About: *Využití transportních a šumových charakteristik pro testování kvality fotovoltaických článků

Facets (new session)
Description
Metadata
Settings
- owl:sameAs
- Inference Rule:

About: *Využití transportních a šumových charakteristik pro testování kvality fotovoltaických článků Goto Sponge NotDistinct Permalink

An Entity of Type : http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/Vysledek, within Data Space : linked.opendata.cz associated with source document(s)

Attributes	Values
rdf:type	skos:Concept http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/Vysledek
Description	One of the method used in diagnostic and prediction of silicon solar cell reliability is based on the noise measurements of the cell or test structures. Where the faileres of the cell device in the beginning of opereting life are influeced by defects which are the results of rough errors in the manufacturing processes and these components can be removed during screening steps. (en) viz anotace v angličtině *viz anotace v angličtině (cs)
Title	Využití transportních a šumových charakteristik pro testování kvality fotovoltaických článků Využití transportních a šumových charakteristik pro testování kvality fotovoltaických článků (cs) *Using of transport and noise characteristic in the testing of photovoltaic cells (en)
skos:prefLabel	Využití transportních a šumových charakteristik pro testování kvality fotovoltaických článků Využití transportních a šumových charakteristik pro testování kvality fotovoltaických článků (cs) *Using of transport and noise characteristic in the testing of photovoltaic cells (en)
skos:notation	RIV/00216305:26220/03:PU39515!RIV06-MSM-26220___
http://linked.open.../vavai/riv/strany	1-26
http://linked.open...avai/riv/aktivita	Z
http://linked.open...avai/riv/aktivity	Z(MSM 262200022)
http://linked.open...iv/cisloPeriodika	3
http://linked.open...vai/riv/dodaniDat	2006
http://linked.open...aciTvurceVysledku	Vaněk, Jiří
http://linked.open.../riv/druhVysledku	J - Článek v odborném periodiku
http://linked.open...iv/duvernostUdaju	C - Předmět podléhá obchodnímu tajemství (§17 až 20 Obchodního zákoníku), ale některé údaje jsou upraveny tak, aby byly zveřejnitelné
http://linked.open...titaPredkladatele	Vysoké učení technické v Brně / Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií
http://linked.open...dnocenehoVysledku	634758
http://linked.open...ai/riv/idVysledku	RIV/00216305:26220/03:PU39515
http://linked.open...riv/jazykVysledku	cze - čeština
http://linked.open.../riv/klicovaSlova	solar cell, photovoltaics, diagnostic, noise, semiconductor, PN junction,U-I characteristics, U-C characteristics, contact noise, thermal noise, 1/f noise, simulation, thermografie (en)
http://linked.open.../riv/klicoveSlovo	U-C characteristics U-I characteristics contact noise thermografie diagnostic photovoltaics thermal noise PN junction 1/f noise simulation solar cell semiconductor noise
http://linked.open...odStatuVydavatele	CZ - Česká republika
http://linked.open...ontrolniKodProRIV	[267DCCDADA44]
http://linked.open...i/riv/nazevZdroje	Vědecké spisy Vysokého učení technického v Brně Edice PhD Thesis
http://linked.open...in/vavai/riv/obor	JA
http://linked.open...ichTvurcuVysledku	1 (xsd:int)
http://linked.open...cetTvurcuVysledku	1 (xsd:int)
http://linked.open...UplatneniVysledku	2003
http://linked.open...v/svazekPeriodika	177
http://linked.open...iv/tvurceVysledku	Vaněk, Jiří
http://linked.open...n/vavai/riv/zamer	http://linked.opendata.cz/resource/domain/vavai/zamer/MSM%20262200022
issn	1213-4198
number of pages	26 (xsd:int)
http://localhost/t...ganizacniJednotka	26220

Faceted Search & Find service v1.16.116 as of Feb 22 2024

Alternative Linked Data Documents: ODE Content Formats:

RDF

ODATA

Microdata

About

OpenLink Virtuoso version 07.20.3239 as of Feb 22 2024, on Linux (x86_64-pc-linux-gnu), Single-Server Edition (126 GB total memory, 67 GB memory in use)
Data on this page belongs to its respective rights holders.
Virtuoso Faceted Browser Copyright © 2009-2024 OpenLink Software