About: The influence of the probe tip-sample distance on the resolution of Scanning near-field optical microscope

Facets (new session)
Description
Metadata
Settings
- owl:sameAs
- Inference Rule:

About: The influence of the probe tip-sample distance on the resolution of Scanning near-field optical microscope Goto Sponge NotDistinct Permalink

An Entity of Type : http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/Vysledek, within Data Space : linked.opendata.cz associated with source document(s)

Attributes	Values
rdf:type	skos:Concept http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/Vysledek
Description	Better lateral resolution which depends on the tip dimensions and its distance from the sample is a main goal of all probe microscopes. The proposed aperture scanning near-field optical microscope (SNOM) uses a metallized probe with aperture diameter of60 nm, the vertical position of which is controlled by regulation of the shear force loop current between the probe and the sample and by computer-generated bias voltage. The SNOM topographic images of the grating taken in several probe-sample distances are compared with AFM image. The experimental results demonstrate a strong dependence of the near-field image on the probe-sample distance. The comparison of near-field imaging characteristics with the spatial-frequency spectra of images are shown. (en) Základním problémem všech sondových mikroskopů je jejich příčná rozlišovací schopnost závisející zejména na rozměrech hrotu sondy a na její vzdálenosti od vzorku. Zkoumaný aperturní rastrovací mikroskop v optickém blízkém poli (SNOM) používá pokovenou vláknovou sondu s aperturou 60 nm. Vertikální vzdálenost sondy od předmětu je řízena pomocí střižných sil a nastavuje se pomocí programovatelného předpětí ve smyčce zpětné vazby sondy. Topografické obrazy mřížky získané v různých vzdálenostech jsou porovnáány s AFM obrazem. Experimentální výsledky ukazují značnou závislost obrazů v blízkém poli na vzdálenosti sondy od vzorku. Zobrazovací charakteristiky SNOM jsou porovnány se spektrem prostorových frekvencí obrazu. Základním problémem všech sondových mikroskopů je jejich příčná rozlišovací schopnost závisející zejména na rozměrech hrotu sondy a na její vzdálenosti od vzorku. Zkoumaný aperturní rastrovací mikroskop v optickém blízkém poli (SNOM) používá pokovenou vláknovou sondu s aperturou 60 nm. Vertikální vzdálenost sondy od předmětu je řízena pomocí střižných sil a nastavuje se pomocí programovatelného předpětí ve smyčce zpětné vazby sondy. Topografické obrazy mřížky získané v různých vzdálenostech jsou porovnáány s AFM obrazem. Experimentální výsledky ukazují značnou závislost obrazů v blízkém poli na vzdálenosti sondy od vzorku. Zobrazovací charakteristiky SNOM jsou porovnány se spektrem prostorových frekvencí obrazu. (cs)
Title	The influence of the probe tip-sample distance on the resolution of Scanning near-field optical microscope (en) Vliv vzdálenosti hrot sondy-vzorek na rozlišovací schopnost rastrovacího optického mikroskopu v blízkém poli Vliv vzdálenosti hrot sondy-vzorek na rozlišovací schopnost rastrovacího optického mikroskopu v blízkém poli (cs)
skos:prefLabel	The influence of the probe tip-sample distance on the resolution of Scanning near-field optical microscope (en) Vliv vzdálenosti hrot sondy-vzorek na rozlišovací schopnost rastrovacího optického mikroskopu v blízkém poli Vliv vzdálenosti hrot sondy-vzorek na rozlišovací schopnost rastrovacího optického mikroskopu v blízkém poli (cs)
skos:notation	RIV/00216305:26220/04:PU43897!RIV/2005/MSM/262205/N
http://linked.open.../vavai/riv/strany	242-244
http://linked.open...avai/riv/aktivita	P Z
http://linked.open...avai/riv/aktivity	P(ME 544), Z(MSM 262200022)
http://linked.open...iv/cisloPeriodika	9
http://linked.open...vai/riv/dodaniDat	2005
http://linked.open...aciTvurceVysledku	Liška, Miroslav Dobisová, Markéta Tománek, Pavel
http://linked.open.../riv/druhVysledku	J - Článek v odborném periodiku
http://linked.open...iv/duvernostUdaju	S - Úplné a pravdivé údaje nepodléhající ochraně podle zvláštních právních předpisů
http://linked.open...titaPredkladatele	Vysoké učení technické v Brně / Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií
http://linked.open...dnocenehoVysledku	593134
http://linked.open...ai/riv/idVysledku	RIV/00216305:26220/04:PU43897
http://linked.open...riv/jazykVysledku	cze - čeština
http://linked.open.../riv/klicovaSlova	Scanning near-field optical microscopy, tip-sample distance, resolution (en)
http://linked.open.../riv/klicoveSlovo	Scanning near-field optical microscopy resolution tip-sample distance
http://linked.open...odStatuVydavatele	CZ - Česká republika
http://linked.open...ontrolniKodProRIV	[04FF4FD8079D]
http://linked.open...i/riv/nazevZdroje	Jemná mechanika a optika
http://linked.open...in/vavai/riv/obor	BH
http://linked.open...ichTvurcuVysledku	3 (xsd:int)
http://linked.open...cetTvurcuVysledku	3 (xsd:int)
http://linked.open...vavai/riv/projekt	http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/projekt/ME%20544
http://linked.open...UplatneniVysledku	2004
http://linked.open...v/svazekPeriodika	49
http://linked.open...iv/tvurceVysledku	Tománek, Pavel Liška, Miroslav Benešová, Markéta
http://linked.open...n/vavai/riv/zamer	http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/zamer/MSM%20262200022
issn	0447-6441
number of pages	3 (xsd:int)
http://localhost/t...ganizacniJednotka	26220

Faceted Search & Find service v1.16.116 as of Feb 22 2024

Alternative Linked Data Documents: ODE Content Formats:

RDF

ODATA

Microdata

About

OpenLink Virtuoso version 07.20.3239 as of Feb 22 2024, on Linux (x86_64-pc-linux-gnu), Single-Server Edition (126 GB total memory, 82 GB memory in use)
Data on this page belongs to its respective rights holders.
Virtuoso Faceted Browser Copyright © 2009-2024 OpenLink Software