| Attributes | Values |
|---|
| rdf:type
| |
| Description
| - Obraz ve S(T)EM je vytvářen s využitím fokusovaného elektronového svazku, který rastruje přes velmi malou část povrchu vzorku. Scintilační detekční systém, který se skládá ze scintilátoru, světlovodu a fotoelektrického násobiče (PMT), zpracovává v každém okamžiku pouze jeden pixel obrazu. Kromě účinnosti jsou velmi důležité také kinetické vlastnosti takového systému. Kvůli špatné přeměně energie elektron-foton, popřípadě světelným ztrátám v optické části detektoru, mohou scintilační detektory vykazovat znatelné rozdíly v detekční kvantové účinnosti (DQE). Do současné doby se některé studie zabývaly měřením výkonnosti S(T)EM detektorů, přičemž zjistily velmi nízké hodnoty DQE u některých z nich, ale nebyly učiněny žádné návrhy pro optimalizaci uspořádání detektoru. K nalezení slabého místa detekčního systému musí být krok za krokem vyšetřena celá detekční trasa (cs)
- In S(T)EM an image is formed using a focused electron beam, which is scanning across a very small part of the specimen surface. A scintillation detection system consisting of a scintillator, light-guide and photomultiplier (PMT) processes only one pixel of the image at any given moment. Not only efficiency, but also kinetic properties of such a system are of great importance. Scintillation detectors can show a noticeable difference in detective quantum efficiency (DQE) due to the bad electron-photon energy conversion and/or light losses in the optical part of the detector. Up to now, some studies were engaged in measurement of S(T)EM detectors performance ascertaining very low DQE for some detectors, but no suggestion has been made to optimize the detector set-up. To find the neck of a detection system, one must examine the whole detection path step by step
- In S(T)EM an image is formed using a focused electron beam, which is scanning across a very small part of the specimen surface. A scintillation detection system consisting of a scintillator, light-guide and photomultiplier (PMT) processes only one pixel of the image at any given moment. Not only efficiency, but also kinetic properties of such a system are of great importance. Scintillation detectors can show a noticeable difference in detective quantum efficiency (DQE) due to the bad electron-photon energy conversion and/or light losses in the optical part of the detector. Up to now, some studies were engaged in measurement of S(T)EM detectors performance ascertaining very low DQE for some detectors, but no suggestion has been made to optimize the detector set-up. To find the neck of a detection system, one must examine the whole detection path step by step (en)
|
| Title
| - Experimental and Simulative Methods for Scintillation Detector Optimization
- Experimental and Simulative Methods for Scintillation Detector Optimization (en)
- Experimentální a simulační metody pro optimalizaci scintilačního detektoru (cs)
|
| skos:prefLabel
| - Experimental and Simulative Methods for Scintillation Detector Optimization
- Experimental and Simulative Methods for Scintillation Detector Optimization (en)
- Experimentální a simulační metody pro optimalizaci scintilačního detektoru (cs)
|
| skos:notation
| - RIV/68081731:_____/04:00109050!RIV/2005/GA0/A12005/N
|
| http://linked.open.../vavai/riv/strany
| |
| http://linked.open...avai/riv/aktivita
| |
| http://linked.open...avai/riv/aktivity
| |
| http://linked.open...vai/riv/dodaniDat
| |
| http://linked.open...aciTvurceVysledku
| |
| http://linked.open.../riv/druhVysledku
| |
| http://linked.open...iv/duvernostUdaju
| |
| http://linked.open...titaPredkladatele
| |
| http://linked.open...dnocenehoVysledku
| |
| http://linked.open...ai/riv/idVysledku
| - RIV/68081731:_____/04:00109050
|
| http://linked.open...riv/jazykVysledku
| |
| http://linked.open.../riv/klicovaSlova
| - scintillation detector;detective quantum efficiency;S(T)EM (en)
|
| http://linked.open.../riv/klicoveSlovo
| |
| http://linked.open...ontrolniKodProRIV
| |
| http://linked.open...v/mistoKonaniAkce
| |
| http://linked.open...i/riv/mistoVydani
| |
| http://linked.open...i/riv/nazevZdroje
| - Proceedings of the 9th International Seminar Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation
|
| http://linked.open...in/vavai/riv/obor
| |
| http://linked.open...ichTvurcuVysledku
| |
| http://linked.open...cetTvurcuVysledku
| |
| http://linked.open...vavai/riv/projekt
| |
| http://linked.open...UplatneniVysledku
| |
| http://linked.open...iv/tvurceVysledku
| - Autrata, Rudolf
- Schauer, Petr
|
| http://linked.open...vavai/riv/typAkce
| |
| http://linked.open.../riv/zahajeniAkce
| |
| number of pages
| |
| http://purl.org/ne...btex#hasPublisher
| - Ústav přístrojové techniky AV ČR
|
| https://schema.org/isbn
| |
![[RDF Data]](/fct/images/sw-rdf-blue.png)
![[cxml]](/fct/images/cxml_doc.png)
![[csv]](/fct/images/csv_doc.png)
![[text]](/fct/images/ntriples_doc.png)
![[turtle]](/fct/images/n3turtle_doc.png)
![[ld+json]](/fct/images/jsonld_doc.png)
![[rdf+json]](/fct/images/json_doc.png)
![[rdf+xml]](/fct/images/xml_doc.png)
![[atom+xml]](/fct/images/atom_doc.png)
![[html]](/fct/images/html_doc.png)