About: Metoda měření detekční účinnosti detektoru sekundárních elektronů v rastrovacím elektronovém mikroskopu

Facets (new session)
Description
Metadata
Settings
- owl:sameAs
- Inference Rule:

About: Metoda měření detekční účinnosti detektoru sekundárních elektronů v rastrovacím elektronovém mikroskopu Goto Sponge NotDistinct Permalink

An Entity of Type : http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/Vysledek, within Data Space : linked.opendata.cz associated with source document(s)

Attributes	Values
rdf:type	skos:Concept http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/Vysledek
Description	Byla vyvinuta a ověřena metodika objektivního hodnocení parametrů detektorů sekundárních elektronů v rastrovacích elektronových mikroskopech cestou měření kvantové detekční účinnosti DQE. Statické měření četnosti ztrát informaci nesoucích událostí (elektronů emitovaných ze vzorku) je založeno na statistickém vyhodnocení obrazu sejmutého z bezkontrastového preparátu. Rychlost odezvy detektoru je měřena statistickým vyhodnocením obrazu sejmutého pomocí svazku přerušovaného rychlým zatmíváním. Byla vyvinuta a ověřena metodika objektivního hodnocení parametrů detektorů sekundárních elektronů v rastrovacích elektronových mikroskopech cestou měření kvantové detekční účinnosti DQE. Statické měření četnosti ztrát informaci nesoucích událostí (elektronů emitovaných ze vzorku) je založeno na statistickém vyhodnocení obrazu sejmutého z bezkontrastového preparátu. Rychlost odezvy detektoru je měřena statistickým vyhodnocením obrazu sejmutého pomocí svazku přerušovaného rychlým zatmíváním. (cs) Methodology has been developed and proved for objective evaluation of parameters of the secondary electron detectors for scanning electron microscopes by means of measurement of the detective quantum efficiency DQE. Static measurement of the rate of losses in information bearing events (electrons emitted from the sample) is based on statistical evaluation of an image acquired with a contrast-less sample. Speed of the detector response is determined upon statistical evaluations of an image taken with the beam interrupted by fast blanking. (en)
Title	Metoda měření detekční účinnosti detektoru sekundárních elektronů v rastrovacím elektronovém mikroskopu Method for quantification of the detection efficiency of secondary electron detectors in the scanning electron microscope (en) Metoda měření detekční účinnosti detektoru sekundárních elektronů v rastrovacím elektronovém mikroskopu (cs)
skos:prefLabel	Metoda měření detekční účinnosti detektoru sekundárních elektronů v rastrovacím elektronovém mikroskopu Method for quantification of the detection efficiency of secondary electron detectors in the scanning electron microscope (en) Metoda měření detekční účinnosti detektoru sekundárních elektronů v rastrovacím elektronovém mikroskopu (cs)
skos:notation	RIV/68081731:_____/05:00047349!RIV06-AV0-68081731
http://linked.open...avai/riv/aktivita	Z
http://linked.open...avai/riv/aktivity	Z(AV0Z20650511)
http://linked.open...vai/riv/dodaniDat	2006
http://linked.open...aciTvurceVysledku	Müllerová, Ilona Frank, Luděk
http://linked.open.../riv/druhVysledku	T - Prototyp, poloprovoz, ověřená technologie (uplatněná ve výrobě atd.), SW produkt, výsledky aplikovaného výzkumu promítnuté do právních předpisů a norem
http://linked.open...iv/duvernostUdaju	S - Úplné a pravdivé údaje nepodléhající ochraně podle zvláštních právních předpisů
http://linked.open...onomickeParametry	Metoda umožňuje objektivní srovnání různých konfigurací detektorů a rovněž vyhodnocování efektu konstrukčních změn a inovací.
http://linked.open...titaPredkladatele	Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i.
http://linked.open...dnocenehoVysledku	529781
http://linked.open...ai/riv/idVysledku	RIV/68081731:_____/05:00047349
http://linked.open...terniIdentifikace	DETEFF
http://linked.open...riv/jazykVysledku	cze - čeština
http://linked.open.../riv/klicovaSlova	electron detectors; scanning electron microscope; detective quantum efficiency; secondary electrons (en)
http://linked.open.../riv/klicoveSlovo	electron detectors scanning electron microscope secondary electrons detective quantum efficiency
http://linked.open...ontrolniKodProRIV	[1D1D3BFA63C3]
http://linked.open.../licencniPoplatek	A - Poskytovatel licence na výsledek požaduje licenční poplatek
http://linked.open...okalizaceVysledku	FEI Česká republika, Brno
http://linked.open...in/vavai/riv/obor	JA
http://linked.open...ichTvurcuVysledku	2 (xsd:int)
http://linked.open...cetTvurcuVysledku	2 (xsd:int)
http://linked.open...UplatneniVysledku	2005
http://linked.open...echnickeParametry	Metoda objektivního hodnocení a postup měření kvantové detekční účinnosti detektoru sekundárních elektronů v rastrovacím elektronovém mikroskopu ve statickém režimu stabilního signálu a procedura vyhodnocení časové odezvy detektoru na signálový skok.
http://linked.open...iv/tvurceVysledku	Müllerová, Ilona Frank, Luděk
http://linked.open...avai/riv/vlastnik	Ústav přístrojové techniky AV ČR
http://linked.open...itiJinymSubjektem	A - Nabytí licence je nutné vždy
http://linked.open...n/vavai/riv/zamer	Research into experimental methods for examination of the physical properties of matter and their application in advanced technologies
is http://linked.open...avai/riv/vysledek of	Metoda měření detekční účinnosti detektoru sekundárních elektronů v rastrovacím elektronovém mikroskopu

Faceted Search & Find service v1.16.118 as of Jun 21 2024

Alternative Linked Data Documents: ODE Content Formats:

RDF

ODATA

Microdata

About

OpenLink Virtuoso version 07.20.3240 as of Jun 21 2024, on Linux (x86_64-pc-linux-gnu), Single-Server Edition (126 GB total memory, 58 GB memory in use)
Data on this page belongs to its respective rights holders.
Virtuoso Faceted Browser Copyright © 2009-2024 OpenLink Software