About: Metodika na měření rezistivity tenkých vrstev čtyř-bodovou metodou

Facets (new session)
Description
Metadata
Settings
- owl:sameAs
- Inference Rule:

About: Metodika na měření rezistivity tenkých vrstev čtyř-bodovou metodou Goto Sponge NotDistinct Permalink

An Entity of Type : http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/Vysledek, within Data Space : linked.opendata.cz associated with source document(s)

Attributes	Values
rdf:type	skos:Concept http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/Vysledek
Description	Equipment for measurement of low resistivity using four-probe method with linear and quadratic electrode tips order is connected to computer making possible a data collection and data acquisition and software for measurement control. The equipment makes possible to measure small as well as large samples, bulk samples and thin films giving calculated correction factor taking into account dimension and shape of the samples. (en) Pracoviště na měření nízkých rezistivit polovodičů čtyř-bodovou metodou s lineárním a kvadratickým hrotem je zapojeno na počítač se sběrem a zpracováním dat a programem na ovládání měření. Na pracovišti lze měřit jak velké, tak malé rozměry vzorků, objemové i tenké vrstvy zadáním vypočtených korekčních faktorů na velikost a tvar vzorku. Pracoviště na měření nízkých rezistivit polovodičů čtyř-bodovou metodou s lineárním a kvadratickým hrotem je zapojeno na počítač se sběrem a zpracováním dat a programem na ovládání měření. Na pracovišti lze měřit jak velké, tak malé rozměry vzorků, objemové i tenké vrstvy zadáním vypočtených korekčních faktorů na velikost a tvar vzorku. (cs)
Title	Metodika na měření rezistivity tenkých vrstev čtyř-bodovou metodou Metodika na měření rezistivity tenkých vrstev čtyř-bodovou metodou (cs) The method for measurement of resistivity of thin films by a four-probe method. (en)
skos:prefLabel	Metodika na měření rezistivity tenkých vrstev čtyř-bodovou metodou Metodika na měření rezistivity tenkých vrstev čtyř-bodovou metodou (cs) The method for measurement of resistivity of thin films by a four-probe method. (en)
skos:notation	RIV/49777513:23640/07:00000002!RIV08-MSM-23640___
http://linked.open...avai/riv/aktivita	P
http://linked.open...avai/riv/aktivity	P(1M06031)
http://linked.open...vai/riv/dodaniDat	2008
http://linked.open...aciTvurceVysledku	Šutta, Pavol
http://linked.open.../riv/druhVysledku	S - Prototyp, uplatněná metodika, funkční vzorek, autorizovaný software, výsledky aplikovaného výzkumu promítnuté do právních předpisů a norem, užitný vzor
http://linked.open...iv/duvernostUdaju	S - Úplné a pravdivé údaje nepodléhající ochraně podle zvláštních právních předpisů
http://linked.open...onomickeParametry	Možnost rychlého a přesného měření rezistivity tenkých vrstev.
http://linked.open...titaPredkladatele	Západočeská univerzita v Plzni / Nové technologie - výzkumné centrum
http://linked.open...dnocenehoVysledku	433302
http://linked.open...ai/riv/idVysledku	RIV/49777513:23640/07:00000002
http://linked.open...terniIdentifikace	NTC-MT-03-07
http://linked.open...riv/jazykVysledku	cze - čeština
http://linked.open...vai/riv/kategorie	A - Do 5 mil. Kč
http://linked.open.../riv/klicovaSlova	electric resistivity; four-probe method; semiconductor (en)
http://linked.open.../riv/klicoveSlovo	electric resistivity four-probe method semiconductor
http://linked.open...ontrolniKodProRIV	[911532320F4A]
http://linked.open.../licencniPoplatek	Z - Poskytovatel licence na výsledek nepožaduje v některých případech licenční poplatek
http://linked.open...okalizaceVysledku	SOLARTEC s.r.o.
http://linked.open...in/vavai/riv/obor	BM
http://linked.open...ichTvurcuVysledku	1 (xsd:int)
http://linked.open...cetTvurcuVysledku	1 (xsd:int)
http://linked.open...vavai/riv/projekt	Materials and components for environment protection
http://linked.open...UplatneniVysledku	2007
http://linked.open...echnickeParametry	Měření rezistivity malých vzorků (až do velikosti 4x4 mm), možnost použití lineární nebo kvadratické měřící hlavy podle tvaru a velikosti vzorku.
http://linked.open...iv/tvurceVysledku	Šutta, Pavol
http://linked.open...avai/riv/vlastnik	Zapadoceska univerzita v Plzni
http://linked.open...itiJinymSubjektem	P - Nabytí licence je nutné v některých případech
http://localhost/t...ganizacniJednotka	23640
is http://linked.open...avai/riv/vysledek of	Metodika na měření rezistivity tenkých vrstev čtyř-bodovou metodou Metodika na měření rezistivity tenkých vrstev čtyř-bodovou metodou Metodika na měření rezistivity tenkých vrstev čtyř-bodovou metodou

Faceted Search & Find service v1.16.116 as of Feb 22 2024

Alternative Linked Data Documents: ODE Content Formats:

RDF

ODATA

Microdata

About

OpenLink Virtuoso version 07.20.3239 as of Feb 22 2024, on Linux (x86_64-pc-linux-gnu), Single-Server Edition (126 GB total memory, 67 GB memory in use)
Data on this page belongs to its respective rights holders.
Virtuoso Faceted Browser Copyright © 2009-2024 OpenLink Software