| Attributes | Values |
|---|
| rdf:type
| |
| Description
| - The microstrip measurement line is being used for the vector measurements of reflection and transmission coefficients of the planar microwave circuits. The measurement line uses a modular approach, and allows measurement of circuits with longitudinal dimensions 50, 100 and 150 mm and transverse dimensions 50 mm or greater. The measurement line supports measurement on substrates with thickness 0.5 and 1.5 mm as standard. However, measurement of the substrates with a smaller or larger thickness can be also performed with the use of the additional sub-spacers of the suitable thickness. The part of the hardware of the microstrip measurement line are impedance optimized transitions between the coaxial and microstrip lines. These transitions are manufactured on substrates with thickness 0.5 and 1.5 mm and have the upper frequency limit up to 18 or 26 GHz. The microstrip measurement line is also supplemented with a set OSL (open, short, match) calibration standards for substrates having thickness 0.5 and 1.5 mm. The upper frequency limit of these standards is 13 and 18 GHz. The microstrip measurement line is primarily designed for use with the TRL calibration standards (though, line1, line2, reflect). This set of standards is also manufactured on substrates having thickness 0.5 and 1.5 mm and covers frequency range up to 18 and 26 GHz. The microstrip measurement line is suitable for broadband measurements of the complex permittivity of microwave substrates ranging from 1 to 18 GHz (resp. up to 26 GHz) depending on the thickness of the microwave substrate. (en)
- Toto mikropáskové měřící vedení slouží k vektorovému měření koeficientu odrazu S11 a prostupu S21 planárních mikrovlnných obvodů. Vedení je konstruováno modulárně, a umožňuje měřit obvody s podélnými rozměry 50, 100 a 150 mm a příčným rozměrem 50 mm nebo větším. Standardně vedení podporuje měření na substrátech tloušťky od 0.5 mm do 1.5 mm. Měření pro menší nebo větší tloušťky substrátu je také možné provést, a to pomocí subpodložek vhodné tloušťky. Pro měřící mikropáskové vedení byly navrženy impedančně přizpůsobené přechody mezi koaxiálním a mikropáskovým vedením na substrátech 0.5 a 1.5 mm s kmitočtovým rozsahem do 18 a 26 GHz. Součástí vyrobeného vedení jsou také kalibrační standardy Open, Short, Match pro substráty 1.5 a 0.5 mm. Jejich kmitočtový rozsah se pohybuje okolo 13 a 18 GHz. Mikropáskové měřící vedení je primárně určeno pro měření se skupinou TRL kalibračních standardů (THRU, LINE1, LINE2, REFLECT). Tato skupina TRL standardů byla vyrobena pro substráty tloušťky 0.5 a 1.5 mm a pokrývá kmitočtový rozsah do 18 resp. do 26 GHz. Měřící mikropáskové vedení je aplikačně vhodné zejména na širokopásmová měření komplexní permitivity mikrovlnných substrátů, a to v pásmu od cca. 1 GHz do 18 GHz, resp. 26 GHz podle tloušťky použitého substrátu.
