About: Kriteria kvality STM a SNOM

Facets (new session)
Description
Metadata
Settings
- owl:sameAs
- Inference Rule:

About: Kriteria kvality STM a SNOM Goto Sponge NotDistinct Permalink

An Entity of Type : http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/Vysledek, within Data Space : linked.opendata.cz associated with source document(s)

Attributes	Values
rdf:type	skos:Concept http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/Vysledek
Description	Článek je zaměřen na kriterium hodnocení metod STM a SNOM v nanotechnologii. Je zde pracováno s pojmem%22 počet stupňů volnosti%22, který je v článku brán jako základní měřítko kvality mikroskopů pracujících v blízkém poli. Článek je zaměřen na kriterium hodnocení metod STM a SNOM v nanotechnologii. Je zde pracováno s pojmem%22 počet stupňů volnosti%22, který je v článku brán jako základní měřítko kvality mikroskopů pracujících v blízkém poli. (cs) The article is focused on an analysis of the general problem of quality criteria in near-field microscopy, i.e. the number of degrees of freedom. The principle of Scanning Near-field Optical Microscopy (SNOM) method and several terms from nanotechnology are also described. (en)
Title	Kriteria kvality STM a SNOM Criteria quality of STM and SNOM (en) Kriteria kvality STM a SNOM (cs)
skos:prefLabel	Kriteria kvality STM a SNOM Criteria quality of STM and SNOM (en) Kriteria kvality STM a SNOM (cs)
skos:notation	RIV/00216305:26220/05:PU51916!RIV06-MSM-26220___
http://linked.open.../vavai/riv/strany	31-34
http://linked.open...avai/riv/aktivita	Z
http://linked.open...avai/riv/aktivity	Z(MSM0021630503)
http://linked.open...vai/riv/dodaniDat	2006
http://linked.open...aciTvurceVysledku	Kala, Jaroslav
http://linked.open.../riv/druhVysledku	D - Článek ve sborníku
http://linked.open...iv/duvernostUdaju	S - Úplné a pravdivé údaje nepodléhající ochraně podle zvláštních právních předpisů
http://linked.open...titaPredkladatele	Vysoké učení technické v Brně / Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií
http://linked.open...dnocenehoVysledku	527396
http://linked.open...ai/riv/idVysledku	RIV/00216305:26220/05:PU51916
http://linked.open...riv/jazykVysledku	cze - čeština
http://linked.open.../riv/klicovaSlova	STM, SNOM, Quality (en)
http://linked.open.../riv/klicoveSlovo	Quality STM SNOM
http://linked.open...ontrolniKodProRIV	[30B37767696A]
http://linked.open...v/mistoKonaniAkce	Nečtiny
http://linked.open...i/riv/mistoVydani	Plzeň
http://linked.open...i/riv/nazevZdroje	Elektrotechnika ainformatika 2005
http://linked.open...in/vavai/riv/obor	JA
http://linked.open...ichTvurcuVysledku	1 (xsd:int)
http://linked.open...cetTvurcuVysledku	1 (xsd:int)
http://linked.open...UplatneniVysledku	2005
http://linked.open...iv/tvurceVysledku	Kala, Jaroslav
http://linked.open...vavai/riv/typAkce	CST - Celostátní
http://linked.open.../riv/zahajeniAkce	2005-11-02 (xsd:date)
http://linked.open...n/vavai/riv/zamer	Nové trendy v mikroelektronických systémech a nanotechnologiích (MIKROSYN)
number of pages	4 (xsd:int)
http://purl.org/ne...btex#hasPublisher	Západočeská univerzita v Plzni. Fakulta elektrotechnická
https://schema.org/isbn	80-7043-375-2
http://localhost/t...ganizacniJednotka	26220
is http://linked.open...avai/riv/vysledek of	Kriteria kvality STM a SNOM

Faceted Search & Find service v1.16.118 as of Jun 21 2024

Alternative Linked Data Documents: ODE Content Formats:

RDF

ODATA

Microdata

About

OpenLink Virtuoso version 07.20.3240 as of Jun 21 2024, on Linux (x86_64-pc-linux-gnu), Single-Server Edition (126 GB total memory, 112 GB memory in use)
Data on this page belongs to its respective rights holders.
Virtuoso Faceted Browser Copyright © 2009-2024 OpenLink Software