V článku jsou detailně rozebrány výsledky, rozlišení a přesnost měření mikroskopie kelvinovy síly (KFM) na vysoce vodivých (hydrogenovaných) a málo vodivých(zoxidovaných) diamantových površích (cs)
The results, resolution and accuracy of Kelvin force microscopy (KFM) on highly conductive (hydrogenated) and highly resistive (oxidized) diamond surfaces are discussed in detail
The results, resolution and accuracy of Kelvin force microscopy (KFM) on highly conductive (hydrogenated) and highly resistive (oxidized) diamond surfaces are discussed in detail (en)