Attributes | Values |
---|
rdf:type
| |
Description
| - Modern areas of research and technology need the resolution behind the limit given by classical optical and confocal microscopes. Scaning near-field optical microscope (SNOM) enables non-contact, non-destructive local measurement of physical and chemical characteristics of transmission and reflection samples with lateral superresolution better than 100 nm. This feature allows to use the microscope as a power tool for nanotechnological applications. The comparision of transmission and reflection types wiith STM and AFM is provided. (en)
- Moderní oblasti výzkumu a technologie vyžadují rozlišovací schopnost za hranicemi dosažitelnými klasickými optickými mikroskopy, či dokonce konfokálními mikroskopy. Oprický rastrovací mikroskop s lokální sondou, pracující v blízkém poli (SNOM), umožňuje bezkontaktní, nedestruktivní lokální měření fyzickálních i chemických charakteristik transmisních i reflexních vzorků s příčným superrozlišením < 100 nm. To z něj dělá mocný analytický nástroj pro četné nanotechnologické aplikace. Použití transmisního a reflexního typu a jejich porovnání s STM a AFM je ilustrováno v následujících oddílech.
|
Title
| - Optická mikroskopie v blízkém poli - alternativa, či soupeř STM a AFM?
- Optická mikroskopie v blízkém poli - alternativa, či soupeř STM a AFM? (cs)
- Near-field optical microscopy - alternative or rival of STM and AFM? (en)
|
skos:prefLabel
| - Optická mikroskopie v blízkém poli - alternativa, či soupeř STM a AFM?
- Optická mikroskopie v blízkém poli - alternativa, či soupeř STM a AFM? (cs)
- Near-field optical microscopy - alternative or rival of STM and AFM? (en)
|
skos:notation
| - RIV/00216305:26220/01:PU20651!RIV/2002/MSM/262202/N
|
http://linked.open.../vavai/riv/strany
| |
http://linked.open...avai/riv/aktivita
| |
http://linked.open...avai/riv/aktivity
| |
http://linked.open...iv/cisloPeriodika
| |
http://linked.open...vai/riv/dodaniDat
| |
http://linked.open...aciTvurceVysledku
| |
http://linked.open.../riv/druhVysledku
| |
http://linked.open...iv/duvernostUdaju
| |
http://linked.open...titaPredkladatele
| |
http://linked.open...dnocenehoVysledku
| |
http://linked.open...ai/riv/idVysledku
| - RIV/00216305:26220/01:PU20651
|
http://linked.open...riv/jazykVysledku
| |
http://linked.open.../riv/klicovaSlova
| - Near-field optics, scanning near field optical microscope, STM, AFM, applications, internal photoemission, nanolithography, surface plasmons (en)
|
http://linked.open.../riv/klicoveSlovo
| |
http://linked.open...odStatuVydavatele
| |
http://linked.open...ontrolniKodProRIV
| |
http://linked.open...i/riv/nazevZdroje
| - Československý časopis pro fyziku
|
http://linked.open...in/vavai/riv/obor
| |
http://linked.open...ichTvurcuVysledku
| |
http://linked.open...cetTvurcuVysledku
| |
http://linked.open...ocetUcastnikuAkce
| |
http://linked.open...nichUcastnikuAkce
| |
http://linked.open...vavai/riv/projekt
| |
http://linked.open...UplatneniVysledku
| |
http://linked.open...v/svazekPeriodika
| |
http://linked.open...iv/tvurceVysledku
| |
issn
| |
number of pages
| |
http://localhost/t...ganizacniJednotka
| |