Attributes | Values |
---|
rdf:type
| |
Description
| - In the paper, it is shown how are testability values distributed within the scan-layout state-space for particular digital circuit. The goal of the paper was to approve or dismiss our hypothesis that the more registers are included in greater number of multiple scan-chains within particular scan-layout,<br>the better testability properties correspond to the scan-layout.
- In the paper, it is shown how are testability values distributed within the scan-layout state-space for particular digital circuit. The goal of the paper was to approve or dismiss our hypothesis that the more registers are included in greater number of multiple scan-chains within particular scan-layout,<br>the better testability properties correspond to the scan-layout. (en)
- Článek se zabývá rozložením hodnot testovatelnosti ve stavovém prostoru konfigurací scan řetězců konkrétního číslicového obvodu. Cílem článku je experimentálně ukázat, že hypotéza tvrdící, že čím více registrů je zahrnuto do čím většího počtu scan řetězů, tím lépe bude našimi měrami testovatelnosti ohodnocena testovatelnost obvodu s daným rozmístěním registrů ve scan řetězech. (cs)
|
Title
| - On Distribution of Testability Values in Scan-Layout State-Space
- On Distribution of Testability Values in Scan-Layout State-Space (en)
- Rozložení hodnot testovatelnosti ve stavovém prostoru konfigurací scan řetězů (cs)
|
skos:prefLabel
| - On Distribution of Testability Values in Scan-Layout State-Space
- On Distribution of Testability Values in Scan-Layout State-Space (en)
- Rozložení hodnot testovatelnosti ve stavovém prostoru konfigurací scan řetězů (cs)
|
skos:notation
| - RIV/00216305:26230/06:PU66975!RIV07-GA0-26230___
|
http://linked.open.../vavai/riv/strany
| |
http://linked.open...avai/riv/aktivita
| |
http://linked.open...avai/riv/aktivity
| - P(GA102/04/0737), P(GP102/05/P193)
|
http://linked.open...vai/riv/dodaniDat
| |
http://linked.open...aciTvurceVysledku
| |
http://linked.open.../riv/druhVysledku
| |
http://linked.open...iv/duvernostUdaju
| |
http://linked.open...titaPredkladatele
| |
http://linked.open...dnocenehoVysledku
| |
http://linked.open...ai/riv/idVysledku
| - RIV/00216305:26230/06:PU66975
|
http://linked.open...riv/jazykVysledku
| |
http://linked.open.../riv/klicovaSlova
| - digital circuit diagnostics, register-transfer level, circuit data-path, testability analysis, design for testability, testability improvements, scan technique (en)
|
http://linked.open.../riv/klicoveSlovo
| |
http://linked.open...ontrolniKodProRIV
| |
http://linked.open...v/mistoKonaniAkce
| |
http://linked.open...i/riv/mistoVydani
| |
http://linked.open...i/riv/nazevZdroje
| - Proceedings of the 7th International Scientific Conference on Electronic Computers and Informatics
|
http://linked.open...in/vavai/riv/obor
| |
http://linked.open...ichTvurcuVysledku
| |
http://linked.open...cetTvurcuVysledku
| |
http://linked.open...vavai/riv/projekt
| |
http://linked.open...UplatneniVysledku
| |
http://linked.open...iv/tvurceVysledku
| |
http://linked.open...vavai/riv/typAkce
| |
http://linked.open.../riv/zahajeniAkce
| |
number of pages
| |
http://purl.org/ne...btex#hasPublisher
| - Technická univerzita v Košiciach
|
https://schema.org/isbn
| |
http://localhost/t...ganizacniJednotka
| |
is http://linked.open...avai/riv/vysledek
of | |