Attributes | Values |
---|
rdf:type
| |
Description
| - Tenké povlaky jsou široce používány v mikroelektronice, elektrotechnice, strojírenství, atd. Pro všechny aplikace je nutné optimalizovat vlastnosti vrstev a nalézt optimální technologii a depoziční parametry. Nanotvrdost a skrečtest jsou nejpoužívanější mechanické zkoušky hodnotící jakost a spolehlivost vrstev. L-S system vyžaduje komplexnější hodnocení, jsou používány další zkoušky jako korozní, teplotní odpor, krokové zkoušky jsou nyní v popředí.
- Tenké povlaky jsou široce používány v mikroelektronice, elektrotechnice, strojírenství, atd. Pro všechny aplikace je nutné optimalizovat vlastnosti vrstev a nalézt optimální technologii a depoziční parametry. Nanotvrdost a skrečtest jsou nejpoužívanější mechanické zkoušky hodnotící jakost a spolehlivost vrstev. L-S system vyžaduje komplexnější hodnocení, jsou používány další zkoušky jako korozní, teplotní odpor, krokové zkoušky jsou nyní v popředí. (en)
|
Title
| - Properties, application and trends of development of thin layer-substrate system
- Properties, application and trends of development of thin layer-substrate system (en)
|
skos:prefLabel
| - Properties, application and trends of development of thin layer-substrate system
- Properties, application and trends of development of thin layer-substrate system (en)
|
skos:notation
| - RIV/49777513:23210/03:00000119!RIV/2004/MSM/232104/N
|
http://linked.open.../vavai/riv/strany
| |
http://linked.open...avai/riv/aktivita
| |
http://linked.open...avai/riv/aktivity
| |
http://linked.open...vai/riv/dodaniDat
| |
http://linked.open...aciTvurceVysledku
| |
http://linked.open.../riv/druhVysledku
| |
http://linked.open...iv/duvernostUdaju
| |
http://linked.open...titaPredkladatele
| |
http://linked.open...dnocenehoVysledku
| |
http://linked.open...ai/riv/idVysledku
| - RIV/49777513:23210/03:00000119
|
http://linked.open...riv/jazykVysledku
| |
http://linked.open.../riv/klicovaSlova
| - Thin coatings;optimalization of deposition;nanohardness;scratch test;step by step tests;sandwich and multilayers (en)
|
http://linked.open.../riv/klicoveSlovo
| |
http://linked.open...ontrolniKodProRIV
| |
http://linked.open...v/mistoKonaniAkce
| |
http://linked.open...i/riv/mistoVydani
| |
http://linked.open...i/riv/nazevZdroje
| - Achievements in Mechanical & Materials Engineering
|
http://linked.open...in/vavai/riv/obor
| |
http://linked.open...ichTvurcuVysledku
| |
http://linked.open...cetTvurcuVysledku
| |
http://linked.open...ocetUcastnikuAkce
| |
http://linked.open...nichUcastnikuAkce
| |
http://linked.open...UplatneniVysledku
| |
http://linked.open...iv/tvurceVysledku
| |
http://linked.open...vavai/riv/typAkce
| |
http://linked.open.../riv/zahajeniAkce
| |
http://linked.open...n/vavai/riv/zamer
| |
number of pages
| |
http://purl.org/ne...btex#hasPublisher
| - Silesian University of Technology
|
https://schema.org/isbn
| |
http://localhost/t...ganizacniJednotka
| |