About: The composition of the image signal in the scanning low energy electron microscope

Facets (new session)
Description
Metadata
Settings
- owl:sameAs
- Inference Rule:

About: The composition of the image signal in the scanning low energy electron microscope Goto Sponge NotDistinct Permalink

An Entity of Type : http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/Vysledek, within Data Space : linked.opendata.cz associated with source document(s)

Attributes	Values
rdf:type	skos:Concept http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/Vysledek
Description	Ve střední třídě rastrovacího elektronového mikroskopu (SEM) je vzorek umístěn v prostoru téměř bez pole, poněvadž pouze zanedbatelné magnetické pole proniká mimo objektivovou čočku a jen slabé elektrostatické pole je použito pro přitažení sekundárních elektronů (SE) k bočnímu detektoru. Osově souměrné detektory zpětně odražených elektronů (BSE) se opírají o přímé trajektorie neovlivňované poli. Pokročilé SEM s vysokým rozlišením mají vzorek obvykle umístěný v silném magnetickém poli, jež významně ovlivňuje signální trajektorie - to se uplatňuje zejména při práci na nízkých energiích. Kromě toho nové detekční sestavy využívají specielní systémy elektrod vytvářejících pole sloužící k transportu signálních elektronů k %22hornímu%22 SE detektoru nebo k jiným uspořádáním nad objektivovou čočkou (cs) In a medium class scanning electron microscope (SEM) the specimen is placed in a space almost free of any field, since only a negligible magnetic field penetrates outside the objective lens and only a weak electrostatic field is used to attract secondary elections (SE) to a side detector. Coaxial detectors of backscattered electrons (BSE) rely on straight trajectories not affected by fields. Advanced high resolution SEM usually has the specimen immersed in a strong magnetic field that greatly influences the trajectories in the signal flow - this particularly applies to low energy operation. Furthermore, innovative detection assemblies employ tailored systems of field generating electrodes in order to transport signal electrons to the %22upper%22 SE detector or other arrangements above the objective lens In a medium class scanning electron microscope (SEM) the specimen is placed in a space almost free of any field, since only a negligible magnetic field penetrates outside the objective lens and only a weak electrostatic field is used to attract secondary elections (SE) to a side detector. Coaxial detectors of backscattered electrons (BSE) rely on straight trajectories not affected by fields. Advanced high resolution SEM usually has the specimen immersed in a strong magnetic field that greatly influences the trajectories in the signal flow - this particularly applies to low energy operation. Furthermore, innovative detection assemblies employ tailored systems of field generating electrodes in order to transport signal electrons to the %22upper%22 SE detector or other arrangements above the objective lens (en)
Title	The composition of the image signal in the scanning low energy electron microscope Složení obrazového signálu v rastrovacícm nízko-energiovém elektronovém mikroskopu (cs) The composition of the image signal in the scanning low energy electron microscope (en)
skos:prefLabel	The composition of the image signal in the scanning low energy electron microscope Složení obrazového signálu v rastrovacícm nízko-energiovém elektronovém mikroskopu (cs) The composition of the image signal in the scanning low energy electron microscope (en)
skos:notation	RIV/68081731:_____/04:00109028!RIV/2005/AV0/A12005/N
http://linked.open.../vavai/riv/strany	323;324
http://linked.open...avai/riv/aktivita	P
http://linked.open...avai/riv/aktivity	P(IAA1065901)
http://linked.open...vai/riv/dodaniDat	2005
http://linked.open...aciTvurceVysledku	Müllerová, Ilona Frank, Luděk
http://linked.open.../riv/druhVysledku	D - Článek ve sborníku
http://linked.open...iv/duvernostUdaju	S - Úplné a pravdivé údaje nepodléhající ochraně podle zvláštních právních předpisů
http://linked.open...titaPredkladatele	Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i.
http://linked.open...dnocenehoVysledku	558433
http://linked.open...ai/riv/idVysledku	RIV/68081731:_____/04:00109028
http://linked.open...riv/jazykVysledku	eng - angličtina
http://linked.open.../riv/klicovaSlova	scanning electron microscope;low energy electrons;image signal composition (en)
http://linked.open.../riv/klicoveSlovo	image signal composition low energy electrons scanning electron microscope
http://linked.open...ontrolniKodProRIV	[900BA305C191]
http://linked.open...v/mistoKonaniAkce	Antwerp
http://linked.open...i/riv/mistoVydani	Liege
http://linked.open...i/riv/nazevZdroje	EMC 2004 - Proceedings of the 13th European Microscopy Congress
http://linked.open...in/vavai/riv/obor	JA
http://linked.open...ichTvurcuVysledku	2 (xsd:int)
http://linked.open...cetTvurcuVysledku	2 (xsd:int)
http://linked.open...vavai/riv/projekt	Wave-optical contrasts in the scanning electron microscope
http://linked.open...UplatneniVysledku	2004
http://linked.open...iv/tvurceVysledku	Müllerová, Ilona Frank, Luděk
http://linked.open...vavai/riv/typAkce	WRD - Světová
http://linked.open.../riv/zahajeniAkce	2004-08-22 (xsd:date)
number of pages	2 (xsd:int)
http://purl.org/ne...btex#hasPublisher	Belgian Society for Microscopy

Faceted Search & Find service v1.16.118 as of Jun 21 2024

Alternative Linked Data Documents: ODE Content Formats:

RDF

ODATA

Microdata

About

OpenLink Virtuoso version 07.20.3240 as of Jun 21 2024, on Linux (x86_64-pc-linux-gnu), Single-Server Edition (126 GB total memory, 58 GB memory in use)
Data on this page belongs to its respective rights holders.
Virtuoso Faceted Browser Copyright © 2009-2024 OpenLink Software