About: Zařízení pro bezkontaktní měření tloušťky tenkých vodivých vrstev

Facets (new session)
Description
Metadata
Settings
- owl:sameAs
- Inference Rule:

About: Zařízení pro bezkontaktní měření tloušťky tenkých vodivých vrstev Goto Sponge NotDistinct Permalink

An Entity of Type : http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/Vysledek, within Data Space : linked.opendata.cz associated with source document(s)

Attributes	Values
rdf:type	skos:Concept http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/Vysledek
Description	Zařízení pro měření tloušťky vrstvy pomocí vyhodnocení impedance vázané indukční cívky. Zařízení pro měření tloušťky vrstvy pomocí vyhodnocení impedance vázané indukční cívky. (cs) Thin film thickness measurement using the change of complex coil impedance is a non-contact method for conductive film thickness measurement. (en)
Title	Zařízení pro bezkontaktní měření tloušťky tenkých vodivých vrstev Contactless Measurement of Thin Film Thickness (en) Zařízení pro bezkontaktní měření tloušťky tenkých vodivých vrstev (cs)
skos:prefLabel	Zařízení pro bezkontaktní měření tloušťky tenkých vodivých vrstev Contactless Measurement of Thin Film Thickness (en) Zařízení pro bezkontaktní měření tloušťky tenkých vodivých vrstev (cs)
skos:notation	RIV/68407700:21230/08:03146579!RIV09-MSM-21230___
http://linked.open...tracePatentuVzoru	2008-07-10 (xsd:date)
http://linked.open...avai/riv/aktivita	Z
http://linked.open...avai/riv/aktivity	Z(MSM6840770015)
http://linked.open...cisloPatentuVzoru	18976
http://linked.open...eleniPatentuVzoru	2008-10-13 (xsd:date)
http://linked.open...vai/riv/dodaniDat	2009
http://linked.open...aciTvurceVysledku	Papež, Václav
http://linked.open.../riv/druhVysledku	F/U - Užitný vzor
http://linked.open...iv/duvernostUdaju	S - Úplné a pravdivé údaje nepodléhající ochraně podle zvláštních právních předpisů
http://linked.open...titaPredkladatele	České vysoké učení technické v Praze / Fakulta elektrotechnická
http://linked.open...dnocenehoVysledku	406356
http://linked.open...ai/riv/idVysledku	RIV/68407700:21230/08:03146579
http://linked.open...riv/jazykVysledku	cze - čeština
http://linked.open.../riv/klicovaSlova	Thin Film Thickness (en)
http://linked.open.../riv/klicoveSlovo	Thin Film Thickness
http://linked.open...ontrolniKodProRIV	[7DE3CD7B92F3]
http://linked.open...ydaniPatentuVzoru	Praha
http://linked.open...atelePatentuVzoru	Úřad průmyslového vlastnictví
http://linked.open...in/vavai/riv/obor	JA
http://linked.open...ichTvurcuVysledku	1 (xsd:int)
http://linked.open...cetTvurcuVysledku	1 (xsd:int)
http://linked.open...UplatneniVysledku	2008
http://linked.open...ydaniPatentuVzoru	CZ - Česká republika
http://linked.open...iv/tvurceVysledku	Papež, Václav
http://linked.open...mniOchranaPatentu	E - Úřad průmyslového vlastnictví ČR
http://linked.open...avai/riv/vlastnik	ČVUT FEL
http://linked.open...itiJinymSubjektem	N - Nabytí licence není nutné (výsledek není licencován)
http://linked.open...uzitiPatentuVzoru	A - Pouze udělený nebo využívaný pouze vlastníkem
http://linked.open...n/vavai/riv/zamer	Research of Methods and Systems for Measurement of Physical Quantities and Measured Data Processing.
http://localhost/t...ganizacniJednotka	21230
is http://linked.open...avai/riv/vysledek of	Zařízení pro bezkontaktní měření tloušťky tenkých vodivých vrstev Zařízení pro bezkontaktní měření tloušťky tenkých vodivých vrstev Zařízení pro bezkontaktní měření tloušťky tenkých vodivých vrstev Zařízení pro bezkontaktní měření tloušťky tenkých vodivých vrstev

Faceted Search & Find service v1.16.118 as of Jun 21 2024

Alternative Linked Data Documents: ODE Content Formats:

RDF

ODATA

Microdata

About

OpenLink Virtuoso version 07.20.3240 as of Jun 21 2024, on Linux (x86_64-pc-linux-gnu), Single-Server Edition (126 GB total memory, 110 GB memory in use)
Data on this page belongs to its respective rights holders.
Virtuoso Faceted Browser Copyright © 2009-2024 OpenLink Software