- Toto mikropáskové měřící vedení slouží k vektorovému měření koeficientu odrazu S11 a prostupu S21 planárních mikrovlnných obvodů. Vedení je konstruováno modulárně, a umožňuje měřit obvody s podélnými rozměry 50, 100 a 150 mm a příčným rozměrem 50 mm nebo větším. Standardně vedení podporuje měření na substrátech tloušťky od 0.5 mm do 1.5 mm. Měření pro menší nebo větší tloušťky substrátu je také možné provést, a to pomocí subpodložek vhodné tloušťky. Pro měřící mikropáskové vedení byly navrženy impedančně přizpůsobené přechody mezi koaxiálním a mikropáskovým vedením na substrátech 0.5 a 1.5 mm s kmitočtovým rozsahem do 18 a 26 GHz. Součástí vyrobeného vedení jsou také kalibrační standardy Open, Short, Match pro substráty 1.5 a 0.5 mm. Jejich kmitočtový rozsah se pohybuje okolo 13 a 18 GHz. Mikropáskové měřící vedení je primárně určeno pro měření se skupinou TRL kalibračních standardů (THRU, LINE1, LINE2, REFLECT). Tato skupina TRL standardů byla vyrobena pro substráty tloušťky 0.5 a 1.5 mm a pokrývá kmitočtový rozsah do 18 resp. do 26 GHz. Měřící mikropáskové vedení je aplikačně vhodné zejména na širokopásmová měření komplexní permitivity mikrovlnných substrátů, a to v pásmu od cca. 1 GHz do 18 GHz, resp. 26 GHz podle tloušťky použitého substrátu. (cs)
|
| Title
| - Microstrip measurement line up to 26 GHz (en)
- Mikropáskové měřící vedení do 26 GHz
- Mikropáskové měřící vedení do 26 GHz (cs)
|
| skos:prefLabel
| - Microstrip measurement line up to 26 GHz (en)
- Mikropáskové měřící vedení do 26 GHz
- Mikropáskové měřící vedení do 26 GHz (cs)
|
| skos:notation
| - RIV/70883521:28140/12:43868822!RIV13-MSM-28140___
|
| http://linked.open...avai/predkladatel
| |
| http://linked.open...avai/riv/aktivita
| |
| http://linked.open...avai/riv/aktivity
| |
| http://linked.open...vai/riv/dodaniDat
| |
| http://linked.open...aciTvurceVysledku
| |
| http://linked.open.../riv/druhVysledku
| |
| http://linked.open...iv/duvernostUdaju
| |
| http://linked.open...onomickeParametry
| - Mikropáskové měřící vedení slouží k vektorovému měření koeficientu odrazau S11 a S21 planárních mikrovlnných obvodů. Zejména je však využíváno k širokopásmovému měření komplexní permivitivity planárních materiálů a mikrovlnných substrátů.
|
| http://linked.open...titaPredkladatele
| |
| http://linked.open...dnocenehoVysledku
| |
| http://linked.open...ai/riv/idVysledku
| - RIV/70883521:28140/12:43868822
|
| http://linked.open...terniIdentifikace
| - G/FAI/ÚEM/2012/Mikrop. vedení
|
| http://linked.open...riv/jazykVysledku
| |
| http://linked.open...vai/riv/kategorie
| |
| http://linked.open.../riv/klicovaSlova
| - microwave substarte, planar circuits, vector measurement of S11 and S21, calibration OSM, calibration TRL, permittivity, permeability (en)
|
| http://linked.open.../riv/klicoveSlovo
| |
| http://linked.open...ontrolniKodProRIV
| |
| http://linked.open.../licencniPoplatek
| |
| http://linked.open...in/vavai/riv/obor
| |
| http://linked.open...ichTvurcuVysledku
| |
| http://linked.open...cetTvurcuVysledku
| |
| http://linked.open...vavai/riv/projekt
| |
| http://linked.open...UplatneniVysledku
| |
| http://linked.open...echnickeParametry
| - Frekvenční rozsah 1 až 26 GHz. Vzorky délky 50, 100, 150 mm. Tloušťka vzorků typicky 0.5 až 1.5 mm. Při použití vhodných subpodložek lze měřit i vzorky jiné tloušťky.
|
| http://linked.open...iv/tvurceVysledku
| |
| http://linked.open...avai/riv/vlastnik
| |
| http://linked.open...itiJinymSubjektem
| |
| http://localhost/t...ganizacniJednotka
| |
![[RDF Data]](/fct/images/sw-rdf-blue.png)
![[cxml]](/fct/images/cxml_doc.png)
![[csv]](/fct/images/csv_doc.png)
![[text]](/fct/images/ntriples_doc.png)
![[turtle]](/fct/images/n3turtle_doc.png)
![[ld+json]](/fct/images/jsonld_doc.png)
![[rdf+json]](/fct/images/json_doc.png)
![[rdf+xml]](/fct/images/xml_doc.png)
![[atom+xml]](/fct/images/atom_doc.png)
![[html]](/fct/images/html_doc.png)