About: Měřicí zařízení pro pořizování kontrolních snímků povrchů testovacích desek znečistěných tavidly

Facets (new session)
Description
Metadata
Settings
- owl:sameAs
- Inference Rule:

About: Měřicí zařízení pro pořizování kontrolních snímků povrchů testovacích desek znečistěných tavidly Goto Sponge NotDistinct Permalink

An Entity of Type : http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/Vysledek, within Data Space : linked.opendata.cz associated with source document(s)

Attributes	Values
rdf:type	skos:Concept http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/Vysledek
rdfs:seeAlso	http://spisy.upv.cz/UtilityModels/FullDocuments/FDUM0025/uv025097.pdf
Description	Využití UV záření pro zvýšení kontrastu mezi tavidlovými zbytky a substrátem (pozadí) po procesu mytí elektronických struktur. Tato metoda je využita pro vylepšení grafického výstupu sledovaných struktur a jejich následné grafické a statistické vyhodnocení. Využití UV záření pro zvýšení kontrastu mezi tavidlovými zbytky a substrátem (pozadí) po procesu mytí elektronických struktur. Tato metoda je využita pro vylepšení grafického výstupu sledovaných struktur a jejich následné grafické a statistické vyhodnocení. (cs) Utilization UV light to increase the contrast between flux residues and the substrate (background) after the washing process of the electronic structures. This method is used to enhance the graphical output observed structures and their subsequent graphical and statistical evaluation. (en)
Title	Měřicí zařízení pro pořizování kontrolních snímků povrchů testovacích desek znečistěných tavidly Měřicí zařízení pro pořizování kontrolních snímků povrchů testovacích desek znečistěných tavidly (cs) Inspection device for capturing of control images of the test plates surfaces contaminated by the flux (en)
skos:prefLabel	Měřicí zařízení pro pořizování kontrolních snímků povrchů testovacích desek znečistěných tavidly Měřicí zařízení pro pořizování kontrolních snímků povrchů testovacích desek znečistěných tavidly (cs) Inspection device for capturing of control images of the test plates surfaces contaminated by the flux (en)
skos:notation	RIV/00216305:26220/13:PA20957!RIV14-TA0-26220___
http://linked.open...avai/predkladatel	Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií
http://linked.open...avai/riv/aktivita	P S
http://linked.open...avai/riv/aktivity	P(TA01011754), S
http://linked.open...cisloPatentuVzoru	25097
http://linked.open...eleniPatentuVzoru	2013-03-18 (xsd:date)
http://linked.open...vai/riv/dodaniDat	2014
http://linked.open...aciTvurceVysledku	Buršík, Martin Řezníček, Michal Jankovský, Jaroslav
http://linked.open.../riv/druhVysledku	F/U - Užitný vzor
http://linked.open...iv/duvernostUdaju	C - Předmět podléhá obchodnímu tajemství (§17 až 20 Obchodního zákoníku), ale některé údaje jsou upraveny tak, aby byly zveřejnitelné
http://linked.open...titaPredkladatele	Vysoké učení technické v Brně / Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií
http://linked.open...dnocenehoVysledku	87394
http://linked.open...ai/riv/idVysledku	RIV/00216305:26220/13:PA20957
http://linked.open...riv/jazykVysledku	cze - čeština
http://linked.open.../riv/klicovaSlova	UV light, flux, evaluation, residues (en)
http://linked.open.../riv/klicoveSlovo	flux residues evaluation UV light
http://linked.open...ontrolniKodProRIV	[B1BA652FB390]
http://linked.open.../licencniPoplatek	A - Poskytovatel licence na výsledek požaduje licenční poplatek
http://linked.open...ydaniPatentuVzoru	Prague
http://linked.open...atelePatentuVzoru	Úřad průmyslového vlastnictví
http://linked.open...in/vavai/riv/obor	JA
http://linked.open...ichTvurcuVysledku	3 (xsd:int)
http://linked.open...cetTvurcuVysledku	3 (xsd:int)
http://linked.open...vavai/riv/projekt	New methods of cleaning electronic assemblies with enhanced effectivity, lower impact to the environment and lower energy needs.
http://linked.open...UplatneniVysledku	2013
http://linked.open...ydaniPatentuVzoru	CZ - Česká republika
http://linked.open...iv/tvurceVysledku	Buršík, Martin Jankovský, Jaroslav Řezníček, Michal
http://linked.open...mniOchranaPatentu	E - Úřad průmyslového vlastnictví ČR
http://linked.open...avai/riv/vlastnik	Vysoké učení technické v Brně
http://linked.open...itiJinymSubjektem	A - Nabytí licence je nutné vždy
http://linked.open...uzitiPatentuVzoru	A - Pouze udělený nebo využívaný pouze vlastníkem
http://localhost/t...ganizacniJednotka	26220

Faceted Search & Find service v1.16.118 as of Jun 21 2024

Alternative Linked Data Documents: ODE Content Formats:

RDF

ODATA

Microdata

About

OpenLink Virtuoso version 07.20.3240 as of Jun 21 2024, on Linux (x86_64-pc-linux-gnu), Single-Server Edition (126 GB total memory, 58 GB memory in use)
Data on this page belongs to its respective rights holders.
Virtuoso Faceted Browser Copyright © 2009-2024 OpenLink Software