
---|
rdf:type
| |
Description
| - Předmětem výzkumného záměru je aktuální problematika moderních mikroelektronických systémů a technologií s převažující orientací na výzkum a realizaci integrovaných obvodů a jejich aplikací. Zahrnuje jak systémový tak i fyzikálnía optoelektroniku včetně systémové a materiálové diagnostiky. Záměr, který v sobě soustřeďuje okruhy základního i aplikovaného výzkumu je rozdělen do následujících osmi základních oblastí: 1. Návrh integrovaných obvodů,2. Diagnostika a testování integrov 3. Modelování a simulace integrovaných obvodů, 4. Montážní technologie, 5. Mikrosystémy, 6. Moderní obvodové principy pro integrované obvody, 7. Diagnostika materiálů a součástek, 8. Optoelektronické systémy.
- The subjects of the research plan are the topical problems of modern microelectronic systems and technologies with the major orientation to the research and realization of integrated circuits and their applications.The research plan comprises both the sy on the up-to-date microelectronics and optoelectronics including the system and material diagnostics. The research plan, which includes both fundamental and applied research topics,is divided into the following eight research areas: 1. Design of integrat2. Diagnostics and testing of integrated circuits, 3. Modelling and simulation of integrated circuits, 4. Mounting technologies, 5. Microsystems,6. Modern circuit principles for integrated circuits, 7. Diagnostics of material and devices, 8. Optoelectron (en)
|
Title
| - Research of Microelectronic Systems and Technologies (en)
- Výzkum mikroelektronických systémů a technologií
|
http://linked.open...neniPrubehuReseni
| - Terminated in consistence with the government decree No. 1165/2002. (en)
- Zastavený podle usnesení vlády č. 1165/2002. (cs)
|
http://linked.open...kovaStatniPodpora
| |
http://linked.open...ez/celkoveNaklady
| |
http://linked.open...datumDodatniDoRIV
| |
http://linked.open...vavai/cez/dodavka
| |
http://linked.open...ez/duvernostUdaju
| |
http://linked.open...in/vavai/cez/faze
| |
http://linked.open...ai/cez/hlavniObor
| |
http://linked.open...vai/cez/hodnoceni
| |
http://linked.open.../cez/kategorieVaV
| |
http://linked.open.../cez/klicovaSlova
| - Microelectronic systems and technologies; solid state physics; design, modelling and simulation of integrated circuits; high-tech applications in ICT; mounting technologies; microsystems; circuit principles for integrated circuits (en)
|
http://linked.open...icUkonceniPodpory
| |
http://linked.open...icZahajeniPodpory
| |
http://linked.open...cez/partnerHlavni
| |
http://linked.open...z/poceVysledkuRIV
| |
http://linked.open...inujicichPrijemcu
| |
http://linked.open...cez/pocetPrijemcu
| |
http://linked.open...ocetSpoluPrijemcu
| |
http://linked.open...enychVysledkuVRIV
| |
http://linked.open.../vavai/cez/resort
| |
http://linked.open...okUkonceniPodpory
| |
http://linked.open...okZahajeniPodpory
| |
http://linked.open...iciPoslednihoRoku
| |
http://linked.open...atUdajeProjZameru
| |
http://linked.open...usZobrazovaneFaze
| |
http://linked.open.../cez/vedlejsiObor
| |
http://linked.open...n/vavai/cez/zamer
| |
http://linked.open...sledkuDodavatelem
| - Nový proudový konvejor se zpětnou vazbou. Testování obvodů CMOS s nízkým napájením a příkonem. Vývoj nevakuových technologií pro konstrukci systémů. Vývoj koncentrátorů dat s přímým připojením internetu. Diagnostika materiálů a složenek. (en)
- Nový proudový konvejor se zpětnou vazbou. Testování obvodů CMOS s nízkým napájením a příkonem. Vývoj nevakuových technologií pro konstrukci systémů. Vývoj koncentrátorů dat s přímým připojením internetu. Diagnostika materiálů a složenek. (cs)
|
http://linked.open...cez/zivotniCyklus
| |
is http://linked.open...omain/vavai/zamer
of | |
is http://linked.open...n/vavai/cez/zamer
of | |