About: COMPAS - compressed test pattern sequencer

Facets (new session)
Description
Metadata
Settings
- owl:sameAs
- Inference Rule:

About: COMPAS - compressed test pattern sequencer Goto Sponge NotDistinct Permalink

An Entity of Type : http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/Vysledek, within Data Space : linked.opendata.cz associated with source document(s)

Attributes	Values
rdf:type	skos:Concept http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/Vysledek
Description	Program na základě popisu obvodu vytvoří seznam možných poruch a zkomprimuje testovací posloupnost, vytvořenou externím systémem ATPG. Výslednou zkomprimovanou posloupnost je možné sériově přenášet pomocí úzkého testovacího rozhraní do testovacího obvodu a jednoduchým způsobem dekomprimovat uvnitř skanovacích řetězců. Komprese je založena na překrývání testovacích vzorků, předvídání nejefektivnějšího postupu komprese dosud nezakomprimovaných bitů testovací posloupnosti a ověřování pokrytí poruch pomocí on-line prováděné simulaci poruch. Efektivnost komprese je vyšší než u běžných komerčních systémů komprese. (cs) The COMPAS tool creates a list of possible IC faults on the basis of the circuit description. It Compresses the test sequence created by an external ATPG. The resulting compressed test sequence can be transmitted through a narrow Test Access Mechanism into the tested IC and there it can be easily decompressed in the internal scan chains. The compression is based on test pattern overlapping , future bits to be effectively compressed estimation and on-line fault simulation. The effectivity of compression is greater than for other commercial compression tools. The COMPAS tool creates a list of possible IC faults on the basis of the circuit description. It Compresses the test sequence created by an external ATPG. The resulting compressed test sequence can be transmitted through a narrow Test Access Mechanism into the tested IC and there it can be easily decompressed in the internal scan chains. The compression is based on test pattern overlapping , future bits to be effectively compressed estimation and on-line fault simulation. The effectivity of compression is greater than for other commercial compression tools. (en)
Title	COMPAS - compressed test pattern sequencer COMPAS - compressed test pattern sequencer (en) COMPAS - program pro kompresi testovacích vzorků (cs)
skos:prefLabel	COMPAS - compressed test pattern sequencer COMPAS - compressed test pattern sequencer (en) COMPAS - program pro kompresi testovacích vzorků (cs)
skos:notation	RIV/46747885:24220/08:#0000374!RIV08-AV0-24220___
http://linked.open...avai/riv/aktivita	P
http://linked.open...avai/riv/aktivity	P(1QS108040510)
http://linked.open...vai/riv/dodaniDat	2008
http://linked.open...aciTvurceVysledku	Jeníček, J. Novák, Ondřej
http://linked.open.../riv/druhVysledku	S - Prototyp, uplatněná metodika, funkční vzorek, autorizovaný software, výsledky aplikovaného výzkumu promítnuté do právních předpisů a norem, užitný vzor
http://linked.open...iv/duvernostUdaju	S - Úplné a pravdivé údaje nepodléhající ochraně podle zvláštních právních předpisů
http://linked.open...onomickeParametry	Kompresní poměr podle typu testovaného obvodu < 1 %, lineární nárůst doby výpočtu při růstu velikosti testovaného obvodu
http://linked.open...titaPredkladatele	Technická univerzita v Liberci / Fakulta mechatroniky, informatiky a mezioborových studií
http://linked.open...dnocenehoVysledku	360720
http://linked.open...ai/riv/idVysledku	RIV/46747885:24220/08:#0000374
http://linked.open...terniIdentifikace	COMPAS
http://linked.open...riv/jazykVysledku	eng - angličtina
http://linked.open...vai/riv/kategorie	A - Do 5 mil. Kč
http://linked.open.../riv/klicovaSlova	integrated circuit testing, fault coverage,test patter compression (en)
http://linked.open.../riv/klicoveSlovo	fault coverage integrated circuit testing test patter compression
http://linked.open...ontrolniKodProRIV	[5D8745D3B95B]
http://linked.open.../licencniPoplatek	Z - Poskytovatel licence na výsledek nepožaduje v některých případech licenční poplatek
http://linked.open...okalizaceVysledku	http://iko.kes.vslib.cz/index.php
http://linked.open...in/vavai/riv/obor	JC
http://linked.open...ichTvurcuVysledku	2 (xsd:int)
http://linked.open...cetTvurcuVysledku	2 (xsd:int)
http://linked.open...vavai/riv/projekt	Technology for improving the testability of modern digital circuits
http://linked.open...UplatneniVysledku	2008
http://linked.open...echnickeParametry	Program o délce 14700 řádků v jazyce C. Využívá veřejně přístupného zdrojového textu fsim.exe (4000 řádků) a spsimul.exe (5000 řádků)
http://linked.open...iv/tvurceVysledku	Jeníček, J. Novák, O.
http://linked.open...avai/riv/vlastnik	Technická univerzita v Liberci
http://linked.open...itiJinymSubjektem	P - Nabytí licence je nutné v některých případech
http://localhost/t...ganizacniJednotka	24220
is http://linked.open...avai/riv/vysledek of	COMPAS - compressed test pattern sequencer COMPAS - compressed test pattern sequencer COMPAS - compressed test pattern sequencer COMPAS - compressed test pattern sequencer

Faceted Search & Find service v1.16.118 as of Jun 21 2024

Alternative Linked Data Documents: ODE Content Formats:

RDF

ODATA

Microdata

About

OpenLink Virtuoso version 07.20.3240 as of Jun 21 2024, on Linux (x86_64-pc-linux-gnu), Single-Server Edition (126 GB total memory, 58 GB memory in use)
Data on this page belongs to its respective rights holders.
Virtuoso Faceted Browser Copyright © 2009-2024 OpenLink Software