About: Test jig for evaluation of radiation induced changes of PMOS transistors temperature coefficients

Facets (new session)
Description
Metadata
Settings
- owl:sameAs
- Inference Rule:

About: Test jig for evaluation of radiation induced changes of PMOS transistors temperature coefficients Goto Sponge NotDistinct Permalink

An Entity of Type : http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/Vysledek, within Data Space : linked.opendata.cz associated with source document(s)

Attributes	Values
rdf:type	skos:Concept http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/Vysledek
rdfs:seeAlso	http://www.umel.feec.vutbr.cz/vyzkum/vysledky/funkcni-vzorky/
Description	Byl navržen a realizován prototyp poloautomatického testu radiačních změn (degradací) teplotní závislosti prahového napětí PMOS tranzistorů a byly provedeny prvotní úspěšné experimenty. Zatímco měření charakteristiky PMOS probíhalo plně automaticky, teplota tranzistorů byla řízena manuálně. Podařilo se prokázat, že radiace způsobuje výrazné změny teplotních koeficientů tranzistorů a že tyto změny jsou také silně závislé na napájení tranzistorů během jejich ozařování. Byl navržen a realizován prototyp poloautomatického testu radiačních změn (degradací) teplotní závislosti prahového napětí PMOS tranzistorů a byly provedeny prvotní úspěšné experimenty. Zatímco měření charakteristiky PMOS probíhalo plně automaticky, teplota tranzistorů byla řízena manuálně. Podařilo se prokázat, že radiace způsobuje výrazné změny teplotních koeficientů tranzistorů a že tyto změny jsou také silně závislé na napájení tranzistorů během jejich ozařování. (cs) A prototype of test jig for evaluation of radiation induced changes of PMOS transistors threshold voltage temperature coefficient has been built and initial successful experiments have been completed. While the transistor characterization is fully automated, the control of transistors temperature is manual. It has been demonstrated that the gamma radiation can induce serious changes to the transistor temperature coefficients and these changes are also a function of the transistor bias voltage during the irradiation. (en)
Title	Test jig for evaluation of radiation induced changes of PMOS transistors temperature coefficients (en) Přípravek pro měření radiačních změn teplotní závislosti PMOS tranzistorů Přípravek pro měření radiačních změn teplotní závislosti PMOS tranzistorů (cs)
skos:prefLabel	Test jig for evaluation of radiation induced changes of PMOS transistors temperature coefficients (en) Přípravek pro měření radiačních změn teplotní závislosti PMOS tranzistorů Přípravek pro měření radiačních změn teplotní závislosti PMOS tranzistorů (cs)
skos:notation	RIV/00216305:26220/14:PR27798!RIV15-MSM-26220___
http://linked.open...avai/riv/aktivita	S
http://linked.open...avai/riv/aktivity	S
http://linked.open...vai/riv/dodaniDat	2015
http://linked.open...aciTvurceVysledku	Háze, Jiří Hofman, Jiří
http://linked.open.../riv/druhVysledku	G/B - Funkční vzorek
http://linked.open...iv/duvernostUdaju	S - Úplné a pravdivé údaje nepodléhající ochraně podle zvláštních právních předpisů
http://linked.open...onomickeParametry	50000 Kč
http://linked.open...titaPredkladatele	Vysoké učení technické v Brně / Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií
http://linked.open...dnocenehoVysledku	39520
http://linked.open...ai/riv/idVysledku	RIV/00216305:26220/14:PR27798
http://linked.open...terniIdentifikace	RaTran.v01
http://linked.open...riv/jazykVysledku	cze - čeština
http://linked.open...vai/riv/kategorie	A - Do 5 mil. Kč
http://linked.open.../riv/klicovaSlova	transistor, MOS, threshold voltage, temperature dependency, gamma radiation (en)
http://linked.open.../riv/klicoveSlovo	temperature dependency transistor MOS gamma radiation threshold voltage
http://linked.open...ontrolniKodProRIV	[5179435FFD11]
http://linked.open.../licencniPoplatek	N - Poskytovatel licence na výsledek nepožaduje licenční poplatek
http://linked.open...in/vavai/riv/obor	JA
http://linked.open...ichTvurcuVysledku	2 (xsd:int)
http://linked.open...cetTvurcuVysledku	2 (xsd:int)
http://linked.open...UplatneniVysledku	2014
http://linked.open...echnickeParametry	Maximalní celková dávka (Co60) : 1Mrad, Rozsah m25en9 Vth: 0 a6 200V, Teplotní rozsah: -30 až 100C
http://linked.open...iv/tvurceVysledku	Hofman, Jiří Háze, Jiří
http://linked.open...avai/riv/vlastnik	Ústav mikroelektroniky
http://linked.open...itiJinymSubjektem	A - Nabytí licence je nutné vždy
http://localhost/t...ganizacniJednotka	26220

Faceted Search & Find service v1.16.118 as of Jun 21 2024

Alternative Linked Data Documents: ODE Content Formats:

RDF

ODATA

Microdata

About

OpenLink Virtuoso version 07.20.3240 as of Jun 21 2024, on Linux (x86_64-pc-linux-gnu), Single-Server Edition (126 GB total memory, 78 GB memory in use)
Data on this page belongs to its respective rights holders.
Virtuoso Faceted Browser Copyright © 2009-2024 OpenLink Software