Attributes | Values |
---|
rdf:type
| |
Description
| - Dvoupaprsková interference na výstupu lehce disperzního Michelsonova interferometru je použita k měření fázového spektra transparentních filmů skrze širokou škálu vlnových délek. Použitím Fourierovy transformace v procesu zaznamenaného spektrálního interferogramu byly získány nejednoznačné fázové funkce spektrálních proužků. (cs)
- Two-beam spectral interference at the output of a slightly dispersive Michelson interferometer is used to measure the phase spectra of transparent thin films over a wide range of wavelengths. First, using a Fourier transform method in processing of the recorded spectral interferograms the ambiguous spectral fringe phase function is obtained...
- Two-beam spectral interference at the output of a slightly dispersive Michelson interferometer is used to measure the phase spectra of transparent thin films over a wide range of wavelengths. First, using a Fourier transform method in processing of the recorded spectral interferograms the ambiguous spectral fringe phase function is obtained... (en)
|
Title
| - Measurement of the phase spectra of transparent thin films using white-light interferometry
- Measurement of the phase spectra of transparent thin films using white-light interferometry (en)
- Měření fázového spektra transparentních tenkých filmů s použitím interferometrie bílého světla (cs)
|
skos:prefLabel
| - Measurement of the phase spectra of transparent thin films using white-light interferometry
- Measurement of the phase spectra of transparent thin films using white-light interferometry (en)
- Měření fázového spektra transparentních tenkých filmů s použitím interferometrie bílého světla (cs)
|
skos:notation
| - RIV/47813059:19240/03:#0002019!RIV09-MSM-19240___
|
http://linked.open...avai/riv/aktivita
| |
http://linked.open...avai/riv/aktivity
| |
http://linked.open...vai/riv/dodaniDat
| |
http://linked.open...aciTvurceVysledku
| |
http://linked.open.../riv/druhVysledku
| |
http://linked.open...iv/duvernostUdaju
| |
http://linked.open...titaPredkladatele
| |
http://linked.open...dnocenehoVysledku
| |
http://linked.open...ai/riv/idVysledku
| - RIV/47813059:19240/03:#0002019
|
http://linked.open...riv/jazykVysledku
| |
http://linked.open.../riv/klicovaSlova
| - white-light source, spectral interference, Michelson interferometer, Fourier transform method, optical element, thickness, low refractive index dispersion, thin films, phase spectrum (en)
|
http://linked.open.../riv/klicoveSlovo
| |
http://linked.open...ontrolniKodProRIV
| |
http://linked.open...v/mistoKonaniAkce
| |
http://linked.open...i/riv/mistoVydani
| |
http://linked.open...i/riv/nazevZdroje
| - MICROWAVE AND OPTICAL TECHNOLOGY 2003: PROCEEDINGS OF THE SOCIETY OF PHOTO-OPTICAL INSTRUMENTATION ENGINEERS (SPIE)
|
http://linked.open...in/vavai/riv/obor
| |
http://linked.open...ichTvurcuVysledku
| |
http://linked.open...cetTvurcuVysledku
| |
http://linked.open...UplatneniVysledku
| |
http://linked.open...iv/tvurceVysledku
| |
http://linked.open...vavai/riv/typAkce
| |
http://linked.open...ain/vavai/riv/wos
| |
http://linked.open.../riv/zahajeniAkce
| |
issn
| |
number of pages
| |
http://purl.org/ne...btex#hasPublisher
| - SPIE-INT SOC OPTICAL ENGINEERING, 1000 20TH ST, PO BOX 10, BELLINGHAM, WA 98227-0010 USA
|
https://schema.org/isbn
| |
http://localhost/t...ganizacniJednotka
| |