About: Automatizace měření výstupních charakteristik submikronových tranzistorů MOSFET v héliovém kryostatu

Facets (new session)
Description
Metadata
Settings
- owl:sameAs
- Inference Rule:

About: Automatizace měření výstupních charakteristik submikronových tranzistorů MOSFET v héliovém kryostatu Goto Sponge NotDistinct Permalink

An Entity of Type : http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/Vysledek, within Data Space : linked.opendata.cz associated with source document(s)

Attributes	Values
rdf:type	skos:Concept http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/Vysledek
rdfs:seeAlso	http://www.ufyz.feec.vutbr.cz/veda-a-vyzkum/produkty/automatizace-mereni-vystupnich-charakteristik-submikronovych-tranzistoru-MOSFET-v-heliovem-kryostatu
Description	Tento software byl navržen za účelem optimalizace a automatizace měření stejnosměrných charakteristik submikronových tranzistorů MOSFET s různými rozměry kanálů na héliovém kryostatu v širokém teplotním rozsahu od 60 do 300 K. Tento software byl navržen za účelem optimalizace a automatizace měření stejnosměrných charakteristik submikronových tranzistorů MOSFET s různými rozměry kanálů na héliovém kryostatu v širokém teplotním rozsahu od 60 do 300 K. (en) Tento software byl navržen za účelem optimalizace a automatizace měření stejnosměrných charakteristik submikronových tranzistorů MOSFET s různými rozměry kanálů na héliovém kryostatu v širokém teplotním rozsahu od 60 do 300 K. (cs)
Title	Automatizace měření výstupních charakteristik submikronových tranzistorů MOSFET v héliovém kryostatu Automatizace měření výstupních charakteristik submikronových tranzistorů MOSFET v héliovém kryostatu (cs) Automatization measurement of output characteristics submicron MOSFET in helium cryostat (en)
skos:prefLabel	Automatizace měření výstupních charakteristik submikronových tranzistorů MOSFET v héliovém kryostatu Automatizace měření výstupních charakteristik submikronových tranzistorů MOSFET v héliovém kryostatu (cs) Automatization measurement of output characteristics submicron MOSFET in helium cryostat (en)
skos:notation	RIV/00216305:26220/12:PR26345!RIV14-MSM-26220___
http://linked.open...avai/predkladatel	Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií
http://linked.open...avai/riv/aktivita	P
http://linked.open...avai/riv/aktivity	P(ED2.1.00/03.0072), P(TA02020998)
http://linked.open...vai/riv/dodaniDat	2014
http://linked.open...aciTvurceVysledku	Majzner, Jiří Grmela, Lubomír Chvátal, Miloš
http://linked.open.../riv/druhVysledku	R - Software
http://linked.open...iv/duvernostUdaju	S - Úplné a pravdivé údaje nepodléhající ochraně podle zvláštních právních předpisů
http://linked.open...onomickeParametry	Kryostatické měření je časově náročné a pro měření submikronových tranzistorů může trvat až několik dní. Tento software zkracuje dobu měření, protože měří neustále 24 hodin denně. Tím se snižují provozní náklady na celý systém a snižují se i finanční náklady pro obsluhu.
http://linked.open...titaPredkladatele	Vysoké učení technické v Brně / Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií
http://linked.open...dnocenehoVysledku	124229
http://linked.open...ai/riv/idVysledku	RIV/00216305:26220/12:PR26345
http://linked.open...terniIdentifikace	HS181257046
http://linked.open...riv/jazykVysledku	cze - čeština
http://linked.open.../riv/klicovaSlova	Héliový kryostat, submikronový tranzistor MOSFET, výstupní a převodní charakteristika, polovodičový tester Keithley 4200SC, automatizace, LabVIEW. (en)
http://linked.open.../riv/klicoveSlovo	Héliový kryostat LabVIEW. automatizace polovodičový tester Keithley 4200SC submikronový tranzistor MOSFET výstupní a převodní charakteristika
http://linked.open...ontrolniKodProRIV	[11E9E6234632]
http://linked.open...in/vavai/riv/obor	JB
http://linked.open...ichTvurcuVysledku	3 (xsd:int)
http://linked.open...cetTvurcuVysledku	3 (xsd:int)
http://linked.open...vavai/riv/projekt	Centre of sensor, information and communication systems Low-temperature 5 kW alkaline fuel cell for stationary applications
http://linked.open...UplatneniVysledku	2012
http://linked.open...echnickeParametry	Tento software byl navržen za účelem optimalizace a automatizace měření stejnosměrných charakteristik submikronových tranzistorů MOSFET s různými rozměry kanálů na héliovém kryostatu v širokém teplotním rozsahu od 60 do 300 K. Kryostatická laboratoř se skládá z několika přístrojů, které musí být při měření postupně ovládány. Velký přínos tohoto softwaru je ten, že se kryostatický systém plně zautomatizoval, tzn., že uživatel na začátku nastaví počáteční podmínky a jediným tlačítkem spustí celé měření. Po skončení měření přijde uživateli informační e-mail, aby popřípadě mohl vyměnit vzorky a pokračovat s měřením dál.
http://linked.open...iv/tvurceVysledku	Grmela, Lubomír Majzner, Jiří Chvátal, Miloš
http://linked.open...avai/riv/vlastnik	Ústav fyziky
http://linked.open...itiJinymSubjektem	N - Nabytí licence není nutné (výsledek není licencován)
http://localhost/t...ganizacniJednotka	26220

Faceted Search & Find service v1.16.118 as of Jun 21 2024

Alternative Linked Data Documents: ODE Content Formats:

RDF

ODATA

Microdata

About

OpenLink Virtuoso version 07.20.3240 as of Jun 21 2024, on Linux (x86_64-pc-linux-gnu), Single-Server Edition (126 GB total memory, 117 GB memory in use)
Data on this page belongs to its respective rights holders.
Virtuoso Faceted Browser Copyright © 2009-2024 OpenLink Software