| Attributes | Values |
|---|
| rdf:type
| |
| Description
| - Ramanovo spektrální mapování tenkých organických vrstev nanesených na kovovém substrátu představuje důležitý analytický nástroj pro charakterizaci těchto systémů. Spektroskopie povrchem zesíleného Ramanova rozptylu (SERS) je vhodnou technikou pro analýzu těchto vrstev. Vývoj nových SERS-aktivních substrátů, s opakovatelnými vlastnostmi a bez rušivých adsorbovaných specií, je důležitým předpokladem pro spolehlivé posouzení připravených tenkých organických vrstev. Tento článek představuje nové SERS-aktivní substráty vhodné jak pro makro- (milimetrové měřítko) tak pro mikroskopické (mikrometrické měřítko) spektrální mapování, které umožňují snadnou regeneraci SERS-aktivní části a zároveň i opakovatelné experimenty. Byly testovány elektrochemicky připravené zlaté i stříbrné substráty. Pro vyhodnocení byly aplikovány nově vyvinuté utility pro tvorbu spektrálních map, obsahující jednak běžně užívané a jednak nově navržené matematické algoritmy a chemometrické procedury. Vyhodnocení spektrálních dat začíná (cs)
- Raman spectral mapping of thin organic layers on metal substrates is an important analytical tool to characterize these systems. Surface enhanced Raman scattering (SERS) spectroscopy is a suitable technique for analysis of such layers. Development of new SERS-active surfaces with repeatable properties and without disturbing adsorbed species is one of the important steps for reliable assessment of thin organic layers designed. This paper presents new SERS-active substrates suitable for both macro- (mm scale) and microscopic (mm scale) spectral mapping, which allow an easy regeneration for repetitive experiments. Both gold and silver SERS-active surfaces prepared by electrochemical deposition were tested. Complete map data evaluation utilities were newly designed and applied; using both ordinary used and newly modified mathematical algorithms and chemometrical procedures. Evaluation of data starts with Finite Impulse Response (FIR) filtration algorithms to eliminate spectral interferences in individual
- Raman spectral mapping of thin organic layers on metal substrates is an important analytical tool to characterize these systems. Surface enhanced Raman scattering (SERS) spectroscopy is a suitable technique for analysis of such layers. Development of new SERS-active surfaces with repeatable properties and without disturbing adsorbed species is one of the important steps for reliable assessment of thin organic layers designed. This paper presents new SERS-active substrates suitable for both macro- (mm scale) and microscopic (mm scale) spectral mapping, which allow an easy regeneration for repetitive experiments. Both gold and silver SERS-active surfaces prepared by electrochemical deposition were tested. Complete map data evaluation utilities were newly designed and applied; using both ordinary used and newly modified mathematical algorithms and chemometrical procedures. Evaluation of data starts with Finite Impulse Response (FIR) filtration algorithms to eliminate spectral interferences in individual (en)
|
| Title
| - Raman spectral detection and assessment of thin organic layers on metal substrates: systematic approach from substrate praparation to map evaluation
- Raman spectral detection and assessment of thin organic layers on metal substrates: systematic approach from substrate praparation to map evaluation (en)
- Detekce a vyhodnocení tenkých organických vrstev nanesených na kovovém substrátu Ramanovou spektroskopií: systematický přístup od tvorby substrátu po vyhodnocení spektrálních map (cs)
|
| skos:prefLabel
| - Raman spectral detection and assessment of thin organic layers on metal substrates: systematic approach from substrate praparation to map evaluation
- Raman spectral detection and assessment of thin organic layers on metal substrates: systematic approach from substrate praparation to map evaluation (en)
- Detekce a vyhodnocení tenkých organických vrstev nanesených na kovovém substrátu Ramanovou spektroskopií: systematický přístup od tvorby substrátu po vyhodnocení spektrálních map (cs)
|
| skos:notation
| - RIV/60461373:22340/08:00020635!RIV09-MSM-22340___
|
| http://linked.open...avai/riv/aktivita
| |
| http://linked.open...avai/riv/aktivity
| |
| http://linked.open...iv/cisloPeriodika
| |
| http://linked.open...vai/riv/dodaniDat
| |
| http://linked.open...aciTvurceVysledku
| |
| http://linked.open.../riv/druhVysledku
| |
| http://linked.open...iv/duvernostUdaju
| |
| http://linked.open...titaPredkladatele
| |
| http://linked.open...dnocenehoVysledku
| |
| http://linked.open...ai/riv/idVysledku
| - RIV/60461373:22340/08:00020635
|
| http://linked.open...riv/jazykVysledku
| |
| http://linked.open.../riv/klicovaSlova
| - massive SERS-active substrate; electrochemical deposition; spectral mapping; assembled monolayer; chemometric analysis (en)
|
| http://linked.open.../riv/klicoveSlovo
| |
| http://linked.open...odStatuVydavatele
| - GB - Spojené království Velké Británie a Severního Irska
|
| http://linked.open...ontrolniKodProRIV
| |
| http://linked.open...i/riv/nazevZdroje
| - Journal of Raman Spectroscopy
|
| http://linked.open...in/vavai/riv/obor
| |
| http://linked.open...ichTvurcuVysledku
| |
| http://linked.open...cetTvurcuVysledku
| |
| http://linked.open...UplatneniVysledku
| |
| http://linked.open...v/svazekPeriodika
| |
| http://linked.open...iv/tvurceVysledku
| - Člupek, Martin
- Matějka, Pavel
- Prokopec, Vadym
- Volka, Karel
|
| http://linked.open...ain/vavai/riv/wos
| |
| http://linked.open...n/vavai/riv/zamer
| |
| issn
| |
| number of pages
| |
| http://localhost/t...ganizacniJednotka
| |
| is http://linked.open...avai/riv/vysledek
of | |
![[RDF Data]](/fct/images/sw-rdf-blue.png)
![[cxml]](/fct/images/cxml_doc.png)
![[csv]](/fct/images/csv_doc.png)
![[text]](/fct/images/ntriples_doc.png)
![[turtle]](/fct/images/n3turtle_doc.png)
![[ld+json]](/fct/images/jsonld_doc.png)
![[rdf+json]](/fct/images/json_doc.png)
![[rdf+xml]](/fct/images/xml_doc.png)
![[atom+xml]](/fct/images/atom_doc.png)
![[html]](/fct/images/html_doc.png)