Attributes | Values |
---|
rdf:type
| |
Description
| - The local atomic structure of a Ga1-xMnxAs (x=0.07) layer during the annealing process was studied by means of X-ray diffuse scattering. The difference between the pair-distribution functions before and after annealing indicated the fraction of atoms that changed concentration and identified them to be exclusively interstitial atoms at the centres of gallium and/or arsenic tetrahedra in the GaMnAs unit cell.
- The local atomic structure of a Ga1-xMnxAs (x=0.07) layer during the annealing process was studied by means of X-ray diffuse scattering. The difference between the pair-distribution functions before and after annealing indicated the fraction of atoms that changed concentration and identified them to be exclusively interstitial atoms at the centres of gallium and/or arsenic tetrahedra in the GaMnAs unit cell. (en)
- Pomocí difúzního rozptylu rentgenového záření byla studována lokální atomární struktura vrstvy Ga1-xMnxAs (x=0,07) během procesu žíhání. Z rozdílu mezi párovými rozdělovacími funkcemi před a po vyžíháni je patrné, že během žíhání došlo ke snížení koncentrace intersticiálních atomů uprostřed galiových nebo arsenových tetraedrů v elementární buňce GaMnAs. (cs)
|
Title
| - Imaging of interstitial atoms in Ga1-xMnxAs layers by means of X-ray diffuse scattering
- Imaging of interstitial atoms in Ga1-xMnxAs layers by means of X-ray diffuse scattering (en)
- Zobrazení intersticiálních atomů ve vrstvách Ga1-xMnxAs pomocí difúzního rozptylu rentgenového záření (cs)
|
skos:prefLabel
| - Imaging of interstitial atoms in Ga1-xMnxAs layers by means of X-ray diffuse scattering
- Imaging of interstitial atoms in Ga1-xMnxAs layers by means of X-ray diffuse scattering (en)
- Zobrazení intersticiálních atomů ve vrstvách Ga1-xMnxAs pomocí difúzního rozptylu rentgenového záření (cs)
|
skos:notation
| - RIV/68378271:_____/08:00316613!RIV09-AV0-68378271
|
http://linked.open...avai/riv/aktivita
| |
http://linked.open...avai/riv/aktivity
| - P(GA102/06/0381), P(IAA100100529), Z(AV0Z10100521), Z(AV0Z10100523)
|
http://linked.open...iv/cisloPeriodika
| |
http://linked.open...vai/riv/dodaniDat
| |
http://linked.open...aciTvurceVysledku
| |
http://linked.open.../riv/druhVysledku
| |
http://linked.open...iv/duvernostUdaju
| |
http://linked.open...titaPredkladatele
| |
http://linked.open...dnocenehoVysledku
| |
http://linked.open...ai/riv/idVysledku
| - RIV/68378271:_____/08:00316613
|
http://linked.open...riv/jazykVysledku
| |
http://linked.open.../riv/klicovaSlova
| - GaMnAs layer; x-ray diffuse scattering; annealing (en)
|
http://linked.open.../riv/klicoveSlovo
| |
http://linked.open...odStatuVydavatele
| - GB - Spojené království Velké Británie a Severního Irska
|
http://linked.open...ontrolniKodProRIV
| |
http://linked.open...i/riv/nazevZdroje
| - Journal of Applied Crystallography
|
http://linked.open...in/vavai/riv/obor
| |
http://linked.open...ichTvurcuVysledku
| |
http://linked.open...cetTvurcuVysledku
| |
http://linked.open...vavai/riv/projekt
| |
http://linked.open...UplatneniVysledku
| |
http://linked.open...v/svazekPeriodika
| |
http://linked.open...iv/tvurceVysledku
| - Novák, Vít
- Cukr, Miroslav
- Kopecký, Miloš
- Kub, Jiří
- Olejník, Kamil
- Wright, J.
- Šourek, Zbyněk
- Busetto, E.
- Lausi, A.
|
http://linked.open...ain/vavai/riv/wos
| |
http://linked.open...n/vavai/riv/zamer
| |
issn
| |
number of pages
| |
is http://linked.open...avai/riv/vysledek
of | |