Scanning Probe Microscopy, a large family of microscopies, is a sensitive technique with unprecedented resolution. However, the accuracy of the measurement is strongly influenced by the setting and calibration of the apparatus. In this article, we present system analysis approach to the problem of the feedback adjustment and probe's stiffness selection. (en)
Článek popisuje systémovou analýzu mikroskopie atomárních sil s přihlédnutím k přesnosti měření.
Článek popisuje systémovou analýzu mikroskopie atomárních sil s přihlédnutím k přesnosti měření. (cs)