About: Influence of Test Signal Phase Noise on High-Resolution ADC Testing

Facets (new session)
Description
Metadata
Settings
- owl:sameAs
- Inference Rule:

About: Influence of Test Signal Phase Noise on High-Resolution ADC Testing Goto Sponge NotDistinct Permalink

An Entity of Type : http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/Vysledek, within Data Space : linked.opendata.cz associated with source document(s)

Attributes	Values
rdf:type	skos:Concept http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/Vysledek
Description	The testing of high-resolution ADCs based on the majority of standardized methods requires pure sine-wave test signal. The reason of the requirement for signal's purity is that measured ADC parameters are potentially influenced by test signal imperfections such as distortion and wideband noise but also its short term frequency changes (phase noise). The influence of signal distortion and noise has already been the subject of many contributions; an analysis of phase noise, its effect on test results and possibilities of its suppression or correction are the subject of this paper. The validity of phase noise analysis and of proposed methods is also demonstrated on experimental measurements. The testing of high-resolution ADCs based on the majority of standardized methods requires pure sine-wave test signal. The reason of the requirement for signal's purity is that measured ADC parameters are potentially influenced by test signal imperfections such as distortion and wideband noise but also its short term frequency changes (phase noise). The influence of signal distortion and noise has already been the subject of many contributions; an analysis of phase noise, its effect on test results and possibilities of its suppression or correction are the subject of this paper. The validity of phase noise analysis and of proposed methods is also demonstrated on experimental measurements. (en) Většina standardizovaných metod pro měření dynamických parametrů AČ převodníků vyžaduje sinusový testovací signál. Jeho případné nedokonalosti (nejen zkreslení a širokopásmový šum, ale i krátkodobá frekvenční nestabilita) mohou významně ovlivnit výsledky těchto měření. Zatímco vliv zkreslení a širokopásmového šumu byl námětem řady předchozích příspěvků, je zde analyzován vliv fázového šumu a možnosti jeho potlačení popř. korekce. Výsledky analýzy a navržených metod byly potvrzeny řadou experimentů. (cs)
Title	Influence of Test Signal Phase Noise on High-Resolution ADC Testing Influence of Test Signal Phase Noise on High-Resolution ADC Testing (en) Vliv fázového šumu testovacího signálu při testování AČ převodníků s vysokým rozlišením (cs)
skos:prefLabel	Influence of Test Signal Phase Noise on High-Resolution ADC Testing Influence of Test Signal Phase Noise on High-Resolution ADC Testing (en) Vliv fázového šumu testovacího signálu při testování AČ převodníků s vysokým rozlišením (cs)
skos:notation	RIV/68407700:21230/07:03129817!RIV08-MSM-21230___
http://linked.open.../vavai/riv/strany	Nečíslováno
http://linked.open...avai/riv/aktivita	Z
http://linked.open...avai/riv/aktivity	Z(MSM6840770015)
http://linked.open...vai/riv/dodaniDat	2008
http://linked.open...aciTvurceVysledku	Slepička, David Roztočil, Jaroslav Komárek, Milan Suchánek, Petr Haasz, Vladimír
http://linked.open.../riv/druhVysledku	D - Článek ve sborníku
http://linked.open...iv/duvernostUdaju	S - Úplné a pravdivé údaje nepodléhající ochraně podle zvláštních právních předpisů
http://linked.open...titaPredkladatele	České vysoké učení technické v Praze / Fakulta elektrotechnická
http://linked.open...dnocenehoVysledku	426437
http://linked.open...ai/riv/idVysledku	RIV/68407700:21230/07:03129817
http://linked.open...riv/jazykVysledku	eng - angličtina
http://linked.open.../riv/klicovaSlova	ADC testing; phase noise; test signal generation (en)
http://linked.open.../riv/klicoveSlovo	ADC testing test signal generation phase noise
http://linked.open...ontrolniKodProRIV	[90ED22697B63]
http://linked.open...v/mistoKonaniAkce	Warsaw
http://linked.open...i/riv/mistoVydani	Warsaw
http://linked.open...i/riv/nazevZdroje	IMTC/2007 IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference Proceedings
http://linked.open...in/vavai/riv/obor	JA
http://linked.open...ichTvurcuVysledku	5 (xsd:int)
http://linked.open...cetTvurcuVysledku	5 (xsd:int)
http://linked.open...UplatneniVysledku	2007
http://linked.open...iv/tvurceVysledku	Slepička, David Suchánek, Petr Roztočil, Jaroslav Haasz, Vladimír Komárek, Milan
http://linked.open...vavai/riv/typAkce	WRD - Světová
http://linked.open.../riv/zahajeniAkce	2007-05-01 (xsd:date)
http://linked.open...n/vavai/riv/zamer	Research of Methods and Systems for Measurement of Physical Quantities and Measured Data Processing.
number of pages	4 (xsd:int)
http://purl.org/ne...btex#hasPublisher	IEEE
https://schema.org/isbn	978-1-4244-0588-6
http://localhost/t...ganizacniJednotka	21230
is http://linked.open...avai/riv/vysledek of	Influence of Test Signal Phase Noise on High-Resolution ADC Testing Influence of Test Signal Phase Noise on High-Resolution ADC Testing Influence of Test Signal Phase Noise on High-Resolution ADC Testing

Faceted Search & Find service v1.16.118 as of Jun 21 2024

Alternative Linked Data Documents: ODE Content Formats:

RDF

ODATA

Microdata

About

OpenLink Virtuoso version 07.20.3240 as of Jun 21 2024, on Linux (x86_64-pc-linux-gnu), Single-Server Edition (126 GB total memory, 58 GB memory in use)
Data on this page belongs to its respective rights holders.
Virtuoso Faceted Browser Copyright © 2009-2024 OpenLink Software