This paper is dealing with principle of Scanning Tunnelling Microscopy (STM). Is focused on common description of this Method. Article describes two modes of TS 3130 which is instrument made by Tescan and among others is the article engaged in disturbing effect on a probe-sample system. Last part of this document is pursuit to nanomanipulator made by PI (physic Instrument). (cs)
Tento dokument je zaměřen na obecný popis metody STM. Článek popisuje STM mikroskop TS3130 od firmy Tescan. Dále jsou uvedeny možnosti vzniku rušení systému prvek-sonda. Poslední část dokumentu je věnována nanomanipulátoru od firmy PI.
Tento dokument je zaměřen na obecný popis metody STM. Článek popisuje STM mikroskop TS3130 od firmy Tescan. Dále jsou uvedeny možnosti vzniku rušení systému prvek-sonda. Poslední část dokumentu je věnována nanomanipulátoru od firmy PI. (en)