Attributes | Values |
---|
rdf:type
| |
Description
| - A simple method using fast transients has been described in our previous work [1] and then demonstrated for the set of different quality photovoltaic solar cells [2]. Cells parameters as the reverse breakdown voltage, depletion layer width and junction capacitance, serial and parallel resistance and lifetime of minority carriers in bulk can be taken easily. New approach uses PC controlled equipment to drive the experiment and data acquisition. Collected data are then post-processed by a set of user programs. Whereas in case of monocrystalline and multicrystalline silicon cells there is a need for a large current to cell excitation and the lifetime of minority carriers in bulk is always larger than some tens of microseconds, in case of amorphous and microcrystalline test cells the area of the cell is usually much smaller and consequently the current needed is several orders lower. On the other hand because of very short lifetime of minority carriers in case of amorphous and microcrystalline silicone ce (en)
- Dynamické testování solárních článků bylo popsáno v naší předcházející práci. Umožňuje poměrně snadné získání důležitých parametrů solárních fotovoltaických článků jako je průrazné napětí článku, geometrická kapacita přechodu, šířka přechodu, paralelní a sériový odpor a odhadnout dobu života nadbytečných minoritních nosičů v bázi u článků na monokrystalických a multikrystalických substrátech a v oblasti P u tenkovrstvých článků se strukturou PIN. Nová verze zařízení využívá k řízení měření a sběru dat počítače PC. Data mohou být následně zpracována pomocí specializovaných programů. Zařízení pro dynamické testování solárních článků je jednoduché a využívá běžně dostupné měřící přístroje.
- Dynamické testování solárních článků bylo popsáno v naší předcházející práci. Umožňuje poměrně snadné získání důležitých parametrů solárních fotovoltaických článků jako je průrazné napětí článku, geometrická kapacita přechodu, šířka přechodu, paralelní a sériový odpor a odhadnout dobu života nadbytečných minoritních nosičů v bázi u článků na monokrystalických a multikrystalických substrátech a v oblasti P u tenkovrstvých článků se strukturou PIN. Nová verze zařízení využívá k řízení měření a sběru dat počítače PC. Data mohou být následně zpracována pomocí specializovaných programů. Zařízení pro dynamické testování solárních článků je jednoduché a využívá běžně dostupné měřící přístroje. (cs)
|
Title
| - Rychlé testování solárních článků pomocí tranzientních vodivostních metod
- Fast transient method for testing of solar cells (en)
- Rychlé testování solárních článků pomocí tranzientních vodivostních metod (cs)
|
skos:prefLabel
| - Rychlé testování solárních článků pomocí tranzientních vodivostních metod
- Fast transient method for testing of solar cells (en)
- Rychlé testování solárních článků pomocí tranzientních vodivostních metod (cs)
|
skos:notation
| - RIV/00216305:26220/08:PU78898!RIV10-MSM-26220___
|
http://linked.open...avai/riv/aktivita
| |
http://linked.open...avai/riv/aktivity
| |
http://linked.open...vai/riv/dodaniDat
| |
http://linked.open...aciTvurceVysledku
| |
http://linked.open.../riv/druhVysledku
| |
http://linked.open...iv/duvernostUdaju
| |
http://linked.open...titaPredkladatele
| |
http://linked.open...dnocenehoVysledku
| |
http://linked.open...ai/riv/idVysledku
| - RIV/00216305:26220/08:PU78898
|
http://linked.open...riv/jazykVysledku
| |
http://linked.open.../riv/klicovaSlova
| - Silicon solar cells, lifetime, breakdown voltage. (en)
|
http://linked.open.../riv/klicoveSlovo
| |
http://linked.open...ontrolniKodProRIV
| |
http://linked.open...v/mistoKonaniAkce
| |
http://linked.open...i/riv/mistoVydani
| |
http://linked.open...i/riv/nazevZdroje
| - 3. Česká fotovoltaická konference, sborník příspěvků
|
http://linked.open...in/vavai/riv/obor
| |
http://linked.open...ichTvurcuVysledku
| |
http://linked.open...cetTvurcuVysledku
| |
http://linked.open...UplatneniVysledku
| |
http://linked.open...iv/tvurceVysledku
| - Poruba, Aleš
- Boušek, Jaroslav
- Hégr, Ondřej
|
http://linked.open...vavai/riv/typAkce
| |
http://linked.open.../riv/zahajeniAkce
| |
http://linked.open...n/vavai/riv/zamer
| |
number of pages
| |
http://purl.org/ne...btex#hasPublisher
| |
https://schema.org/isbn
| |
http://localhost/t...ganizacniJednotka
| |
is http://linked.open...avai/riv/vysledek
of | |