Článek popisuje použití indukční cívky jako senzoru pro měření tenkých vrstev. Tloušťka vrstvy je vyhodnocováno bezkontaktní metodou podle změny komplexní impedance cívky. (cs)
The paper described the using of an induction - coil as a thickness sensor of thin conductive layer. Thin film thickness is evaluated by non-contact method using the change of complex coil impedance.
The paper described the using of an induction - coil as a thickness sensor of thin conductive layer. Thin film thickness is evaluated by non-contact method using the change of complex coil impedance. (en)