About: Aparatura pro měření totálních hemisférických emisivit a absorptivit tepelného záření při kryogenních teplotách

Facets (new session)
Description
Metadata
Settings
- owl:sameAs
- Inference Rule:

About: Aparatura pro měření totálních hemisférických emisivit a absorptivit tepelného záření při kryogenních teplotách Goto Sponge NotDistinct Permalink

An Entity of Type : http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/Vysledek, within Data Space : linked.opendata.cz associated with source document(s)

Attributes	Values
rdf:type	skos:Concept http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/Vysledek
Description	Byla vyvinuta aparatura pro měření totálních hemisférických emisivit a absorptivit tepelného záření při kryogenních teplotách. Teplotní závislosti emisivit a absorptivit pro různé materiály je možné měřit standardně v rozsahu teplot 20 – 140 K, v některých případech lze teplotní rozsah rozšířit na 5 – 300 K. Měřené vzorky materiálů musí být rovinné s průměrem 40 mm. Obdobné měřící zařízení nebylo publikováno. Byla vyvinuta aparatura pro měření totálních hemisférických emisivit a absorptivit tepelného záření při kryogenních teplotách. Teplotní závislosti emisivit a absorptivit pro různé materiály je možné měřit standardně v rozsahu teplot 20 – 140 K, v některých případech lze teplotní rozsah rozšířit na 5 – 300 K. Měřené vzorky materiálů musí být rovinné s průměrem 40 mm. Obdobné měřící zařízení nebylo publikováno. (cs) Apparatus for the measurement of total hemispherical emissivity and absorptivity of radiative heat at cryogenic temperatures was developed. Temperature dependence of those for various materials are measured standardly at the temperature region 20 –140 K and may be enhanced to 5 –300 K in some cases. Samples of materials measured must be plane and with diameter of 40 mm. Similar measurement apparatus was not published. (en)
Title	Aparatura pro měření totálních hemisférických emisivit a absorptivit tepelného záření při kryogenních teplotách Apparatus for the measurement of total hemispherical emissivity and absorptivity of radiative heat at cryogenic temperatures (en) Aparatura pro měření totálních hemisférických emisivit a absorptivit tepelného záření při kryogenních teplotách (cs)
skos:prefLabel	Aparatura pro měření totálních hemisférických emisivit a absorptivit tepelného záření při kryogenních teplotách Apparatus for the measurement of total hemispherical emissivity and absorptivity of radiative heat at cryogenic temperatures (en) Aparatura pro měření totálních hemisférických emisivit a absorptivit tepelného záření při kryogenních teplotách (cs)
skos:notation	RIV/68081731:_____/04:00047188!RIV06-AV0-68081731
http://linked.open...avai/riv/aktivita	P
http://linked.open...avai/riv/aktivity	P(IBS2065109)
http://linked.open...vai/riv/dodaniDat	2006
http://linked.open...aciTvurceVysledku	Hanzelka, Pavel Srnka, Aleš Musilová, Věra Králík, Tomáš
http://linked.open.../riv/druhVysledku	T - Prototyp, poloprovoz, ověřená technologie (uplatněná ve výrobě atd.), SW produkt, výsledky aplikovaného výzkumu promítnuté do právních předpisů a norem
http://linked.open...iv/duvernostUdaju	S - Úplné a pravdivé údaje nepodléhající ochraně podle zvláštních právních předpisů
http://linked.open...onomickeParametry	Změřené hodnoty emisivity a absorptivity konkrétních materiálů umožňují přesný výpočet i optimalizaci navrhovaných kryogenních zařízení. Je možné realizovat měření emisivit a absorptivit vybraných materiálů na zakázku.
http://linked.open...titaPredkladatele	Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i.
http://linked.open...dnocenehoVysledku	554884
http://linked.open...ai/riv/idVysledku	RIV/68081731:_____/04:00047188
http://linked.open...terniIdentifikace	EMISTER
http://linked.open...riv/jazykVysledku	cze - čeština
http://linked.open.../riv/klicovaSlova	liquid helium; absorptivity; emissivity; heat flow; heat radiation; cryogenics (en)
http://linked.open.../riv/klicoveSlovo	heat flow absorptivity cryogenics emissivity heat radiation liquid helium
http://linked.open...ontrolniKodProRIV	[225D5BCE1747]
http://linked.open...okalizaceVysledku	ÚPT AV ČR, Brno
http://linked.open...in/vavai/riv/obor	BM
http://linked.open...ichTvurcuVysledku	4 (xsd:int)
http://linked.open...cetTvurcuVysledku	4 (xsd:int)
http://linked.open...vavai/riv/projekt	Cryogenic materials and measurement of their emissivities
http://linked.open...UplatneniVysledku	2004
http://linked.open...echnickeParametry	Zařízení umožňuje měření totální hemisférické emisivity (vzorek jako zářič) nebo absorptivity (vzorek jako přijímač) plynule v rozsahu teplot 20 – 300 K. Rovinný vzorek má tvar kruhu o průměru 40 mm.
http://linked.open...iv/tvurceVysledku	Hanzelka, Pavel Králík, Tomáš Musilová, Věra Srnka, Aleš
http://linked.open...avai/riv/vlastnik	Ústav přístrojové techniky AV ČR
http://linked.open...itiJinymSubjektem	N - Nabytí licence není nutné (výsledek není licencován)

Faceted Search & Find service v1.16.118 as of Jun 21 2024

Alternative Linked Data Documents: ODE Content Formats:

RDF

ODATA

Microdata

About

OpenLink Virtuoso version 07.20.3240 as of Jun 21 2024, on Linux (x86_64-pc-linux-gnu), Single-Server Edition (126 GB total memory, 58 GB memory in use)
Data on this page belongs to its respective rights holders.
Virtuoso Faceted Browser Copyright © 2009-2024 OpenLink Software