About: Charakterizace materiálu pomocí difrakční metody Debyeova-Scherrerova na zpětný odraz     Goto   Sponge   NotDistinct   Permalink

An Entity of Type : http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/Vysledek, within Data Space : linked.opendata.cz associated with source document(s)

AttributesValues
rdf:type
Description
  • The article deals with the Debye-Scherrer method of the X-ray diffraction analysis. This method is designed to the evaluation of a surface layer in the depth of several μm. It is a nondestructive test of a polycrystalic material by which no special preparation of the surface layer is needed. The principle of this method is based on the impact of the monochromatic beam on the sample wherereas the diffraction of the X-ray is recorded on the memory film. With the help of a scanner a difractogram which gives basic information about the status of the crystal lattice can be obtained from the memory film. Depending on the continuity and the regularity of the diffraction line shown in the difractogram a presence of texture and quantitative understanding of the size of the crystal can be found out. This method is used for the analysis of the heat-affected zone and the determination of inhomogeneities in the vicinity of weld. It is further used by the determination of the degree of plastic deformation after forming and by the determination of the degree of recrystallization after thermal treatment. (en)
  • Článek se zabývá rentgenovou difrakční metodou Debyeovou-Scherrerovou na zpětný odraz a její využití. Metoda slouží k hodnocení povrchové vrstvy v hloubce několika μm. Jedná se o nedestruktivní zkoušky polykrystalického materiálu bez nutnosti speciální přípravy povrchu. Princip spočívá v dopadu monochromatických paprsků na zkušební vzorek, kde dochází k difrakci rentgenového záření a následně toto záření detekuje na paměťovou fólii. Pomocí skeneru získáme z paměťové fólie difraktogram dávající základní informace o stavu krystalové mřížky. V závislosti na spojitosti a pravidelnosti difrakční linie zobrazené na difraktogramu lze zjistit přítomnost textury a kvantitativní představu o velikosti krystalitu. Metoda se využívá při analýze teplotně ovlivněné oblasti a stanovení nehomogenit v okolí svárů, dále při stanovení stupně plastické deformace po tváření a určení stupně rekrystalizace po tepelném zpracování. Výhodou metody je možnost měření tvarově složitých a velkých vzorků
  • Článek se zabývá rentgenovou difrakční metodou Debyeovou-Scherrerovou na zpětný odraz a její využití. Metoda slouží k hodnocení povrchové vrstvy v hloubce několika μm. Jedná se o nedestruktivní zkoušky polykrystalického materiálu bez nutnosti speciální přípravy povrchu. Princip spočívá v dopadu monochromatických paprsků na zkušební vzorek, kde dochází k difrakci rentgenového záření a následně toto záření detekuje na paměťovou fólii. Pomocí skeneru získáme z paměťové fólie difraktogram dávající základní informace o stavu krystalové mřížky. V závislosti na spojitosti a pravidelnosti difrakční linie zobrazené na difraktogramu lze zjistit přítomnost textury a kvantitativní představu o velikosti krystalitu. Metoda se využívá při analýze teplotně ovlivněné oblasti a stanovení nehomogenit v okolí svárů, dále při stanovení stupně plastické deformace po tváření a určení stupně rekrystalizace po tepelném zpracování. Výhodou metody je možnost měření tvarově složitých a velkých vzorků (cs)
Title
  • Charakterizace materiálu pomocí difrakční metody Debyeova-Scherrerova na zpětný odraz
  • Charakterizace materiálu pomocí difrakční metody Debyeova-Scherrerova na zpětný odraz (cs)
  • The characterization of materials using the Debye-Scherrer diffraction method (en)
skos:prefLabel
  • Charakterizace materiálu pomocí difrakční metody Debyeova-Scherrerova na zpětný odraz
  • Charakterizace materiálu pomocí difrakční metody Debyeova-Scherrerova na zpětný odraz (cs)
  • The characterization of materials using the Debye-Scherrer diffraction method (en)
skos:notation
  • RIV/46747885:24210/13:#0005748!RIV14-MSM-24210___
http://linked.open...avai/predkladatel
http://linked.open...avai/riv/aktivita
http://linked.open...avai/riv/aktivity
  • S
http://linked.open...vai/riv/dodaniDat
http://linked.open...aciTvurceVysledku
http://linked.open.../riv/druhVysledku
http://linked.open...iv/duvernostUdaju
http://linked.open...titaPredkladatele
http://linked.open...dnocenehoVysledku
  • 65168
http://linked.open...ai/riv/idVysledku
  • RIV/46747885:24210/13:#0005748
http://linked.open...riv/jazykVysledku
http://linked.open.../riv/klicovaSlova
  • X-ray diffraction, Debye-Scherrer method, textures, crystallite size (en)
http://linked.open.../riv/klicoveSlovo
http://linked.open...ontrolniKodProRIV
  • [9337E2276AD4]
http://linked.open...v/mistoKonaniAkce
  • Svitavy
http://linked.open...i/riv/mistoVydani
  • Pardubice
http://linked.open...i/riv/nazevZdroje
  • Techmat '13
http://linked.open...in/vavai/riv/obor
http://linked.open...ichTvurcuVysledku
http://linked.open...cetTvurcuVysledku
http://linked.open...UplatneniVysledku
http://linked.open...iv/tvurceVysledku
  • Zuzánek, Lukáš
http://linked.open...vavai/riv/typAkce
http://linked.open.../riv/zahajeniAkce
number of pages
http://purl.org/ne...btex#hasPublisher
  • Univerzita Pardubice. Dopravní fakulta Jana Pernera
https://schema.org/isbn
  • 978-80-7395-735-3
http://localhost/t...ganizacniJednotka
  • 24210
Faceted Search & Find service v1.16.118 as of Jun 21 2024


Alternative Linked Data Documents: ODE     Content Formats:   [cxml] [csv]     RDF   [text] [turtle] [ld+json] [rdf+json] [rdf+xml]     ODATA   [atom+xml] [odata+json]     Microdata   [microdata+json] [html]    About   
This material is Open Knowledge   W3C Semantic Web Technology [RDF Data] Valid XHTML + RDFa
OpenLink Virtuoso version 07.20.3240 as of Jun 21 2024, on Linux (x86_64-pc-linux-gnu), Single-Server Edition (126 GB total memory, 58 GB memory in use)
Data on this page belongs to its respective rights holders.
Virtuoso Faceted Browser Copyright © 2009-2024 OpenLink Software