About: Metodika měření šumu solárních článků

Facets (new session)
Description
Metadata
Settings
- owl:sameAs
- Inference Rule:

About: Metodika měření šumu solárních článků Goto Sponge NotDistinct Permalink

An Entity of Type : http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/Vysledek, within Data Space : linked.opendata.cz associated with source document(s)

Attributes	Values
rdf:type	skos:Concept http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/Vysledek
Description	Jednou z cest jak můžeme získat informace o kvalitě PN přechodu nedestruktivní metodou je pozorování mikroplazmatického šumu. Mikroplazmatický šum se typicky vyskytuje v polovodičových součástkách s PN přechody jako například diody, LED diody a solární články. Použití měření mikroplazmatického šumu pro studium solárních článků je ukázáno v tom to článku. Budou popisovány závislosti šumového proudu na závěrném napětí a souvislosti s VA charakteristikami. Dalším sledovaným parametrem mikroplazmatického šumu jsou statistické charakteristiky trvání impulzů a jejich vzájemného rozestupu. Z těchto charakteristik můžeme následně získat součinitele g a r popisující dvoustavový generačně rekombinační proces. Jednou z cest jak můžeme získat informace o kvalitě PN přechodu nedestruktivní metodou je pozorování mikroplazmatického šumu. Mikroplazmatický šum se typicky vyskytuje v polovodičových součástkách s PN přechody jako například diody, LED diody a solární články. Použití měření mikroplazmatického šumu pro studium solárních článků je ukázáno v tom to článku. Budou popisovány závislosti šumového proudu na závěrném napětí a souvislosti s VA charakteristikami. Dalším sledovaným parametrem mikroplazmatického šumu jsou statistické charakteristiky trvání impulzů a jejich vzájemného rozestupu. Z těchto charakteristik můžeme následně získat součinitele g a r popisující dvoustavový generačně rekombinační proces. (cs) One way how we can get information about PN junction quality in non-destructive diagnostics is microplasma noise observation. The microplasma noise typically occurs in semiconductor devices with a PN junction e.g. silicon diodes, LED diodes (GaAsP) and solar cells. Usage of the microplasma noise measurement for studding the solar cells is shown in this paper. The noise current dependence of the reverse voltage and relationship with VA characteristics may be observed. One of the parameter in view of the microplasma noise is statistical characteristics of impulse time duration and impulse time separation. Coefficients g and r characterizing two-state stochastic generation-recombination type process may be obtained from the statistical characteristics. (en)
Title	Metodika měření šumu solárních článků Metodika měření šumu solárních článků (cs) Solar cell noise measurement methodology (en)
skos:prefLabel	Metodika měření šumu solárních článků Metodika měření šumu solárních článků (cs) Solar cell noise measurement methodology (en)
skos:notation	RIV/00216305:26220/07:PU70070!RIV08-GA0-26220___
http://linked.open.../vavai/riv/strany	45-48
http://linked.open...avai/riv/aktivita	P Z
http://linked.open...avai/riv/aktivity	P(GA102/06/1551), Z(MSM0021630503)
http://linked.open...vai/riv/dodaniDat	2008
http://linked.open...aciTvurceVysledku	Škarvada, Pavel Koktavý, Pavel Macků, Robert
http://linked.open.../riv/druhVysledku	D - Článek ve sborníku
http://linked.open...iv/duvernostUdaju	S - Úplné a pravdivé údaje nepodléhající ochraně podle zvláštních právních předpisů
http://linked.open...titaPredkladatele	Vysoké učení technické v Brně / Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií
http://linked.open...dnocenehoVysledku	433290
http://linked.open...ai/riv/idVysledku	RIV/00216305:26220/07:PU70070
http://linked.open...riv/jazykVysledku	cze - čeština
http://linked.open.../riv/klicovaSlova	Microplasma noise, Impulse current, VA characteristics, Impulse duration, Impulse separation, Statistical characteristics, PN junction (en)
http://linked.open.../riv/klicoveSlovo	PN junction Impulse current Microplasma noise Impulse duration Impulse separation Statistical characteristics VA characteristics
http://linked.open...ontrolniKodProRIV	[DE8F3817E31F]
http://linked.open...v/mistoKonaniAkce	Nečtiny
http://linked.open...i/riv/mistoVydani	Plzeň
http://linked.open...i/riv/nazevZdroje	Elektronika a informatika 2007
http://linked.open...in/vavai/riv/obor	BM
http://linked.open...ichTvurcuVysledku	3 (xsd:int)
http://linked.open...cetTvurcuVysledku	3 (xsd:int)
http://linked.open...vavai/riv/projekt	Diagnostics of PN junction electronic devices by means of microplasma noise evaluation
http://linked.open...UplatneniVysledku	2007
http://linked.open...iv/tvurceVysledku	Koktavý, Pavel Macků, Robert Škarvada, Pavel
http://linked.open...vavai/riv/typAkce	CST - Celostátní
http://linked.open.../riv/zahajeniAkce	2007-10-31 (xsd:date)
http://linked.open...n/vavai/riv/zamer	Nové trendy v mikroelektronických systémech a nanotechnologiích (MIKROSYN)
number of pages	4 (xsd:int)
http://purl.org/ne...btex#hasPublisher	Západočeská univerzita v Plzni
https://schema.org/isbn	978-80-7043-572-4
http://localhost/t...ganizacniJednotka	26220
is http://linked.open...avai/riv/vysledek of	Metodika měření šumu solárních článků Metodika měření šumu solárních článků Metodika měření šumu solárních článků

Faceted Search & Find service v1.16.118 as of Jun 21 2024

Alternative Linked Data Documents: ODE Content Formats:

RDF

ODATA

Microdata

About

OpenLink Virtuoso version 07.20.3240 as of Jun 21 2024, on Linux (x86_64-pc-linux-gnu), Single-Server Edition (126 GB total memory, 77 GB memory in use)
Data on this page belongs to its respective rights holders.
Virtuoso Faceted Browser Copyright © 2009-2024 OpenLink Software