About: Probes for scanning near-field optical microscopy

Facets (new session)
Description
Metadata
Settings
- owl:sameAs
- Inference Rule:

About: Probes for scanning near-field optical microscopy Goto Sponge NotDistinct Permalink

An Entity of Type : http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/Vysledek, within Data Space : linked.opendata.cz associated with source document(s)

Attributes	Values
rdf:type	skos:Concept http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/Vysledek
rdfs:seeAlso	http://surfaces.fme.vutbr.cz/laboratories/developed-instruments/2013-09/
Description	Sondy se skládají z pokovených optických vláken vyleptaných v HF kyselině do tvaru hrotu. Na konci vlákna je vyrobená vstupní apertura pro detekci blízkého elektromagnetického pole. Celé vlákno je přiděláno na rezonanční ladičku a slouží jako sonda pro komerční SNOM mikroskop NT-MDT. Sondy se skládají z pokovených optických vláken vyleptaných v HF kyselině do tvaru hrotu. Na konci vlákna je vyrobená vstupní apertura pro detekci blízkého elektromagnetického pole. Celé vlákno je přiděláno na rezonanční ladičku a slouží jako sonda pro komerční SNOM mikroskop NT-MDT. (cs) Probes are made of an optical fiber with an HF etched tip. The input aperture for detection of the electromagnetic near-field is prepared using focused ion beam with high precision. The fiber is attached to the resonant tuning fork and used as the probe for a commercial SNOM microscope NT-MDT. (en)
Title	Probes for scanning near-field optical microscopy (en) Sondy pro rastrovací optickou mikroskopii v blízkém poli Sondy pro rastrovací optickou mikroskopii v blízkém poli (cs)
skos:prefLabel	Probes for scanning near-field optical microscopy (en) Sondy pro rastrovací optickou mikroskopii v blízkém poli Sondy pro rastrovací optickou mikroskopii v blízkém poli (cs)
skos:notation	RIV/00216305:26620/13:PR27687!RIV14-MSM-26620___
http://linked.open...avai/predkladatel	Středoevropský technologický institut
http://linked.open...avai/riv/aktivita	S
http://linked.open...avai/riv/aktivity	S
http://linked.open...vai/riv/dodaniDat	2014
http://linked.open...aciTvurceVysledku	Jakub, Zdeněk Šamořil, Tomáš Šikola, Tomáš Dvořák, Petr
http://linked.open.../riv/druhVysledku	G/B - Funkční vzorek
http://linked.open...iv/duvernostUdaju	S - Úplné a pravdivé údaje nepodléhající ochraně podle zvláštních právních předpisů
http://linked.open...onomickeParametry	Náklady na vývoj SNOM sond vláken nepřesáhly 20 000 Kč (nákup optických vláken, rezonančních ladiček a leptacích chemikálií). Cena výroby jedné sondy okolo 1100 Kč/ks (komerční sonda okolo 3 500 Kč/ks). Čas potřebný na přípravu 6 ks SNOM sond je okolo 8 hodin práce.
http://linked.open...titaPredkladatele	Vysoké učení technické v Brně / Středoevropský technologický institut
http://linked.open...dnocenehoVysledku	106380
http://linked.open...ai/riv/idVysledku	RIV/00216305:26620/13:PR27687
http://linked.open...terniIdentifikace	hroty
http://linked.open...riv/jazykVysledku	cze - čeština
http://linked.open...vai/riv/kategorie	A - Do 5 mil. Kč
http://linked.open.../riv/klicovaSlova	Near-field, probe, aperture, microscopy, plasmonics (en)
http://linked.open.../riv/klicoveSlovo	plasmonics aperture microscopy Near-field probe
http://linked.open...ontrolniKodProRIV	[7052FEA700A1]
http://linked.open.../licencniPoplatek	A - Poskytovatel licence na výsledek požaduje licenční poplatek
http://linked.open...in/vavai/riv/obor	BM
http://linked.open...ichTvurcuVysledku	4 (xsd:int)
http://linked.open...cetTvurcuVysledku	4 (xsd:int)
http://linked.open...UplatneniVysledku	2013
http://linked.open...echnickeParametry	Detekce blízkého elektromagnetického pole vzniklého interferencí povrchových plazmonových polaritonů buzených He-Ne laserem (632 nm). Délka optického vlákna HP630 (ThorLabs) až 2 m. Parametry vlákna: - průměr jádra 3,5 micro-m, - průměr pláště 125 micro-m, - průměr ochrané vrstvy 245 micro-m, - průměr obalu 400 micro-m, - numerická apertura 0,13, - rozsah vlnových délek (600 – 770) nm. Leptáno až šesti vláken najednou po dobu 75 min v 40% HF kyselině. Čištěno a tvarováno pomocí fokusovaného iontového svazku. Pokoveno 150 nm tlustou vrstvou hliníku s 3 nm adhezní vrstvy titanu pomocí naprašování s asistovanou iontovou depozicí. Při použití energie asistovaného svazku 50 eV velikost hliníkových zrn okolo 50 nm. Minimální velikost vstupní apertury 50 nm. Pro větší rozměry libovolný tvar a velikost.
http://linked.open...iv/tvurceVysledku	Dvořák, Petr Šamořil, Tomáš Šikola, Tomáš Jakub, Zdeněk
http://linked.open...avai/riv/vlastnik	Příprava a charakterizace nanostruktur
http://linked.open...itiJinymSubjektem	A - Nabytí licence je nutné vždy
http://localhost/t...ganizacniJednotka	26620

Faceted Search & Find service v1.16.116 as of Feb 22 2024

Alternative Linked Data Documents: ODE Content Formats:

RDF

ODATA

Microdata

About

OpenLink Virtuoso version 07.20.3239 as of Feb 22 2024, on Linux (x86_64-pc-linux-gnu), Single-Server Edition (126 GB total memory, 82 GB memory in use)
Data on this page belongs to its respective rights holders.
Virtuoso Faceted Browser Copyright © 2009-2024 OpenLink Software