About: Vliv vázaného náboje na velikost povrchového napětí v pasivačních vrstvách křemíkových solárních článků

Facets (new session)
Description
Metadata
Settings
- owl:sameAs
- Inference Rule:

About: Vliv vázaného náboje na velikost povrchového napětí v pasivačních vrstvách křemíkových solárních článků Goto Sponge NotDistinct Permalink

An Entity of Type : http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/Vysledek, within Data Space : linked.opendata.cz associated with source document(s)

Attributes	Values
rdf:type	skos:Concept http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/Vysledek
Description	Náplní článku je rešerše možností experimentálního měření vázaného náboje v tenkých dielektrických vrstvách pomocí povrchové napětí a popis úvodních experimentů. V práci jsou popsána experimentální měření dielektrických vrstev Al2O3, AlN, SiNx, Y2O3 deponovaných na krystalickém křemíku. Povrchové napětí (tj. volná povrchová energie) je vyhodnocováno z velikosti úhlu smáčení (kontaktního úhlu) pomocí See Systemu. Náplní článku je rešerše možností experimentálního měření vázaného náboje v tenkých dielektrických vrstvách pomocí povrchové napětí a popis úvodních experimentů. V práci jsou popsána experimentální měření dielektrických vrstev Al2O3, AlN, SiNx, Y2O3 deponovaných na krystalickém křemíku. Povrchové napětí (tj. volná povrchová energie) je vyhodnocováno z velikosti úhlu smáčení (kontaktního úhlu) pomocí See Systemu. (cs) This work is deal with development of alternative method measuring fixed charge in thin dielectric layers by surface tension. Presence fixed charge takes effect so-called Back Surface Field (BFS), which helps to decrease surface recombination velocity on back side of solar cell. In work is described experimental measuring on dielectric layers Al2O3, AlN, SiNx, Y2O3 deposit on crystalline silicon wafers. Surface tension (it is the same like surface free energy) is analyzed from contact angle size using See System. (en)
Title	Vliv vázaného náboje na velikost povrchového napětí v pasivačních vrstvách křemíkových solárních článků Fixed-charge measurement of passivation layers for silicon solar cells (en) Vliv vázaného náboje na velikost povrchového napětí v pasivačních vrstvách křemíkových solárních článků (cs)
skos:prefLabel	Vliv vázaného náboje na velikost povrchového napětí v pasivačních vrstvách křemíkových solárních článků Fixed-charge measurement of passivation layers for silicon solar cells (en) Vliv vázaného náboje na velikost povrchového napětí v pasivačních vrstvách křemíkových solárních článků (cs)
skos:notation	RIV/00216305:26220/10:PU90214!RIV11-MSM-26220___
http://linked.open...avai/riv/aktivita	Z
http://linked.open...avai/riv/aktivity	Z(MSM0021630503)
http://linked.open...vai/riv/dodaniDat	2011
http://linked.open...aciTvurceVysledku	Mojrová, Barbora Boušek, Jaroslav Hégr, Ondřej
http://linked.open.../riv/druhVysledku	D - Článek ve sborníku
http://linked.open...iv/duvernostUdaju	S - Úplné a pravdivé údaje nepodléhající ochraně podle zvláštních právních předpisů
http://linked.open...titaPredkladatele	Vysoké učení technické v Brně / Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií
http://linked.open...dnocenehoVysledku	296434
http://linked.open...ai/riv/idVysledku	RIV/00216305:26220/10:PU90214
http://linked.open...riv/jazykVysledku	cze - čeština
http://linked.open.../riv/klicovaSlova	Passivation layers, Antireflection coating, Fixed charge, Back surface field, Surface free energy, Surface tension, Contact angle, See System, Solar cell (en)
http://linked.open.../riv/klicoveSlovo	Surface free energy Solar cell Surface tension Contact angle Antireflection coating Back surface field Fixed charge Passivation layers See System
http://linked.open...ontrolniKodProRIV	[589C13CD128F]
http://linked.open...v/mistoKonaniAkce	Brno
http://linked.open...i/riv/mistoVydani	Brno
http://linked.open...i/riv/nazevZdroje	Mikrosyn. Nové trendy v mikroelektonických systémech a nanotechnologiích
http://linked.open...in/vavai/riv/obor	JA
http://linked.open...ichTvurcuVysledku	3 (xsd:int)
http://linked.open...cetTvurcuVysledku	3 (xsd:int)
http://linked.open...UplatneniVysledku	2010
http://linked.open...iv/tvurceVysledku	Boušek, Jaroslav Hégr, Ondřej Mojrová, Barbora
http://linked.open...vavai/riv/typAkce	CST - Celostátní
http://linked.open.../riv/zahajeniAkce	2010-12-14 (xsd:date)
http://linked.open...n/vavai/riv/zamer	Nové trendy v mikroelektronických systémech a nanotechnologiích (MIKROSYN)
number of pages	5 (xsd:int)
http://purl.org/ne...btex#hasPublisher	Novpress
https://schema.org/isbn	978-80-214-4229-0
http://localhost/t...ganizacniJednotka	26220
is http://linked.open...avai/riv/vysledek of	Vliv vázaného náboje na velikost povrchového napětí v pasivačních vrstvách křemíkových solárních článků Vliv vázaného náboje na velikost povrchového napětí v pasivačních vrstvách křemíkových solárních článků Vliv vázaného náboje na velikost povrchového napětí v pasivačních vrstvách křemíkových solárních článků

Faceted Search & Find service v1.16.118 as of Jun 21 2024

Alternative Linked Data Documents: ODE Content Formats:

RDF

ODATA

Microdata

About

OpenLink Virtuoso version 07.20.3240 as of Jun 21 2024, on Linux (x86_64-pc-linux-gnu), Single-Server Edition (126 GB total memory, 48 GB memory in use)
Data on this page belongs to its respective rights holders.
Virtuoso Faceted Browser Copyright © 2009-2024 OpenLink Software