| Attributes | Values |
|---|
| rdf:type
| |
| Description
| - Investigation of selected solid-state and thin-film systems with interesting physical properties and prospective technological applications. The studies will be focused to low-dimensional semiconductor structures (superlattices, quantum dots), polymer and organic materials having important optical properties (polysililenes, phtalocyanines, among others), metallic multilayers, ferroelectric layers, and high-temperature superconductors. These materials will be studied by optical methods (e.g. ellipsometry, reflectometry) in a broad spectral range, by x-ray diffraction, reflection and diffuse x-ray scattering as well as by electrical methods (en)
- Výzkum vybraných pevnolátkových a tenkovrstevních systémů se zajímavými fundamentálními vlastnostmi, které mají zřetelný aplikační potenciál. Výzkum bude soustředěn na nízkodimenzionální polovodičové struktury (supermřížky, kvantové body), polymerní organické materiály s význačnými optickými vlastnostmi (polysilileny, ftalocyaniny), kovové multivrstvy, feroelektrické vrstvy a vysokoteplotní supravodiče. Tyto materiály se budou studovat optickými metodami (elipsometrie, reflektometrie a j.) v širokémoboru spektra, metodami rtg reflexe, difrakce a difuzním rozptylem rtg záření, jakož i elektrickými metodami.
|
| Title
| - Physical properties of new materials and layered structures (en)
- Fyzikální vlastnosti nových materiálů a vrstevnatých struktur
|
| http://linked.open...kovaStatniPodpora
| |
| http://linked.open...ez/celkoveNaklady
| |
| http://linked.open...datumDodatniDoRIV
| |
| http://linked.open...vavai/cez/dodavka
| |
| http://linked.open...ez/duvernostUdaju
| |
| http://linked.open...in/vavai/cez/faze
| |
| http://linked.open...ai/cez/hlavniObor
| |
| http://linked.open...vai/cez/hodnoceni
| |
| http://linked.open.../cez/kategorieVaV
| |
| http://linked.open.../cez/klicovaSlova
| - semiconductors; low-dimensional structures; quantum dots; organic layers; ferroelectrics; high-temperature superconductors; ellipsometry; reflectometry; x-ray diffraction; x-ray reflection (en)
|
| http://linked.open...icUkonceniPodpory
| |
| http://linked.open...icZahajeniPodpory
| |
| http://linked.open...cez/partnerHlavni
| |
| http://linked.open...z/poceVysledkuRIV
| |
| http://linked.open...inujicichPrijemcu
| |
| http://linked.open...cez/pocetPrijemcu
| |
| http://linked.open...ocetSpoluPrijemcu
| |
| http://linked.open...enychVysledkuVRIV
| |
| http://linked.open.../vavai/cez/resort
| |
| http://linked.open...okUkonceniPodpory
| |
| http://linked.open...okZahajeniPodpory
| |
| http://linked.open...iciPoslednihoRoku
| |
| http://linked.open...atUdajeProjZameru
| |
| http://linked.open...usZobrazovaneFaze
| |
| http://linked.open...n/vavai/cez/zamer
| |
| http://linked.open...sledkuDodavatelem
| - Elektrické, optické a strukturní vlastnosti látek s různou dimenzionalitou. Metody infračervené spektroskopie. (en)
- Elektrické, optické a strukturní vlastnosti látek s různou dimenzionalitou. Metody infračervené spektroskopie. (cs)
|
| http://linked.open...cez/zivotniCyklus
| |
| is http://linked.open...omain/vavai/zamer
of | |
| is http://linked.open...n/vavai/cez/zamer
of | |
![[RDF Data]](/fct/images/sw-rdf-blue.png)
![[cxml]](/fct/images/cxml_doc.png)
![[csv]](/fct/images/csv_doc.png)
![[text]](/fct/images/ntriples_doc.png)
![[turtle]](/fct/images/n3turtle_doc.png)
![[ld+json]](/fct/images/jsonld_doc.png)
![[rdf+json]](/fct/images/json_doc.png)
![[rdf+xml]](/fct/images/xml_doc.png)
![[atom+xml]](/fct/images/atom_doc.png)
![[html]](/fct/images/html_doc.png)