Povrch pinů v místě zaoblení byl hodnocen na řádkovacím elektronovém mikroskopu JEOL JSM-6490LV dodaném stavu a na vzorku odmaštěném v acetonu v ultrazvukové čističce.
Povrch pinů v místě zaoblení byl hodnocen na řádkovacím elektronovém mikroskopu JEOL JSM-6490LV dodaném stavu a na vzorku odmaštěném v acetonu v ultrazvukové čističce. (cs)
The surface of the pins in place of curvature was evaluated on a scanning electron microscope JEOL JSM-6490LV as delivered condition and after degreasing with acetone in the ultrasonic bath. (en)