Attributes | Values |
---|
rdf:type
| |
Description
| - Na základě předchozí prací v Laboratoři optické nanometrologie FEKT VUT jsou základními cíli této studie:1.Lokální spektroskopická měření s prostorovým a časovým rozlišení na polovodičových nanostrukturách, 2.Studium interakce sondy s předmětem v případěhybridního SNOM, 3.Diagnostika polovodičových nanostruktur a součástek,4.Studium akcelerovaného stárnutí součástek vedoucí k vyšší spolehlivosti součástek.
- Na základě předchozí prací v Laboratoři optické nanometrologie FEKT VUT jsou základními cíli této studie:1.Lokální spektroskopická měření s prostorovým a časovým rozlišení na polovodičových nanostrukturách, 2.Studium interakce sondy s předmětem v případěhybridního SNOM, 3.Diagnostika polovodičových nanostruktur a součástek,4.Studium akcelerovaného stárnutí součástek vedoucí k vyšší spolehlivosti součástek. (cs)
- Due to the preliminary research activities probes, accomplished during last years at Laboratory of Optical Nanometrology of Faculty of Electrical Engineering and Communication, Brno University of Technology, the main targets of this study are: 1.Spatially and temporary resolved spectroscopic measurement of the local photocurrent in the semiconductor nanostructures. 2.Study of the interaction probe tip - sample in the case of SNOM working in hybrid mode. 3.Diagnostics of semiconductor nanomaterials aand devices. 4.Study of accelerated ageing of structures leading to the better reliability and life of semiconductor devices. (en)
|
Title
| - Semiconductors: local optical and electrical characteristics, ME 544 (en)
- Polovodiče: lokální optické a elektrické vlastnosti, ME 544
- Polovodiče: lokální optické a elektrické vlastnosti, ME 544 (cs)
|
skos:prefLabel
| - Semiconductors: local optical and electrical characteristics, ME 544 (en)
- Polovodiče: lokální optické a elektrické vlastnosti, ME 544
- Polovodiče: lokální optické a elektrické vlastnosti, ME 544 (cs)
|
skos:notation
| - RIV/00216305:26220/02:PU30186!RIV06-MSM-26220___
|
http://linked.open...avai/riv/aktivita
| |
http://linked.open...avai/riv/aktivity
| |
http://linked.open...vai/riv/dodaniDat
| |
http://linked.open...aciTvurceVysledku
| |
http://linked.open.../riv/druhVysledku
| |
http://linked.open...iv/duvernostUdaju
| |
http://linked.open...titaPredkladatele
| |
http://linked.open...dnocenehoVysledku
| |
http://linked.open...ai/riv/idVysledku
| - RIV/00216305:26220/02:PU30186
|
http://linked.open...riv/jazykVysledku
| |
http://linked.open.../riv/klicovaSlova
| - semiconductor, scanning near-field optical microscopy, local optical characteristics, local electrical characteristics, reliability, aging process (en)
|
http://linked.open.../riv/klicoveSlovo
| |
http://linked.open...ontrolniKodProRIV
| |
http://linked.open...i/riv/mistoVydani
| |
http://linked.open...telVyzkumneZpravy
| |
http://linked.open...in/vavai/riv/obor
| |
http://linked.open...ichTvurcuVysledku
| |
http://linked.open...cetTvurcuVysledku
| |
http://linked.open...vavai/riv/projekt
| |
http://linked.open...UplatneniVysledku
| |
http://linked.open...iv/tvurceVysledku
| - Grmela, Lubomír
- Tománek, Pavel
|
http://linked.open...rzeVyzkumneZpravy
| |
number of pages
| |
http://localhost/t...ganizacniJednotka
| |