Attributes | Values |
---|
rdf:type
| |
Description
| - Prezentujeme uspořádání pro polohování a interferometrické měření vzorku pro různé druhy mikroskopů s lokální sondou. Polohování významně rozšiřuje rozsah mikroskopů s lokální sondou, kde polohovací stolek nabízí nanometrové rozlišení ve všech třech osách v režimu zpětnovazební regulace s detekcí polohy kapacitními snímači. Interferometrický systém sledující polohu stolku ve všech šesti stupních volnosti zajišťuje plnou metrologickou návaznost na základní etalon délky a zlepšuje rozlišení a přesnost měření polohy. (cs)
- We present an arrangement for positioning and interferometric measurement of a sample for various types of local probe microscopes. The positioning extends significantly the field of view of the local probe microscopy where the stage allows motion with nanometer resolution in all three axes under a closed loop control with position detection via capacitive sensors. Interferometric system monitoring all six degrees of freedom of the stage ensures full metrological traceability of the positioning to the fundamental etalon of length and improves resolution and overall precision of the displacement monitoring.
- We present an arrangement for positioning and interferometric measurement of a sample for various types of local probe microscopes. The positioning extends significantly the field of view of the local probe microscopy where the stage allows motion with nanometer resolution in all three axes under a closed loop control with position detection via capacitive sensors. Interferometric system monitoring all six degrees of freedom of the stage ensures full metrological traceability of the positioning to the fundamental etalon of length and improves resolution and overall precision of the displacement monitoring. (en)
|
Title
| - Interferometric displacement measurement for local probe microscopy
- Interferometrické měření polohy pro mikroskopii s lokální sondou (cs)
- Interferometric displacement measurement for local probe microscopy (en)
|
skos:prefLabel
| - Interferometric displacement measurement for local probe microscopy
- Interferometrické měření polohy pro mikroskopii s lokální sondou (cs)
- Interferometric displacement measurement for local probe microscopy (en)
|
skos:notation
| - RIV/68081731:_____/08:00316634!RIV09-AV0-68081731
|
http://linked.open...avai/riv/aktivita
| |
http://linked.open...avai/riv/aktivity
| - P(2A-1TP1/127), P(2A-3TP1/113), P(2C06012), P(FT-TA3/133), P(GA102/07/1179), P(IAA200650504), P(LC06007), Z(AV0Z20650511)
|
http://linked.open...vai/riv/dodaniDat
| |
http://linked.open...aciTvurceVysledku
| |
http://linked.open.../riv/druhVysledku
| |
http://linked.open...iv/duvernostUdaju
| |
http://linked.open...titaPredkladatele
| |
http://linked.open...dnocenehoVysledku
| |
http://linked.open...ai/riv/idVysledku
| - RIV/68081731:_____/08:00316634
|
http://linked.open...riv/jazykVysledku
| |
http://linked.open.../riv/klicovaSlova
| - interferometry; local probe microscopy; nanometrology (en)
|
http://linked.open.../riv/klicoveSlovo
| |
http://linked.open...ontrolniKodProRIV
| |
http://linked.open...v/mistoKonaniAkce
| |
http://linked.open...i/riv/mistoVydani
| |
http://linked.open...i/riv/nazevZdroje
| - ICPM 2008 - International Conference on Precision Measurement
|
http://linked.open...in/vavai/riv/obor
| |
http://linked.open...ichTvurcuVysledku
| |
http://linked.open...cetTvurcuVysledku
| |
http://linked.open...vavai/riv/projekt
| |
http://linked.open...UplatneniVysledku
| |
http://linked.open...iv/tvurceVysledku
| - Lazar, Josef
- Číp, Ondřej
- Čížek, Martin
- Šerý, Mojmír
|
http://linked.open...vavai/riv/typAkce
| |
http://linked.open.../riv/zahajeniAkce
| |
http://linked.open...n/vavai/riv/zamer
| |
number of pages
| |
http://purl.org/ne...btex#hasPublisher
| - Technische Universität llmenau
|
https://schema.org/isbn
| |
is http://linked.open...avai/riv/vysledek
of | |