About: RTS and 1/f Noise in Submicron MOSFETs

Facets (new session)
Description
Metadata
Settings
- owl:sameAs
- Inference Rule:

About: RTS and 1/f Noise in Submicron MOSFETs Goto Sponge NotDistinct Permalink

An Entity of Type : http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/Vysledek, within Data Space : linked.opendata.cz associated with source document(s)

Attributes	Values
rdf:type	skos:Concept http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/Vysledek
Description	Byla měřena závislost RTS šumu na intenzitě el. pole a teplotě. Na základě analýzy zbytkového proudu přes izolační vrstvu pod hradlem byl stanoven pásový diagram celé struktury. (cs) RTS noise was measured as a function of electric field and temperature. From the analysis of gate insulating layer current the energy band diagram of all structure was determined. RTS noise was measured as a function of electric field and temperature. From the analysis of gate insulating layer current the energy band diagram of all structure was determined. (en)
Title	RTS and 1/f Noise in Submicron MOSFETs RTS a 1/f Šum v submikronových MOSFETech (cs) RTS and 1/f Noise in Submicron MOSFETs (en)
skos:prefLabel	RTS and 1/f Noise in Submicron MOSFETs RTS a 1/f Šum v submikronových MOSFETech (cs) RTS and 1/f Noise in Submicron MOSFETs (en)
skos:notation	RIV/00216305:26220/07:PU69176!RIV08-GA0-26220___
http://linked.open.../vavai/riv/strany	71-74
http://linked.open...avai/riv/aktivita	P Z
http://linked.open...avai/riv/aktivity	P(GA102/05/2095), Z(MSM0021630503)
http://linked.open...vai/riv/dodaniDat	2008
http://linked.open...aciTvurceVysledku	Havránek, Jan Hlávka, Jan Pavelka, Jan Šikula, Josef
http://linked.open.../riv/druhVysledku	D - Článek ve sborníku
http://linked.open...iv/duvernostUdaju	S - Úplné a pravdivé údaje nepodléhající ochraně podle zvláštních právních předpisů
http://linked.open...titaPredkladatele	Vysoké učení technické v Brně / Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií
http://linked.open...dnocenehoVysledku	448613
http://linked.open...ai/riv/idVysledku	RIV/00216305:26220/07:PU69176
http://linked.open...riv/jazykVysledku	eng - angličtina
http://linked.open.../riv/klicovaSlova	RTS noise, 1/f noise, MOSFET (en)
http://linked.open.../riv/klicoveSlovo	1/f noise MOSFET RTS noise
http://linked.open...ontrolniKodProRIV	[23ACAEAFC232]
http://linked.open...v/mistoKonaniAkce	Tokyo
http://linked.open...i/riv/mistoVydani	Tokio
http://linked.open...i/riv/nazevZdroje	Proc. ICNF 2007 AIP Conf. Proc. Vol. 922
http://linked.open...in/vavai/riv/obor	JA
http://linked.open...ichTvurcuVysledku	4 (xsd:int)
http://linked.open...cetTvurcuVysledku	6 (xsd:int)
http://linked.open...vavai/riv/projekt	Noise sources in semiconductor materials and devices
http://linked.open...UplatneniVysledku	2007
http://linked.open...iv/tvurceVysledku	Pavelka, Jan Tacano, Munecazu Toita, Masato Šikula, Josef Havránek, Jan Hlávka, Jan
http://linked.open...vavai/riv/typAkce	WRD - Světová
http://linked.open.../riv/zahajeniAkce	2007-09-09 (xsd:date)
http://linked.open...n/vavai/riv/zamer	Nové trendy v mikroelektronických systémech a nanotechnologiích (MIKROSYN)
number of pages	4 (xsd:int)
http://purl.org/ne...btex#hasPublisher	AIP
https://schema.org/isbn	978-0-7354-0432-8
http://localhost/t...ganizacniJednotka	26220
is http://linked.open...avai/riv/vysledek of	RTS and 1/f Noise in Submicron MOSFETs RTS and 1/f Noise in Submicron MOSFETs RTS and 1/f Noise in Submicron MOSFETs

Faceted Search & Find service v1.16.118 as of Jun 21 2024

Alternative Linked Data Documents: ODE Content Formats:

RDF

ODATA

Microdata

About

OpenLink Virtuoso version 07.20.3240 as of Jun 21 2024, on Linux (x86_64-pc-linux-gnu), Single-Server Edition (126 GB total memory, 112 GB memory in use)
Data on this page belongs to its respective rights holders.
Virtuoso Faceted Browser Copyright © 2009-2024 OpenLink Software